Далее пучок лучей преломляется зеркалом 4 и цилиндрической линзой 5 собирается в плоскости щелевой диафрагмы 6. Цилиндрический объектив 7 формирует параллельный пучок и светоделителем 8 преломляется к второму цилиндрическому объективу 9, формирующему прерз етную светящуюся линию. За цилиндрическим объективом 9 расположена концентрическая цилиндрическая линза 10 выпуклей поверхностью к светоделителю 8. Вогнутая сторона концентрической цилиндрической линзы 10 является эталонной поверхностью интерферометра. Ось эталонной цилинд1
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля цилиндрических
поверхностей.
Цель изобретения - обеспечение контроля протяженных цилиндрических поверхностей с размером цилиндрической образующей до 400 мм.
На фиг. 1 изображена принципиальная схема интерферометра для контроля цилиндрических поверхностейj на фиг. 2 - вид А на фиг. 1. .
Интерферометр содержит последова- тельно установленные монохроматический источник 1 света, поляроид. 2,ци- лцндрическую телескопическую систе- 3, зеркало 4, цилищ1;рич:ескую линзу 5, щелевую диафрагму 6, цилиндри- ческий объектив 7, светоделитель 8, второй цилиндрический объектив 9 и концентрическую цилиндрическую линзу 10, регистратор 11 интерференционной картины.
Интерферометр работает следующим образом.
Пучок лучей от монохроматического источника 1 света проходит через поляроид 2, регулирующий интенсивность пучка света. С помощью цилиндрическо телескопической системы 3 сечение пучка света преобразуется в продолговатое . Далеенучок лучей преломляется зеркалом 4 и с помощью цилиндрирической поверхности интерферометра совмещается с предметной светящейся линией. Далее цилиндрический волн о- вой фронт падает на проверяемую деталь 12. Пучки, отраженные от проверяемой детали 12 и от эталонной поверхности, при совмещении интерферируют. Интерференционная картина наблюдается или фиксируется с помощью регистратора 11 интерференционной картины. Для выравнивания интерферирующих пучков по интенсивности на эталонную поверхность наносится покрытие с необходимым коэффициентом отражения. 2 ил.
ческой линзы 5 собирается в плоскости щелевой диафрагмы ё. Цилиндрический объектив 7 формирует параллельный пучок, который светоделителем 8 преломляется к второму цилиндрическому объективу 9, формирующему предметную светящуюся линию. За вторым цилиндрическим объективом 9 расположена концентрическая цилиндрическая линза 10 выпуклой поверхностью к светоделителю 8. Вогнутая сторона концентрической цилиндрической линзы 10 является эталонной поверхностью интерферометра. Ось эталонной цилиндрической поверхности интерферометра совмещается с предметной светящейся линией. Далее цилиндрический,волновой фронт падает на проверяемую де-. таль 12. Пучки отраженные от проверяемой детали 12 и от эталонной поверхности, при совмещении интерферируют. Интерференционная картина наблюдается или фиксируется с помощью регистратора 11 интерференционной картины. Для выравнивания интерферирующих пучков по интенсивности на эталонную поверхность наносится покрытие с необходимым коэффициентом отражения.
Введение за монохроматическим источником 1 света поляроида 2 позволяет регулировать яркость интерференционной картины, что улучшает условия работы, например при наблюдении глазом, позволяет ослабить яркость интрференционной картины, а при фотографировании -повысить .
Расположение за поляроидом 2 цилиндрической телескопической системы 3, а за цилиндрической линзой 5 - щелевой диафрагмы 6 обеспечивает получение протяженного промежуточного изображения источника 1 света, равномерного по интенсивности по всей длине, свободного от рассеянного све та и бликов.
Введение за щелевой диафрагмой 6 цилиндрического объектива 7, за светоделителем 8 - второго цилиндрического объектива 9 позволяет сформировать предметную светящуюся линию с требуемым увеличением без потерь света.
0
0
5
Формула изобретения
Интерферометр для контроля цилинд- рических поверхностей, содержащий последовательно установленные монохроматический источник света, зеркало, цилиндрическую линзу, светоделитель и регистрирующий блок, отличающийся- тем, что, с целью обеспечения контроля протяженных цилиндрических поверхностей с размером цилиндрической образующей до 400 мм, он снабжен поляроидом и цилиндрической телескопической системой, после- довач ельно установленными между источником света и зеркалом, щелевой диафрагмой и цилиндрическим объективом, последовательно установленными между цилиндрической линзой и светоделителем, и последовательно установленными за светоделителем вторым цилиндрическим объективом .и концентрической линзой, вогнутая поверхность которой является эталонной, а выпуклая обращена к светоделителю.
BucfA
Составитель Л.Лобзова Редактор Э.Слиган Техред М.Дидьк Корректор М.Максиьшшинец
Заказ 6146/44 Тираж 677Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР
по делам изобретений И открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб.; д. 4/5
Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4
Cpuff.Z

| название | год | авторы | номер документа | 
|---|---|---|---|
| Интерферометр для контроля качества по-ВЕРХНОСТи ОпТичЕСКиХ дЕТАлЕй | 1979 | 
 | SU794362A1 | 
| Интерференционное устройство для контроля линз | 1990 | 
 | SU1758423A1 | 
| Интерферометр для контроля качества оптических деталей | 1978 | 
 | SU684296A1 | 
| ДИФРАКЦИОННЫЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР (ВАРИАНТЫ) | 2003 | 
 | RU2240503C1 | 
| Интерферометр для контроля оптических поверхностей | 1982 | 
 | SU1065684A1 | 
| Интерферометр для измерения перемещений | 1980 | 
 | SU934212A1 | 
| Способ определения распределения плотности прозрачных неоднородностей | 1985 | 
 | SU1350564A1 | 
| Интерферометр для контроля качества оптических поверхностей | 1983 | 
 | SU1104362A1 | 
| Интерферометр для контроля формы выпуклых сферических поверхностей линз большого диаметра | 1980 | 
 | SU945642A1 | 
| Голографический интерферометр | 1991 | 
 | SU1835047A3 | 
 
		
         
         
            Изобретение относится к измери-  тельной технике. Цель изобретения -  обеспечение контроля протяженных цилиндрических поверхностей с размером  цилиндрической образующей до 400 мм.  Пучок лучей от монохроматического  источника 1 света проходит через поляроид 2, регулирующий интенсивность  пучка света. Цилиндрической телескопической системой 3 сечение пучка  света преобразуется в продолговатое. (Л со СП со о:  о:  со

               
            
| Лукин А.В., Мустафин К.С., Рафиков Р.А | |||
| Контроль профиля асферических поверхностей с помощью одномерных искусственных голограмм | |||
| - ОМП, 1973, № 6, с | |||
| Приспособление для получения кинематографических стерео снимков | 1919 | 
 | SU67A1 | 
| ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ВОГНУТЫХ ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ | 0 |  | SU355489A1 | 
| Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 | 
 | SU1A1 | 
Авторы
Даты
1987-12-15—Публикация
1985-01-11—Подача