Интерферометр для контроля цилиндрических поверхностей Советский патент 1987 года по МПК G01B9/02 G01B11/24 

Описание патента на изобретение SU1359663A1

Далее пучок лучей преломляется зеркалом 4 и цилиндрической линзой 5 собирается в плоскости щелевой диафрагмы 6. Цилиндрический объектив 7 формирует параллельный пучок и светоделителем 8 преломляется к второму цилиндрическому объективу 9, формирующему прерз етную светящуюся линию. За цилиндрическим объективом 9 расположена концентрическая цилиндрическая линза 10 выпуклей поверхностью к светоделителю 8. Вогнутая сторона концентрической цилиндрической линзы 10 является эталонной поверхностью интерферометра. Ось эталонной цилинд1

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля цилиндрических

поверхностей.

Цель изобретения - обеспечение контроля протяженных цилиндрических поверхностей с размером цилиндрической образующей до 400 мм.

На фиг. 1 изображена принципиальная схема интерферометра для контроля цилиндрических поверхностейj на фиг. 2 - вид А на фиг. 1. .

Интерферометр содержит последова- тельно установленные монохроматический источник 1 света, поляроид. 2,ци- лцндрическую телескопическую систе- 3, зеркало 4, цилищ1;рич:ескую линзу 5, щелевую диафрагму 6, цилиндри- ческий объектив 7, светоделитель 8, второй цилиндрический объектив 9 и концентрическую цилиндрическую линзу 10, регистратор 11 интерференционной картины.

Интерферометр работает следующим образом.

Пучок лучей от монохроматического источника 1 света проходит через поляроид 2, регулирующий интенсивность пучка света. С помощью цилиндрическо телескопической системы 3 сечение пучка света преобразуется в продолговатое . Далеенучок лучей преломляется зеркалом 4 и с помощью цилиндрирической поверхности интерферометра совмещается с предметной светящейся линией. Далее цилиндрический волн о- вой фронт падает на проверяемую деталь 12. Пучки, отраженные от проверяемой детали 12 и от эталонной поверхности, при совмещении интерферируют. Интерференционная картина наблюдается или фиксируется с помощью регистратора 11 интерференционной картины. Для выравнивания интерферирующих пучков по интенсивности на эталонную поверхность наносится покрытие с необходимым коэффициентом отражения. 2 ил.

ческой линзы 5 собирается в плоскости щелевой диафрагмы ё. Цилиндрический объектив 7 формирует параллельный пучок, который светоделителем 8 преломляется к второму цилиндрическому объективу 9, формирующему предметную светящуюся линию. За вторым цилиндрическим объективом 9 расположена концентрическая цилиндрическая линза 10 выпуклой поверхностью к светоделителю 8. Вогнутая сторона концентрической цилиндрической линзы 10 является эталонной поверхностью интерферометра. Ось эталонной цилиндрической поверхности интерферометра совмещается с предметной светящейся линией. Далее цилиндрический,волновой фронт падает на проверяемую де-. таль 12. Пучки отраженные от проверяемой детали 12 и от эталонной поверхности, при совмещении интерферируют. Интерференционная картина наблюдается или фиксируется с помощью регистратора 11 интерференционной картины. Для выравнивания интерферирующих пучков по интенсивности на эталонную поверхность наносится покрытие с необходимым коэффициентом отражения.

Введение за монохроматическим источником 1 света поляроида 2 позволяет регулировать яркость интерференционной картины, что улучшает условия работы, например при наблюдении глазом, позволяет ослабить яркость интрференционной картины, а при фотографировании -повысить .

Расположение за поляроидом 2 цилиндрической телескопической системы 3, а за цилиндрической линзой 5 - щелевой диафрагмы 6 обеспечивает получение протяженного промежуточного изображения источника 1 света, равномерного по интенсивности по всей длине, свободного от рассеянного све та и бликов.

Введение за щелевой диафрагмой 6 цилиндрического объектива 7, за светоделителем 8 - второго цилиндрического объектива 9 позволяет сформировать предметную светящуюся линию с требуемым увеличением без потерь света.

0

0

5

Формула изобретения

Интерферометр для контроля цилинд- рических поверхностей, содержащий последовательно установленные монохроматический источник света, зеркало, цилиндрическую линзу, светоделитель и регистрирующий блок, отличающийся- тем, что, с целью обеспечения контроля протяженных цилиндрических поверхностей с размером цилиндрической образующей до 400 мм, он снабжен поляроидом и цилиндрической телескопической системой, после- довач ельно установленными между источником света и зеркалом, щелевой диафрагмой и цилиндрическим объективом, последовательно установленными между цилиндрической линзой и светоделителем, и последовательно установленными за светоделителем вторым цилиндрическим объективом .и концентрической линзой, вогнутая поверхность которой является эталонной, а выпуклая обращена к светоделителю.

BucfA

Составитель Л.Лобзова Редактор Э.Слиган Техред М.Дидьк Корректор М.Максиьшшинец

Заказ 6146/44 Тираж 677Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений И открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб.; д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Cpuff.Z

Похожие патенты SU1359663A1

название год авторы номер документа
Интерферометр для контроля качества по-ВЕРХНОСТи ОпТичЕСКиХ дЕТАлЕй 1979
  • Бубис Исак Яковлевич
  • Кузнецов Алексей Иванович
SU794362A1
Интерференционное устройство для контроля линз 1990
  • Казаков Николай Павлович
  • Крылов Юрий Николаевич
  • Гиргель Сергей Сергеевич
  • Горелый Николай Николаевич
  • Войтенко Игорь Георгиевич
SU1758423A1
Интерферометр для контроля качества оптических деталей 1978
  • Кузнецов Алексей Иванович
SU684296A1
ДИФРАКЦИОННЫЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР (ВАРИАНТЫ) 2003
  • Коронкевич В.П.
  • Ленкова Г.А.
RU2240503C1
Интерферометр для контроля оптических поверхностей 1982
  • Бубис Исак Яковлевич
  • Ган Михаил Абрамович
  • Кузнецов Алексей Иванович
  • Робачевская Виолетта Ильинична
  • Флейшер Александр Григорьевич
SU1065684A1
Интерферометр для измерения перемещений 1980
  • Старков Алексей Логинович
SU934212A1
Способ определения распределения плотности прозрачных неоднородностей 1985
  • Жигалко Евгений Фадеевич
  • Колышкина Лариса Леонидовна
SU1350564A1
Интерферометр для контроля качества оптических поверхностей 1983
  • Вячин Валерий Васильевич
  • Мамонов Станислав Кириллович
SU1104362A1
Интерферометр для контроля формы выпуклых сферических поверхностей линз большого диаметра 1980
  • Пуряев Даниил Трофимович
  • Дягилева Алевтина Васильевна
  • Лазарева Наталия Леонидовна
  • Фомин Олег Николаевич
  • Горшков Владимир Алексеевич
  • Воронина Валентина Ивановна
SU945642A1
Голографический интерферометр 1991
  • Головина Лидия Викторовна
  • Хасанов Рашид Гафанович
SU1835047A3

Иллюстрации к изобретению SU 1 359 663 A1

Реферат патента 1987 года Интерферометр для контроля цилиндрических поверхностей

Изобретение относится к измери- тельной технике. Цель изобретения - обеспечение контроля протяженных цилиндрических поверхностей с размером цилиндрической образующей до 400 мм. Пучок лучей от монохроматического источника 1 света проходит через поляроид 2, регулирующий интенсивность пучка света. Цилиндрической телескопической системой 3 сечение пучка света преобразуется в продолговатое. (Л со СП со о: о: со

Формула изобретения SU 1 359 663 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1987 года SU1359663A1

Лукин А.В., Мустафин К.С., Рафиков Р.А
Контроль профиля асферических поверхностей с помощью одномерных искусственных голограмм
- ОМП, 1973, № 6, с
Приспособление для получения кинематографических стерео снимков 1919
  • Кауфман А.К.
SU67A1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ВОГНУТЫХ ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ 0
SU355489A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 359 663 A1

Авторы

Бубис Исак Яковлевич

Кузнецов Алексей Иванович

Хорошкеев Владимир Борисович

Даты

1987-12-15Публикация

1985-01-11Подача