Устройство отбора пробы металла от металлического образца на пробоотбирающий электрод Советский патент 1988 года по МПК G01N1/28 

со 00 сд

о о

00

11

Изобретение относится к области контроля состава вещества, в частности к отбору пробы от монолитного образца металла для спектрального анализа.

Целью изобретения является повышение точности анализа и уменьшение разрушения поверхности исследуемого образца за счет гашения дуги размы- кания.

На чертеже, изображена схема предлагаемого устройства.

Схема пробоотборника включает. трансформатор 1, реле 2 времени, кнопку 3 включения, выпрямитель 4, подводящий электрод 5, исследуемый образец 6, пробоотбираюший электрод 7

5 соленоид 8, фотоэлемент 9, усилитель 10 и полупроводниковый управля- емый элемент 11.

Устройство работает следующим образом.

Пробоотборник устанавливают на исследуемый образец 6 таким образом, что подводящий электрод 5 и пробоот- бирающий электрод 7 соединены с исследуемым образцом 6, а фотоэлемент 9 ориентирован светоприемником к мес

Каждый цикл замыкания и размыкания цепи отбора сопровождается следующим процессом.

Контактирующие участки пробоотби- рающего электрода 7 и исследуемого образца 6 разогреваются до образования между ними слоя расплавленной стали исследуемого образца. В момент отведения электрода 7 от образца 6 матери-ал последнего переносится на пробоотбирающий электрод 7. Одновременно в момент отведения электрода 7 между ним и исследуемым образцом 6 возникает электрическая дуга. Световое излучение дуги регистрируется фотоэлементом 9, .сигнал от фотоэлемента 9 усиливается усилителем 10 и подается на управляемый полупроводниковый элемент 11, который открывается и шунтирует электроды 7-5, что приводит к гашению дуги. Тиристор закрывается в момент отсутствия управляющего напряжения при спаде до нуля питающего однополупериодного напряжения.

Таким образом, в предлагаемом пробоотборнике стали для спектрального

Изобретение относится к области контроля состава вещества. Целью является повышение точности анализа и уменьшение разрушения поверхности исследуемого образца. Положительный эффект достигается путем подавления дуги размывания между электродом и образцом,, приводящей к выгоранию продуктов переноса (пробы) и электроэр- розионному разрушению поверхности образца. Подавл ение дуги размыкания осуществляется управляющим полупроводниковым элементом, фотоэлементом и усипителем. 1 ил.

ту контакта пробоотбирающего электро- 30 анализа продолжительность горения ду

да 7 с образцом 6.

При нажатии кнопки 3 включения включается реле 2 времени и замьшает первичную цепь питания, напряжение сети через.трансформатор 1 поступает на выпрямитель 4, а затем напряжение положительного полупериода питающего напряжения через соленоид 8 поступает на электрод 7. Так как электроды 5 и 7 замкнуты через образец 6, то в цепи отбора вторичная обмотка трансформатора 1 - выпрямитель 4 - соленоид 8 - электрод 7 - образец 6 - электрод 5 начинает течь ток, возрастающий по синусоидальному закону, В ре- зультате прохождения тока через соленоид 8 пробоотбирающий электрод втягивается в него и тем самым отводитс от образца 6, далее цепь отбора пробы размыкается, воздействие соленоида 8 на пробоотбирающий электрод 7 прекращается и он вновь приходит в соприкосновение (контактирование) с исследуемым образцом. При восстановлении цепи питающего напряжения процесс повторяется в течение всего периода включения реле 2 времени.

5

0

,.

0

5

ги сокращена до минимума и.определена быстродействием электронных приборов. Отбор пробы ст-али без выгорания продуктов переноса (благодаря гашению дуги) обеспечивает повышение точности анализа и уменьшает эррози- онное разрушение исследуемого образца.

Формул, а изобретения

Устройство отбора пробы металла от металлического образца на пробоотбирающий электрод по авт. св. №781657, отличающееся тем, что, с целью повышения точности анализа и уменьшения разрушения поверхности исследуемого образца за счет гашения дуги размыкания, между пробоотбираю- щим и подводящим электродом подсоединен управляемый ключевой полупроводниковый элемент, управляющий электрод которого через усилитель сое- динен с фотоэлементом, причем последний ориентирован светоприемником к зоне контакта пробоотбирающего электрода с исследуемым образцом.

3 2 J 4,

W//////A