Способ определения коэффициента распыления материалов Советский патент 1993 года по МПК C23C14/46 

Описание патента на изобретение SU1400138A1

со

00

Изобретение относится к ионной технике и материаловедению и можьч найти применение для определения коэффициентов распыления различных ма- териалов.

Целью изобретения является повьппе- ние точности и упрощение измерения коэффициента распыления материалов,

П р м м е-р. На стандартную уста- ирвку, включающую ионную пушку и масс-спектрометр, устанавливают исследуемый образец (поликристаллическая медная фольга) так, чтобы распы- ляклций пучок был направлен по нормали к поверхности. Сфокусирр- ванным пучком ионов ксенона с энергией 5 кэВ, током 9,1 -10 А, диаметром ионного пучка 0,83-10 см, с гауссовым распределением плотности тока создают кратер глубиной, равной диаметру, и одновременно с помощью масс- спектрометра регистрируют выход вторичных ионов меди. Определяют время, при котором достигается максимум вы- хода распыленных частиц, которое в данном примере оказалось равным 298с

В таблице приведены величины коэф- фициентов распыления 5, которые опре K-Rof делились из выражения о г-г--.

где

К 1,2 для гауссового распределения плотности тока в пучке; R - радиус полного пучка, см; j - атомная плотность материала, ат/см ; t - время достижения максимального выхода рас

п(лпенных частиц, с{ j - плотность потока ионов в центре пучка, ион«см « с, а также погрешности определения коэффициентов распыпення различных материалов предлагаемым способом и прототипом.

Как видно из приведенной таблицы, точность определения коэффициента распыпения предлагаемым способом в 4-5 раз выше, чем по способу-прототипу.

Формула изобретения

Способ определения коэффициента распыпения материалов, включающий травление поверхности материала ионным пучком и измерение времени достижения максимального вьсхода распыленных частиц материала, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и упрощения методики измерения, травление проводят ионным пучком с гауссовым распределением плотности тока по радиусу пучка, а коэффициент распыпения определяют из выражения

.ат/ион,

i

J

где К 1,2; R - радиус ионного пучка, см; j - атомная плотность материала, ат/см ; t - время достижения максимального выхода распыленных частиц материала, с; j - плотность потока ионов в центре пучка, ион/см -с.

Похожие патенты SU1400138A1

название год авторы номер документа
Способ масс-спектрометрического послойного анализа твердых тел 1983
  • Васильев Михаил Алексеевич
  • Дубинский Игорь Николаевич
  • Косячков Александр Александрович
  • Макеева Ирина Николаевна
  • Ченакин Сергей Петрович
  • Черепин Валентин Тихонович
  • Костюченко Владимир Гордеевич
SU1138855A1
Способ количественного послойного анализа твердых веществ 1984
  • Васильев Михаил Алексеевич
  • Емельянинков Дмитрий Геннадиевич
  • Коляда Валерий Михайлович
  • Черепин Валентин Тихонович
SU1224855A1
Способ ионной имплантации 1986
  • Арзубов Н.М.
  • Ваулин В.А.
  • Исаев Г.П.
  • Кузьмин О.С.
  • Рябчиков А.И.
SU1412517A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕМЕНТАРНОГО СОСТАВА ТВЕРДОГО ТЕЛА 1991
  • Макаренко Б.Н.
  • Попов А.Б.
  • Шергин А.П.
RU2017143C1
СПОСОБ ПОСЛОЙНОГО АНАЛИЗА ТОНКИХ ПЛЕНОК 2003
  • Суржиков А.П.
  • Гынгазов С.А.
  • Франгульян Т.С.
  • Чернявский А.В.
RU2229115C1
СПОСОБ ПОСЛОЙНОГО АНАЛИЗА ТОНКИХ ПЛЕНОК 2002
  • Суржиков А.П.
  • Гынгазов С.А.
  • Франгульян Т.С.
  • Чернявский А.В.
RU2229116C1
СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ РИСУНКА НА ПОВЕРХНОСТИ ПЛАСТИНЫ 2001
  • Смирнов В.К.
  • Кибалов Д.С.
RU2181086C1
Способ послойного анализа твердых веществ 1984
  • Коляда Валерий Михайлович
  • Марченко Альфред Петрович
  • Нагорная Татьяна Владимировна
  • Черепин Валентин Тихонович
SU1257725A1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ НАНОРАЗМЕРНЫХ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ МЕМБРАН 2007
  • Михеев Сергей Юрьевич
  • Рыжов Юрий Алексеевич
  • Шкарбан Игорь Иванович
RU2342187C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕМЕНТНОГО СОСТАВА И ТОЛЩИНЫ ПОВЕРХНОСТНОЙ ПЛЕНКИ ТВЕРДОГО ТЕЛА ПРИ ВНЕШНЕМ ВОЗДЕЙСТВИИ НА ПОВЕРХНОСТЬ 2012
  • Курнаев Валерий Александрович
  • Мамедов Никита Вадимович
  • Синельников Дмитрий Николаевич
RU2522667C2

Реферат патента 1993 года Способ определения коэффициента распыления материалов

Изобретение относится к ионной технике и материаловедению и служит для повьпиения точности и упрощения измерения коэффициента распыления материалов. Сфокусированным пучком ионов, например, ксенона с энергией 5 кэВ, током 9,, диаметром ионного пучка 0,83-Ю см, с гауссовым распрегделением плотности тока создают кратер глубиной, равной диа метру, и одновременно с помощью масс- спектрометра регистрируют выход вторичных ионов меди. При этом определяют время, в течение которого достигается максимум выхода распыленных .частиц. В описании приведено выражение для определения коэффициента распыления; 1 табл.

Формула изобретения SU 1 400 138 A1

Предлагаемый способ

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1993 года SU1400138A1

Wehner G.K
- Zow-Energy Sputtering yields inHg.-Phys
Rev, 1958, V
Прялка для изготовления крученой нити 1920
  • Каменев В.Е.
SU112A1
Очаг для массовой варки пищи, выпечки хлеба и кипячения воды 1921
  • Богач Б.И.
SU4A1
ПРИСПОСОБЛЕНИЕ ДЛЯ КОПИРОВАНИЯ 1923
  • Гофман М.И.
SU1120A1
Бондаренко И.О
и др
Бесконтактный метод измерения коэффициентов распыления материалов
- Поверхность, 1984, № 7, с
Прибор для равномерного смешения зерна и одновременного отбирания нескольких одинаковых по объему проб 1921
  • Игнатенко Ф.Я.
  • Смирнов Е.П.
SU23A1

SU 1 400 138 A1

Авторы

Проценко А.Н.

Даты

1993-03-07Публикация

1986-06-04Подача