Устройство для измерения радиуса кривизны и отклонений поверхности от сферической Советский патент 1988 года по МПК G01B5/22 

3.

Изобретение относится к измерительной технике.

Целью изобретения является повышение точности и производительности измерения.

На чертеже представлено устройство для измерения радиуса кривизны и отклонений поверхности от сферической, об1ций вид.

Устройство содержит корпус 1, на котором установлены центрирующая опор 2 и державка 3. На державке 3 закреплен первый держатель 4 с установленным на нем измерительным узлом 5 и на конечником 6 и второй аналогичный первому держатель 7 с измерительным узлом 8 и наконечником 9. Шарнир 10 установлен на державке 3 в точке пересечения продольных осей наконечни- ков 6 и 9. Для фиксации положений измерительных узлов с наконечниками устройство снабжено винтами 11, а для перемещения державки 3 в измерительном направлении - винтом 12 и фикса- тором 13.

Устройство работает следующим образом.

При помощи шаблона или измерительного инструмента измерительные узлы 5, 8 с наконечниками 6, 9 устанавливают так, чтобы торцы измерительных наконечников были на одинаковом расстоянии L от оси щарнира 1Q, а величина измеряемого радиуса R - меньше величины L и больше величины L - 1, где 1 - величина хода наконечников измерительных узлов 5, 8, ив таком положении фиксируют винтами 11. При этом оси наконечников 6, 9 должны быть расположены под различными углами относительно оси подвижной опоры

0

д 05

0

5

0

2. Контролируемую сферу устанавливают в гнездо опоры 2, ось которой соосна с осью держателя 4 с измерительным узлом 5 и наконечником 6 в крайнем осевом положении что обеспечивается при иаготовлении устройства. При перемещении державки 3 контролируемой сферы касается сначала наконечник 9, так как установочная неличина L больше величины радиуса контролируемой сферы. При дальнейшем перемещении контролируемой сферы касается наконечник 6. Показания измарительного узла 5 сравнивают с показаниями щкалы измерительного узла 9, так как его скорость перемещения в радиальном направлении в 1/cos 0 раз больше скорости наконечника 9, где с/- угол между осями измерительных узлов 5,8с наконечниками 6, 9. Величина измеряемого радиуса , где 1 - показания щкалы измерительного узла 5; li - показания шкалы измерительного узла 8.

Формула изобретения

Устройство для измерения радиуса кривизны и отклонений поверхности от сферической, содержащее корпус, установленную на нем центрирунлцую опору, державку и шарнирно установленный на ней первый держатель с измерительным узлом и наконечником, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения, оно снабжено вторым аналогичным держателем, шарнирно соединенным с первым с возможностью совместного с ним осевого перемещения, а продольные оси наконечников расположены под острым углом одна к другой.

Изобретение относится к измерительной технике. Целью изобретения является повьпиение точности и производительности измерения. Поставленная цель достигается тем, что устройство для измерения радиуса кривизны и отклонений поверхности от сферической содержит корпус 1, установленную на нем центрирующую опору 2, державку 3 и шарнирно установленные на ней первый держатель 4 с измерительным узлом 5 и наконечником 6, второй анадогич- ный первому держатель 7 с измерительным узлом 8 и наконечником 9 и шарнир 10, а также винты 11 и .12 и фиксатор 13. При перемещении державки 3 контролируемой сферы сначала касается наконечник 9, т.к. установочная величина L больше величины радиуса конт- . ролируемой сферы. При дальнейшем перемещении касается контролируемой сферы наконечник 6, и показания узла 5 сравниваются с показаниями шкалы измерительного узла 8, т.к. его скорость перемещения в радиальном направлении в 1/coso раз больше скорости о- наконечника 9, где t/ - угол между ося-, ми измерительных узлов 5 и 8 с нако- ff нечниками 6 и 9. Величина измеряемого Tj радиуса , где 1 и If - пока-v.. зания шкал измерительных узлов 5 и 8 ... соответственно. 1 ил.