Способ определения радиусов вогнутых поверхностей Советский патент 1988 года по МПК G01B5/08 

1

1 20340

25

Изобретение относится к техническим измерениям, а именно к измерению параметров, связанных известной математической зависимостью с радиу- , сом объекта с последующим вьмисле- нием радиуса.

Цель изобретения - повышение точности определения радиуса за счет косвенных измерений,)0

На фиг. 1 изображена схема опрееления радиуса объекта, реализующая анный способ при помощи накладного устройства; на фиг. 2 - схема увеличения чувствительности определения )5 радиуса объекта данным способом.

Накладное устройство состоит из параллельно расположенных пластин 1 и 2, устанавливаемых на объект 3. Пластины шчеют верхние отражающие 20 поверхности, известные длины С и С™ и неизвестное расстояние h между пластинами 1 и 2. Дополнительную пластину 4 устанавливают между основными 1 и 2. Пластина 4 имеет длину EF и отражающую поверхность. Угол между одной из основных пластин 1,2 и дополнительной пластиной 4 определяют посредством автоколлиматора 5. Пластина 2 имеет отверстия для про- хож;дения лучей А и D от автоколлиматора 5, луч В отражается от пластины 2.

Способ заключается в следующем.

На сферическую поверхность объекта 3 устанавливают пластину 1 и параллельно ей пластину 2 с магнитно связанной пластиной 4. По автоколлиматору 5 при помощи лучей А и В контролируют параллельность установки пластин 1 и 2, а при помощи лучей D измеряют угол d между пластиной 4 с дл1гной EF и пластины 2 с длиной С р. По известной длине EF и измеренной величине угол d вычисляют расстояние между основными пластинами h по формуле

h EF-sino(.

R сферической поверхности вычисляют по известной формуле

30

35

40

45

5

0

0

5

0

5

R

lif

)+с:

t-C,-4-h ------ ;.L,.

Разность высот сегментов (расстояние между параллельно расположенными пластинами) при непосредственном измерении известным способом при различных радиусах R, и R2 сферической поверхно сти характеризуется значением L,, в то время, как зта разность высот сегментов по предлагаемому способу характеризуется значением L. При этом LJ K-L,, где К 0. Значение коэффициента К зависит от , известного закона. если плоскость зеркала отклонить на угол 9, то отражение падающего на него луча отклонится на угол 26. Кроме того, чем длиннее луч, отраженный от пластины, тем больше К, а значит и больше значение L при одном и том же значении L (действие оптического рычага).

Таким образом, предлагаемый способ Повышает точность измерений радиусов сфер, в том числе и усеченных.

Формула изобретения

1.Способ определения радиусов вогнутых поверхностей, заключающийся в том, что на Поверхность вдоль ее хордовых направлений параллельно одна другой устанавливают две пластины и по расстоянию между пластинами и их длинам определяют радиус поверхностей, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения радиуса, между пластинами размещают соединяющую их дополнительную пластину и измеряют угол между одной .из основных пластин и дополнительной пластиной, а расстояние основными пластинами опре- деляют по длине дополнительной пластины и измеренному углу.

2.Способ по п. I, отлича ю- щ и и с я тем, что пластины вьтол- няют из магнитного материала и одну из основных и дополнительную пластины намагничивают перед измерением.

Изобретение относится к способам измерения параметров, связанных известной математической зависимостью с радиусом объекта, с послед ующим вычислением радиуса. Целью изобретения является повышение точности определения радиуса. Способ реализуют следующим образом. На поверхность измеряемой сферы 3 параллельно друг другу устанавливают две пластины 1 и 2 известных длин С, и С и вычисляют радиус R, связанный известной математической зависимостью с расстоянием h между пластинами 1, 2 и их: длинами С и С. Выполняют дополнительные операции, позволяющие определить расстояние h между пластинами 1,2 более точно. Пластины 1 и 2 соединяют между собой дополнительной пластиной 4, длина которой EF известна, измеряют острый угол о1 между пластиной 4 и одной из основных пластин 1,2, вычисляют расстояние h по длине EF пластины 4 и по величине измеренного угла 0. Для обеспечения плотного контакта с целью исключения люф- товых погрешностей одну из основных и дополнительную пластины 2, 4 намагничивают. 1 з.п. ф-лы, 2 ил. i (Л 4ib Ю О САЭ

фаз. 2