Устройство для рентгенографического определения макронапряжений Советский патент 1988 года по МПК G01N23/20 

Описание патента на изобретение SU1420491A1

кого центра О устройства с контролируемой поверхностью изделия. На платформе, 3 выполнены установочные отверстия 9 для крепления источника 1 излучения5 кот орый: переставляется с одной пары устаноЕочнык отверстий на . Pipyrym при переходе с одного вида катариала на другой,, Поворотом штатформы 3 относительно базы 5 и фиксацией ее посредством фиксатора 6 обеспечивается изменение угла ui между нормалью к поверхности образца и ди- фрак11ионным вектором и тем самым реа- лизшдия метода sin v при определении макронапряжений в контролируемом изделии ,1 ил,

Похожие патенты SU1420491A1

название год авторы номер документа
Рентгеновский дифрактометр 1987
  • Дроздова Наталья Федоровна
  • Евграфов Александр Андреевич
  • Полиэктов Юрий Иванович
  • Киселев Михаил Яковлевич
  • Топильская Галина Михайловна
SU1476360A1
Рентгеновский дифрактометр 1976
  • Мясников Юрий Гиларьевич
  • Тутельман Наталья Самуиловна
  • Фрейцис Григорий Давыдович
  • Комяк Николай Иванович
SU618673A1
Рентгеновский дифрактометр 1977
  • Ведерников Юрий Николаевич
  • Викторов Виктор Михайлович
  • Владимиров Евгений Николаевич
  • Комяк Николай Иванович
  • Мясников Юрий Гиларьевич
  • Шашилов Анатолий Александрович
SU664093A1
СПОСОБ ЮСТИРОВКИ ОБРАЗЦА В РЕНТГЕНОВСКОМ ДИФРАКТОМЕТРЕ 2016
  • Иванова Татьяна Ивановна
  • Веселов Владимир Александрович
  • Чернов Михаил Александрович
RU2617560C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МЕХАНИЧЕСКИХ СВОЙСТВ 1985
  • Хаютин С.Г.
  • Авдюшкин О.А.
  • Григорьев Ю.С.
  • Евграфов А.А.
  • Широков Н.М.
  • Лужбина Л.Ю.
RU1369496C
Устройство проема универсальной платформы для мониторинга параметров среды в трубопроводе 2022
  • Рымаренко Константин Васильевич
RU2817231C2
Рентгеновский спектрометр для исследования структурного совершенства монокристаллов 1980
  • Имамов Рафик Мамед-Оглы
  • Ковальчук Михаил Валентинович
  • Миренский Анатолий Вениаминович
  • Суходольский Владимир Васильевич
  • Шилин Юрий Николаевич
SU894502A1
РЕНТГЕНОВСКОЕ ДИФРАКТОМЕТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО 1990
  • Григорьев Ю.С.
  • Климов Л.Н.
  • Наумкин А.М.
  • Новоселов В.В.
  • Хаютин С.Г.
  • Ястребков В.М.
RU1739749C
Устройство для рентгенографического исследования кристаллических веществ 1985
  • Асланов Леонид Александрович
  • Фетисов Геннадий Владимирович
SU1312459A1
РЕНТГЕНОВСКИЙ ИЗМЕРИТЕЛЬНО-ИСПЫТАТЕЛЬНЫЙ КОМПЛЕКС 2000
  • Кумахов М.А.
RU2208227C2

Реферат патента 1988 года Устройство для рентгенографического определения макронапряжений

Изобретение относится к области научного приборостроения и может использоваться для неразрушакщего троля макронапряжений в узлах и деталях машин и механизмов. Цель изобретения состоит в повьтении производительности контроля благодаря возможности и оперативности перестройки при контроле различных видов материалов. Устройство содержит штатив 12, на котором жестко закреплена база 5, имеющая дугообразную направляющую 4, по которой перемещается платформа 3, несущая источник 1 рентгеновского излучения, позиционно-чувствительный детектор 2 и индикатор 7 с щзгпом 8, используемые для совмещения оптичес(Л с: 0 го о 4 со

Формула изобретения SU 1 420 491 A1

Изобретение относится к научному прйборостроенжо и может быгь исполь- Ёовано для неразрушающего контроля какронапр,яженкй в узла; и деталях машин и механизмов,

Цель изобретения повышение производительности контроля благодаря возможности и оперативности перестройки 1три контрсше различных видов матерк;злово

На чертеже схематггаески ггоказано предлЕгаамое устройство для определе кйк макронапряжений.

Устройство содержит источник 1 установленньй с возможностью дискрет :кого изменения у/гла между ним к Б:еподвижко установленным позиц:ионно гувствителькьы (ПЧ) детектором 2, ИЧ детектор 2 закреплен в напракпенки оси 00,,, дифрагкроБанного пучка на платформе 3 с ответной частью 4 дугообразной капразляющейв Г1п:атформа 3 установлена с возможностью дискретного перемещения по ответной части основания 5„ Фикса 1 ор б ььшолнен в звде съемного замка со стержнем (не показаны), Уст1зойство снабжено также индикатором .7 с измерительным щупом 8„ На корпусе источника 1 закреплены вдоль направления оси 00 первично™ го излучения два штифта (ке.по казаны) , а на платформе 3 выполнены ответные парные отверстия 9 радиаль™ но расположенные на прямых проходя- liTHX через ректгенооптическую. ось О дифрактометрического з стройства. Величина угла меяоду гшбыми иоло- женйя ш источника 1 на платформе 3 равна ц о Кроме того на платформе 3 выаолиеиы сквозные отверстия 10 для установки 3 иитс фиксатора б. Отверстия |0 расположены таким образом

0

5

что каждому положению источника 1 на платформе 3 соответствует единственное положение фиксатора 6, при этом 3 гoxJ; мeждy источником 1 и фиксатором 6 равен d ,, & угол двумя любьми положениями фиксатора б равен Ф/2, В ос ковании 5 вьшолнены отверстия (не показаны),. согласованные с отверстиями lOj для дискретной установки платформы 3 относительно основания 5, Тов, для установки платформы на один из заданных углов ч.

Для установки дифрактометрическо го устройства относительно образца 11. т.е для совмещения рентгенооптк- ческой оси О с поверхностью образца 11f используется измерительный щуп 8| а для фиксации устройства в рабочем паложении - держатель 12,

Устройство работает следующим образом

С помощью держателя 12 устанавливают контрольную плоскость 13 платформы 3 параллельно плоскости.образца 11 и совмещают ось О дифрактомет рического устройства с поверхностью ебразца 11. используя индикатор 7 с измерительным щупом 8„ Источник 1 ус танавливают в парные отверстия 9 на платформе 3 Hi-ieKEtHe например, маркировку Fe, В-этом случае угол между источником 1 и неподвижно установлен- ньш на платформе 3 ПЧ-детектором 2 равен 2i t80 -2epg, где бре Вульфа- Брегга для излзгчения источ- ь-ика и выбранного оптимального отра- же1шя (hki) исследуемого материала (Fe).

5

0

S

40 Фиксатор 6 устанавливают в одиноч ное сквозное отверстие 10 с аналогичной маркировкой Ге Ч; Угол между фик

сатором 6 (отверстием 10) и источником 1 равен d .

Одновременно стержень фиксатора 6 через сквозное отверстие 10 устанавливают в первое (по часовой стрелке) глухое отверстие к& основании 5, соответствующее начальному углу ( . При этом положение фиксатора 6 на базе 5 относительно нормали поверхности образца 11 характеризуется углом /5 , Последовательно (по ч асовой стрелке) устанавливая фиксатор 6 через одно и то же сквозное отверстие 10 (Fe) в глухие отверстия на базе 5, определяют с помощью ПЧ-детектора 2 отклонения положений дифракционных пиков cP(20J для образца 11 от положения пика для эталонного (ненапряженного) материала. По полученнь1м результатам, например, методом sin i(; рассчитывают макронапряжеш я в образце 11.

Положения глухих отверстий на ба зе 5 соответствуют определенным значениям угла V, постоянным для любого контролируемого материала (Alp Fe, Си и т.д.). Для перехода от исследований одного материала (Fe) к другому (например, Си) достаточно установить ис- тйчник 1 и фиксатор 6 в отверстия 9 и 10, маркированные Си. При этом положение источника 1 на платформе 3

5

0

5

0

изменяется на угол tf, а фиксатора 6 - на угол cf/2. Формула изобрет ения

Устройство для рентгенографического определент1я макр о напряжений, со- держашее основание с направляющей, платформу, снабженную ответной частью- направляющей дугообразной формы и установленную с возможностью поворота относительно основания, источник рентгеновских лучей и позиционно-чув- ствительньш детектор с взаимно пе- р секающимися осями- пучка лучей и детектора, смонтг-грованные на платформе средства совмещения точки пересе чения осей с базовой плоскостью объ акта и индикатор со щупом контроля точности совмещения, отличающееся TeMj что, с целью повышения производительности контроля бла годаря возможности и оперативности перестройки при контроле различных видов материалов, источник рентгеновских вьшолнен съемным и установлен на п-яатформе с возможностью дис™ кретного перемещения по ней с изменением угла 180°-26 между направлением первичного рентгеновского луча к осью детектора, платформа снабжена средством днскреткого поворота отно- рительно поверхности объекта на заданные з глы и фиксирования в позигщях установки.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1988 года SU1420491A1

Магнитный клин 1986
  • Белякова Ирина Васильевна
  • Бычков Валентин Семенович
  • Ермаков Владимир Васильевич
  • Макаров Феликс Константинович
  • Тубис Яков Борисович
  • Кочегаров Сергей Григорьевич
SU1390710A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Патент США № 3634686, кл
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Патент США № 4095103, кл
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 420 491 A1

Авторы

Агеев Олег Иванович

Гоганов Дмитрий Алексеевич

Захарченко Вальтер Иванович

Даты

1988-08-30Публикация

1986-08-15Подача