Способ измерения толщины оптических деталей Советский патент 1988 года по МПК G01B11/02 

Описание патента на изобретение SU1442820A1

О,

сл

4 4

к:

о

Изобретение относится к измерительной технике.

Цель изобретения - расширение диапазона измеряемых величин.

На чертеже представлена схема устройства, реализующего способ.

Устройство содержит основание 1, два чувствительных элемента 2 и 3, жестко скрепленных друг с другом, ползун 4, установленный штырь 5, хомут 6, шкалу 7, колонку 8, микроскоп 9, подставку 10 и кон- О тролируемую деталь 11.

Способ осуществляют следующим образом.

Завершив эти операции, на основание 1 устанавливают эталон. Перемещая ползун 4 с чувствительными элементами 2 и 3, скрепленными между собой, снимают отсчеты А а, и Аэ , при контакте каждого чувствительного элемента с образуемой к нему соответствующей поверхностью эталона, а толщину детали 1Г определяют из соотношения

d ф-+ (Аз, -Аэ ) - (Aj, -А), где толщина эталона.

Формула изобретения

Способ измерения толщины оптических деталей, заключающийся в том, что послеПеремещая установочный штырь 5 вмес- j довательно устанавливают на столик эталон те с чувствительным элементом 2, устанав- и контролируемую деталь, вводят в контакт ливают расстояние между чувствительными с ними два чувствительных элемента и сни- элементами 2 и 3, не превышающее сумму мают отсчеты, отличающийся тем, что, с номинального значения размера детали 11 целью расширения диапазона измеряемых и длины шкалы 7 устройства.величин, жестко скрепляют между собой оба

Положение штыря 5 фиксируют хомутом 20 чувствительных элемента, выдерживая рас6, после чего устанавливают на основание 1 контролируемую деталь 11 и его подвижками при наблюдении в автоколлимационное устройство (не показано) производят совмещение оптической оси детали 11 с ли- 25 нией ОдО, вдоль которой производится измерение.

Затем перемещают ползун 4 до контакта чувствительного элемента 3 с поверхностью детали 11 и снимают отсчет Ау , после чего

перемещают ползун 4 до контакта чувстви- 30 где

тельного элемента 2 с второй поверхностью и снимают отсчет А. Разность отсчетов по шкале составляет А, -Ая L-d, где d - толщина детали 11, а L - расстояние между чувствительными элементами.

стояние между ними, не превыщающее сумму измеряемого размера и щкалы прибора, последовательно перемещают элементы до контакта с поверхностями контролируемой детали, после снятия отсчетов перемещают чувствительные элементы до контакта с поверхностями эталона и снова снимают отсчеты, а толщину детали определяют из соотношения

d d,-4- (As, -АЭ., ) -(А, -А ),

Ад, , А, , А,

Л

uj - длина эталона; , - отсчеты по шкале при контакте чувствительных элементов с поверхностями эталона и контролируемой детали.

Завершив эти операции, на основание 1 устанавливают эталон. Перемещая ползун 4 с чувствительными элементами 2 и 3, скрепленными между собой, снимают отсчеты А а, и Аэ , при контакте каждого чувствительного элемента с образуемой к нему соответствующей поверхностью эталона, а толщину детали 1Г определяют из соотношения

d ф-+ (Аз, -Аэ ) - (Aj, -А), где толщина эталона.

Формула изобретения

где

стояние между ними, не превыщающее сумму измеряемого размера и щкалы прибора, последовательно перемещают элементы до контакта с поверхностями контролируемой детали, после снятия отсчетов перемещают чувствительные элементы до контакта с поверхностями эталона и снова снимают отсчеты, а толщину детали определяют из соотношения

d d,-4- (As, -АЭ., ) -(А, -А ),

uj - длина эталона; , - отсчеты по шкале при контакте чувствительных элементов с поверхностями эталона и контролируемой детали.

Похожие патенты SU1442820A1

название год авторы номер документа
Устройство для измерения геометрических параметров деталей 1985
  • Школьников Игорь Васильевич
  • Сюндюков Михаил Алексеевич
  • Бакуев Анатолий Алексеевич
SU1345050A1
Устройство для измерения профиля зубьев колес 1985
  • Ратыч Орест Владимирович
SU1307227A1
Контактный сферометр 1990
  • Гвоздев Сергей Семенович
  • Антонов Валентин Николаевич
  • Петренко Геннадий Васильевич
  • Фурменков Андрей Николаевич
SU1733912A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ РАДИУСА СФЕРИЧЕСКИХ ПОЛИРОВАННЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙ 2001
  • Скворцов Ю.С.
  • Трегуб В.П.
RU2215987C2
Способ контроля формы поверхности вращения 1988
  • Степин Юрий Александрович
SU1627828A1
ТОЛЩИНОМЕР 1997
  • Копий Н.В.
  • Понкратов А.Н.
  • Скворцов Ю.С.
  • Трегуб В.П.
RU2143098C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ВЕЛИЧИНЫ ДЕФОРМАЦИИ И ОБНАРУЖЕНИЯ ТРЕЩИН В ПОЛЫХ ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ ДЕТАЛЯХ С ОПОРНЫМИ БУРТАМИ 1995
  • Синельников Борис Иосифович
  • Бекмагамбетов Марат Махметович
RU2127864C1
Накладной кругломер 1987
  • Бабаскин Андрей Геннадьевич
  • Ильин Вячеслав Вадимович
  • Серенко Владимир Александрович
  • Похмельных Вячеслав Михайлович
SU1471061A1
Устройство для контроля формы поверхности объекта 1989
  • Байкалов Владимир Анатольевич
  • Ворошилов Рудольф Владимирович
  • Доброванов Владимир Анатольевич
  • Коваленко Анатолий Васильевич
  • Мирецкий Борис Оскарович
  • Стефанов Александр Наумович
  • Сокирко Юрий Леонидович
SU1714322A1
БИБЛИОТЕКА 1973
SU390351A1

Реферат патента 1988 года Способ измерения толщины оптических деталей

Изобретение относится к измерительной технике. Целью изобретения является расширение диапазона измеряемых величин. Перемещая установленный штырь 5 вместе с чувствительным элементом 2, устанавливают расстояние между чувствительными элементами 2 и 3, не превышающее сумму номинального значения диаметра детали 1i и длины шкалы 7 устройства. Устанавливаю; на основание 1 деталь 11, его подвижками при наблюдении в автоколлиматор производят совмещение оси детали 11 с линией, вдоль которой производится измерение. Затем перемещают ползун 4 до контакта чувствительных элементов 2 и 3 с поверхностями детали 11 и снимают два отсчета. Завгр шив эти операции, на основании 1 устаиар ливают эталон, жестко скрепляют оба чм; ствительных элемента 2 и 3 между соо-л; вводят в контакт с поверхностями эталям.. чувствительные элементы 2 и 3 и снимай- отсчеты, а толщину детали 11 определяю по зависимости. 1 ил.

Формула изобретения SU 1 442 820 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1988 года SU1442820A1

ТОЛЩИНОМЕР 0
  • Ю. А. Степин, В. К. Ефимов В. П. Федорова
SU395707A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 442 820 A1

Авторы

Степин Юрий Александрович

Даты

1988-12-07Публикация

1985-10-14Подача