Способ отверждения эпоксидного компаунда Советский патент 1988 года по МПК H01B19/00 H01B3/40 

Ф

а сд

sl

Изобретение относится к производству эпоксидных компаундов, применяемых для защиты и герметизации , узлов и блоков радиоэлек- тронной аппаратуры.

Цель изобретения - увеличение надежности изделий на основе эпоксидных компаундов.

Пример. Эпоксидный компаунд содержащий эпоксидиановую смалу ЭД-20, малеиновый ангидрид, наполнитель и ускоритель реакции, выдерживают равное время при охлаждении согласно указанным режимам.

На фиг,1 показана зависимость процента выхода годных приборов, прошедших климатические испытания, от температуры выдержки компаунда при низкой температуре кривая 1 соответ ствует длительности выдержки 10 ч, кривая 2 - длительности вьздержки 16 ч, кривая 3 - длительности выдержки 24 ч, крив,ая. А - длительности выдержки 48 ч; на фиг.2 - зависимость процента выхода годных приборов, .прошед1пих климатические испытания, от длительности выдержки кривая 1 соответствует температуре выдержки , кривая 2 - темпера- туре выдержки , кривая 3 - температуре выдержки -6 С.

После указанной выдержки компаунд заливают в формы корпуса прибора ГТ-905 и производят отверждени по ступенчатому режиму 80-165 С.

На опытных приборах проводят климатические испытания для оценки качества герметизации и механически характеристик. Климатические испыта ння состоят из четырехкратной выдержки по 4 сут приборов в камере влаги (в парах воды) при . Посл испытаний контролируются электрические параметры транзистора, характе- ризующие влагоустойчивость и устойчивость к резкой смене температур, корпуса. Результаты испытаний пока- заны на фиг. 1-.и 2 из которых видн что оптимальный режим криолиза - температура не выше -10°С в течение не менее 20 ч.

Выли проведень испытания на диодах 2Д212, 2Д106 и выпрямительных столбах 2Ц103, 2Ц1 П, 2ЦПЗ и получены положительные результаты. Технологический выход годных приборов возрастает на 1-5%. Параметры опыт-- ного компаунда, характеризующие его механические, химические и диэлектрические свойства в сравнении с известным компаундом ЭКМ приведены в табл. 1 .

Таблица 1

Тангенс угла ди- 1,5.10 1,Q2 10

электрических

потерь

4,84,2

10 -Ю

1,1950,2

218

234

Модуль Юнга,

кг/см 3,8-10 4,1-10

ТКЛР

130 -То- Тзо.-юРезультаты испытаний загерметизированных приборов приведены в табл. 2.

Т а б л и ц а 2

Изобретение относится к производству эпоксидных компаундов, применяемых для защиты деталей, узлов и блоков радиоэлектронной аппаратуры. Цель изобретения - увеличение надежности изделий на основе эпоксидных компаундов. Компаунд, содержащий эпоксидиановую смолу, малеиновый ангидрид, наполнители и ускоритель реакции, выдерживают при в течение 24 ч. Полученным компаундом ; при комнатной температуре 9аливают полугфоводниковые приборы и отверж- дают по ступенчатому режиму 80-165 С. Выход годных приборов после герметизации повышается на 2,5%, 2 шт. 2 табл. (С С/)

ЭКМ - известный компаунд.

ЭМ - идентичный по составу с опытным

компаундом, но не подвергнутый ;криолизу.

Как следует из приведенных дан1а 1х, отвердитель, при котором осуществляют

25

приборы, загерметизированные эпоксидным компаундом, полученным по предлагаемому способу, более устойчивы к внешним воздействиям.

Формула изобретени

Способ отверждения эпоксидного компаунда, содержащего эпоксидиано- вую смолу, наполнитель, пластификат инициатор и непредельный ангидридны

юо

&J

fa

-ю

Iff

отвердитель, при котором осуществляют

этой температуре.

ступенчатый нагрев и отверждение по эпоксидным группам и непредельным связям, отличающийся тем, что, с целью увеличения надежности изделий на основе эпоксидного компаунда, отверждение по непредельным связям осуществляют, выдерживая компаунд перед ступенчатым нагревом при температуре ниже 10 С в течение времени, меньшего времени его жизни при

-4ff

fSQ

Ч-55

so

r/«

то 50n

zo

30ifO

Фиг. 2

50 t, ЧОС