Изобретение относится к электронному машиностроению и может быть использовано при конструировании и изготовлении различных устройств, в работе которых используется явление электронной эмиссии с металлических поверхностей.
Целью изобретения является повьш1е- ние точности определения порога вторичной электронной эмиссии (ВЭЭ) металла .
В способе определения порога Е р металла, предусматривающем бомбардировку помещенной в откачанный прибор исследуемой мишени сфокусированным
пучком медленных электронов, для нахождения величины Е р получают распределения вторичных электронов cf, по энергиям в области малых энергий первичных электронов и строят график зависимости эффективного электронного сродства Хзфот энергии первичных электронов, причем величину ;t вычисляют по экспериментальным значениям коэффициента вторичной электронной эмиссии и количества электронов, входящих в вакуум с энергиями, меньшими энергии первичных электронов, по формуле
ел
00 vj JEib СП
1 +
- 6 1
J
N E I - t.4
1518745 X
1
E -1;
f ,
Ф
ли со
5 X
3 эВ и
3,5 эВ методом
(,,ф -.. .. , 2 ,
линейной интерполяции определялось соответствующее данной энергии Е р 6,2 эВ значение х ,
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Экран для запоминающей электронно-лучевой трубки | 1983 |
|
SU1142860A1 |
Способ вторично-ионной масс-спектрометрии твердого тела | 1978 |
|
SU708794A1 |
АНТИДИНАТРОННОЕ ПОКРЫТИЕ НА ОСНОВЕ ПОЛИМЕРНОЙ МАТРИЦЫ С ВКЛЮЧЕНИЕМ УГЛЕРОДНЫХ НАНОТРУБОК И СПОСОБ ЕГО ПОЛУЧЕНИЯ | 2020 |
|
RU2745976C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МНОГОСЛОЙНОГО ПОЛЕВОГО ЭМИТТЕРА | 2009 |
|
RU2399114C1 |
Способ выявления восстановительной среды минералообразования в магме | 1989 |
|
SU1728743A1 |
Способ послойного количественного анализа кристаллических твердых тел | 1989 |
|
SU1698916A1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ДЕТАЛЕЙ ЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРОВ ИЗ ПИРОЛИТИЧЕСКОГО ГРАФИТА | 1991 |
|
RU2024095C1 |
СПОСОБ ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКОГО УСКОРЕНИЯ МАКРОЧАСТИЦ | 2011 |
|
RU2455800C1 |
Устройство для измерения электрофизических параметров материалов | 1989 |
|
SU1705914A1 |
Способ и устройство для скоростного исследования протяженных объектов, находящихся в движении, с помощью частотных импульсных источников рентгеновского излучения и электронных приемников излучения | 2019 |
|
RU2720535C1 |
Изобретение относится к области электронного машиностроения и может быть использовано при конструировании и изготовлении устройств, в работе используется явление электронной эмиссии с металлических поверхностей. Цель изобретения - повышение точности определения порога вторичной электронной эмиссии. Для определения порога вторичной эмиссии на исследуемую мишень направляют сфокусированный пучок медленных электронов. Подавая на сетку прибора отрицательный по отношению к мишени потенциал, получают распределение вторичных электронов по энергиям. Для определения эффективного электронного сродства Хэф из полученных вторичных электронов вычитают упругоотраженные и по электронам, энергии которых меньше энергии электронов в первичном пучке, находят значения Хэф. На построенном графике зависимости Хэф от энергии первичных электронов Ер по излому на нем определяют величину порога вторичной эмиссии. 1 ил.
где ь - коэс}к1)ициеит вторичной электронной эмиссии
X .,- эффективное электронное срод
Е; - энергия В 1 оричных электроHOBj
ff; - количество вторичных электронов, выходящих в вакуум с энергией Е .
Способ осуществляют следующим образом,
MiimeHb, изготовленную из поликристаллической вольфрамовой фольги толщиной О,1 мм, тщательно обезгаживают Б вакууме -1U Торр при температуре 2500 К. Измерения проводят в г ра- боре типа квазисферического конденсатора с антидинатронной сеткой. Источником электронов служила электронная
пушка с прямонакальным вольфрамовым катодом. Распределение вторичных электронов по энергиям получали методом электрического дифференцирования кривых задержки вторичного тока и за- писывали на двухкоординатном самописце.
X 5 вычислялась для энергии первичных электронов Е р 6,2 эВ. Поскольку разброс по энергиям в первичном пуч- ке составлял 0,5 эВ,вторичные электроны, начиная с энергии 5,7 эВ, считались упруго отраженными, и поэтому разбиение кривой распределения проводилось вплоть до этой энергии. Шаг разбиения составлял 0,5 эВ. После определения количества электронов с, , принадлежащих различным интервалам энергий, подбирались два таких довольно близких значения х,, 3 эВ и з 3,5 эВ, чтобы одна из соответствующих им сумм
1 +
П Е1-э Ф
ilt
1
Ё i 4 ГГ
где E,j - средние значения энергий электронов в калодом из интервалов разбиения была несколько меньше, а другая - несколько больше экспериментального значе1Шя тока мишени 1 - 6 0,775. По этим двум значениям
0,823-0,740
3,21 эВ ,
0
5
0
5
0
-дО 45
Аналогичные вычисления х проводились для всех остальных значений Е
Как следует из представленной на чертеже (кривая 1) зависимости х р значение порога ВЭЭ для вольфрама равное 4,4 эВ оказалось весьма близким к рекомендованному в справочнике значению работы выхода вольфрама 4,54 эВ.
Затем на мишень напыляли массивный слой платины и определяли порог ВЭЭ этого слоя (кривая на чертеже) полученное значение 5,7 эВотличается от значения работы выхода платины 5,32 эВ. Одновременно с измерением пороговых значений энергии определялась и величина контактной разности потенциалов между вольфрамовой подложкой и напыленным глоем платины по методу Андерсона, которая составила 1,3 эВ, что точно соответствует разносит пороговых значений энергии для вольфрама и платины
Формула изобретения
Способ определения порога вторичной электронной эмиссии металла, заключающийся в бомбардировке в вакууме исследуемой мишени пучком сфокусированных медленных электронов и регистрации энергетических распределений вторичных электронов при различных энергиях первичного пучка, отличающийся тем, что, с цел ью повьше- ния точности определения порога вторичной электронной эмиссии, измеряют количество электронов , выходящих в вакуум с энергиями Е, меньшими энергии первичных электронов, и полный ток вторичных электронов, по которому определяют коэффициент втсфич- ной электронной эмиссии 6, затем по найденным величинам рассчитывают величину эффективного электронного сродства х,4, строят график зависимости X ф от энергии первичных электронов и по излому на графике определяют порог вторичной электронной эмиссии .
зд), iS
6 V 2 II
III
8 fp.iB
Бронштейн И.М., Фрайман Б.С | |||
Вторичная электронная эмиссия | |||
М.: Паука, 1969, с | |||
Способ окисления боковых цепей ароматических углеводородов и их производных в кислоты и альдегиды | 1921 |
|
SU58A1 |
Добрецов Л.Н., Гомоюнова М.В | |||
Эмиссионная электроника | |||
М.: Наука, 1966, с | |||
Самовар-кофейник | 1918 |
|
SU354A1 |
Авторы
Даты
1989-10-30—Публикация
1986-12-05—Подача