Способ магнитографического контроля и устройство для его осуществления Советский патент 1990 года по МПК G01N27/85 

Описание патента на изобретение SU1552084A1

ФигА

Изобретение относится к магниторафической дефектоскопии и может ыть использовано при контроле качетва изделий из ферромагнитных мате- г иалов.

Целью изобретения является повышеие информативности контроля за счет аспознавания количества дефектов ри оценке качества изделия. JQ

На- фиг. 1 - 3 показана схема записи дефектов на магнитный носитель, расположенньй под разными углами к поверхности изделия (Не - вектор напряженности подмагничивающего поля); 15 на фиг. 4 - устройство для магнитографического контроля с размещенным в нем отрезком магнитных носителей.

Устройство для магнитографического контроля содержит магнитный носитель 20 1, включающий эластичную немагнитную основу 2 и закрепленные на ней отрезки 3 магнитных лент. В основе 2 выполнены пазы 4 под различными углами в пределах от 0 до 90 к рабочей по- 25 верхности основы, отрезки 3 магнитных лент закреплены на рабочей поверхности основы 2 и в пазах 4 с помощью немагнитных клиновидных прокладок (не показано). В процессе контроля 30 с помощью магнитного носителя проводят запись дефектов 5„

Способ осуществляют следующим образом.

Контролируемое изделие 6 намагничивают П-образным электромагнитом (не показан), располагают под углом к поверхности магнитный носитель 1, состоящий не менее чем из двух отрезков 3 магнитных лент под разными уг- 0 лами у к поверхности изделия, а наличие и количество дефектов определяют путем сравнения полученных магнитограмм. При этом углы расположения отрезков лент выбирают в пределах от 45

0до 90°.

Когда , 0, отрезки магнитной ленты располагаются параллельно поверхности изделия (фиг. 1) и на него записываются все дефекты (вектора на- -п пряженности полей рассеяния всех де- Ъектов Hi пересекают магнитную ленту),

В остальных случаях &J,Ha отрезок магнитной ленты записываются два дефекта. При увеличении

1ot (., фиг. 3 на отрезок магнитной ленты записывается поле одного дефекта. О глубине залегания дефектов СУД.ЯТ по ширине полуволновых маг35

55

5

0 5 0

0 5

п

5

5

нитных отпечатков полей рассеяния. Большая ширина отпечатка соответствует большей глубине залегания дефекта.

Немагнитная основа 2 может быть изготовлена из резины, поролона, каучука и т.д. Благодаря упругости основы происходит фиксация отрезка магнитной ленты и установка ее в пазы. Нижний отрезок крепится к основе приклеивания . Угол об совпадает с углом наклона прорезанных в основе пазов 4. Крайние отрезки располагаются под yi- лом 90 относительно друг друга. Использование способа позволяет определить размер, глубину залегания и количество дефектов путем сравнения магнитограмм, полученных при различных углах оЬ,

Пример С помощью предлагаемого способа и устройства контролируют соединение, в сварном шве которого сделаны искусственные поры - просверлены отверстия диаметром , 2 и 3 ммо При расшифровке полученных магнитограмм на нижнем отрезке ленты обнаружены сигналы от трех дефектов, на следующем - от двух, на третьем отрезке обнаружен сигнал только от дефекта диаметром 3 мм.

Формула изобретения

1.Способ магнитографического контроля, заключающийся в том, что контролируемое изделие намагничивают с помощью П-образного электромагнита, располагают под углом к поверхности магнитный носитель, производят запись магнитного рельефа поверхности и по считанной магнитограмме определяют наличие дефектов изделия, отличающийся тем, что, с целью повышения информативности контроля

за счет распознавания количества дефектов в зоне контроля при перемещении носителя, запись рельефа контролируемой поверхности производят на магнитный носитель, состоящий не менее чем из двух отрезков магнитных лент, располагаемых под разными углами к поверхности изделия, а количество дефектов определяют путем сравнения полученных магнитограмм.

2.Способ по п. 1, о т л и ч а - ю щ и и с я тем, что углы расположения отрезков лент выбирают в пределах 0-90°.

3. Устройство для магнитографического контроля, содержащее эластичную немагнитную основу и закрепленные на ней отрезки магнитных лент, отличающееся тем, что в основе выполнены пазы под различными углами

к рабочей поверхности, а отрезки магнитных лент закреплены на рабочей поверхности основы и в пазах с помощью немагнитных клиновидных прокладок.

Похожие патенты SU1552084A1

название год авторы номер документа
Способ магнитографического контроля изделий из ферромагнитных материалов 1987
  • Шур Михаил Львович
  • Ваулин Сергей Леонидович
  • Щербинин Виталий Евгеньевич
SU1413513A1
Способ магнитографического контроля сварных швов 1990
  • Новиков Владимир Алексеевич
  • Романов Вячеслав Анатольевич
SU1755169A1
Устройство для магнитографической дефектоскопии 1981
  • Хусанов Мухаммед Хамидуллович
  • Егорычев Николай Михайлович
SU1002948A1
Способ магнитографического контроля изделий из ферромагнитных материалов 1991
  • Романов Вячеслав Анатольевич
  • Новиков Владимир Алексеевич
SU1797032A1
Способ магнитографического контроля изделий из ферромагнитных материалов 1989
  • Новиков Владимир Алексеевич
  • Романов Вячеслав Анатольевич
  • Шкель Михаил Антонович
  • Алексеенко Евгений Сергеевич
SU1704058A1
ИНДУКТОР ВИХРЕВЫХ ТОКОВ ДЛЯ МАГНИТОГРАФИЧЕСКОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ И СКАНЕР НА ЕГО ОСНОВЕ 2009
  • Левый Сергей Васильевич
  • Агалиди Юрий Сергеевич
  • Шумский Иван Петрович
RU2464555C1
Способ магнитографического контроля изделий из ферромагнитных материалов 1988
  • Новиков Владимир Алексеевич
SU1608566A1
Способ магнитографического контроля 1978
  • Шарова Александра Михайловна
  • Новиков Владимир Алексеевич
  • Куликов Валерий Петрович
  • Хилинская Людмила Михайловна
SU785726A1
Способ магнитографического контроля изделий из ферромагнитных материалов 1984
  • Шур Михаил Львович
  • Ваулин Сергей Леонидович
  • Щербинин Виталий Евгеньевич
SU1255911A1
Способ магнитографического контроля и устройство для его осуществления 1985
  • Клюев Владимир Владимирович
  • Козлов Валерий Сергеевич
  • Степаненко Александр Васильевич
  • Барановский Владимир Иосифович
  • Корольков Михаил Иванович
  • Семенов Орест Семенович
SU1462177A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 552 084 A1

Реферат патента 1990 года Способ магнитографического контроля и устройство для его осуществления

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов. Цель изобретения - повышение информативности магнитографического контроля. Для достижения цели на контролируемое изделие укладывается магнитный носитель. Располагая магнитный носитель под различными углами в пределах от 0 до 90° и сравнивая полученные магнитограммы, определяют качество изделия. Способ реализуется с помощью устройства, содержащего набор отрезков 3 магнитных лент, вставляемых в пазы 4 упругой эластичной ферромагнитной основы 2. 2 с.п. ф-лы, 1 з.п. ф-лы, 4 ил.

Формула изобретения SU 1 552 084 A1

Фиг.1

Редактор И. Дербяк

Составитель А. Бодров

Техред Л.Сердюкова Корректор. Палий

Заказ 326

Тираж 509

ВНИИЛИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат Патент, г.Ужгород, ул. Гагарина,101

фиг.З

Подписное

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1990 года SU1552084A1

Способ магнитографического контроля 1978
  • Шарова Александра Михайловна
  • Новиков Владимир Алексеевич
  • Куликов Валерий Петрович
  • Хилинская Людмила Михайловна
SU785726A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Способ магнитографического контроля ферромагнитных изделий 1985
  • Шарова Александра Михайловна
  • Лаврентьева Виктория Михайловна
  • Выборненко Сергей Иванович
  • Давыдков Алексей Алексеевич
  • Слуцкая Лариса Васильевна
  • Сазонов Юрий Иванович
SU1310707A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 552 084 A1

Авторы

Романов Вячеслав Анатольевич

Шарова Александра Михайловна

Давыдков Алексей Алексеевич

Выборненко Сергей Иванович

Даты

1990-03-23Публикация

1988-06-20Подача