Установка для термовакуумных испытаний материалов Советский патент 1990 года по МПК G01N3/18 

Изобретение относится к испытательной технике для исследования микроструктуры и прочностных свойств материалов в условиях вакуума и высокотемпературных режимов. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей путем обеспечения исследований кинетики микроструктурных превращений и механических свойств материалов при концентрированных высокоскоростных температурных воздействиях. Установка содержит высокоэнергетический импульсный источник 1, керамическую теплозащитную оболочку 8, захваты 10, микроскоп 13, вакуумную камеру 17. При испытаниях образец подвергают высокотемпературным импульсным воздействиям от источника 1. Регистрацию кинетики микропревращений в материале образца осуществляют микроскопом 13. Керамическая теплозащитная оболочка 8 обеспечивает постоянное фокусное расстояние от объектива микроскопа до образца и предотвращает прогиб образца во время его нагрева, что позволяет осуществить четкую регистрацию кинетики микроструктурных превращений в образце при высокотемпературных импульсных воздействиях. 2 з.п. ф-лы, 1 ил.