Способ контроля формы поверхности объекта Советский патент 1991 года по МПК G01B3/24 

Фиг. 1

Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для измерения формы поверхности объектов в авиа- и судостроении.

Целью изобретения является повышение надежности за счет выполнения отсчет- ного узла в виде гибкой пленки.

На фиг. 1 приведена схема контроля; на фиг. 2 - гибкая пленка с теоретическими кривыми профилей и базовыми линиями; на фиг. 3 - схема взаимосвязи смещения профиля.

Схема содержит гибкую пленку 1 с теоретическими кривыми 2 контролируемых профилей и базовыми линиями 3 и 4, источник 5 излучения, ось 6 поворота источника и датчики угла поворота источника (не показаны).

Гибкая пленка предназначается для облегчения контролируемой поверхности, источник измерения установлен с возможностью поворота вокруг двух координатных осей с целью проектирования следа световой марки в любую точку гибкой пленки 1. В качестве источника с датчиками угла могут быть использованы, например, лазерные теодолиты. На чертеже так же показаны контролируемая поверхность 7, которую облегает гибкая пленка 1, базовые точки 8 оси с источником и след световой марки 9 на гибкой пленке. Кроме того, Оо, Oi - опорные точки: end- постоянные расстояния от поверхностей; X и Y - координатные оси; Д1 - величина смещения следа световой марки на гибкой пленке; р - угол наклона источника; AY - расчетная величина смещения.

Способ осуществляется следующим образом.

Предварительно на контролируемую поверхность 7 устанавливают гибкую пленку 1 так, чтобы она облегала контролируемую поверхность, а над точкой пересечения базовых линий Оо устанавливают ось 6 поворота источника света. Положение вертикальной оси излучателя определяют, выдерживая расстояние от опорных точек 8 излучателя, располагаемых над базовыми линиями 3 и 4 на постоянных расстояниях

от поверхностей end.

Положение излучателя относительно горизонтальной оси X определяют по одной из точек Oi, ... Oi на базовой линии 3. Проектируют от источника 5, установленного в расчетное положение, световую марку на гибкую пленку 1. Последовательно перемещают световую марку 9 вдоль одной из линий 2 контролируемого профиля, поворачивая источник 5. Определяют

величину смещения следа световой марки относительно теоретической кривой 2 профиля и по измеренной величине смещения следа световой марки относительно теоретической кривой и углу наклона источника

вычисляют величину отклонения контролируемой поверхности от эталонного профиля.

Формула изобретения Способ контроля формы поверхности

обьекта, заключающийся в том, что проектируют световую марку на контролируемый объект под заданным углом, перемещают ее вдоль контролируемого сечения объекта и по смещению марки относительно начального положения, судят о форме контролируемой поверхности объекта, отличающий- с я тем, что, с целью повышения надежности за счет выполнения отсчетного узла в виде гибкой пленки, предварительно наносят теоретические кривые профилей сечений контролируемой поверхности и взаимно перпендикулярные базовые линии на гибкую пленку, перед проектированием световой марки устанавливают на контро0 лируемой поверхности гибкую пленку и обжимают ее с контролируемым объектом, а проектирование световой марки производят из точки, лежащей на оси, проходящей через точку пересечения базовых

5 линий.

Изобретение позволяет контролировать отклонение формы поверхности объекта от эталонной. Целью изобретения является повышение надежности за счет выполнения отсчетного узла в виде гибкой пленки. Предварительно устанавливают на контролируемой поверхности 7 гибкую пленку 1 с теоретическими кривыми на ней и обжимают ее. Проектируют на контролируемую поверхность световую марку от источника 5, расположенного над пересечением базовых линий на гибкой пленке. Перемещают световую марку вдоль контролируемого профиля и определяют ее смещение относительно теоретической кривой на пленке 1 и по изменению величины смещения следа марки и углу наклона источника вычисляют отклонение контролируемой поверхности от эталонного профиля. 3 ил.

А/г. 2

Фие.З