Намагничивающее устройство для магнитной дефектоскопии Советский патент 1991 года по МПК G01N27/85 

Описание патента на изобретение SU1649411A1

А-А

Похожие патенты SU1649411A1

название год авторы номер документа
Намагничивающее устройство дефектоскопа 2019
  • Марков Анатолий Аркадиевич
  • Бовдей Владимир Александрович
  • Антипов Андрей Геннадьевич
RU2715473C1
Устройство для намагничивания изделий при дефектоскопии 1985
  • Зацепин Николай Николаевич
  • Асташенко Петр Павлович
  • Рысейкин Николай Иванович
SU1377710A1
Устройство намагничивания для средств неразрушающего контроля длинномерных изделий 2019
  • Марков Анатолий Аркадиевич
  • Антипов Андрей Геннадиевич
RU2702809C1
Магнитная система сканера-дефектоскопа 2016
  • Марков Анатолий Аркадиевич
RU2680103C2
Устройство намагничивания для магнитной дефектоскопии 1989
  • Выборненко Сергей Иванович
  • Шарова Александра Михайловна
  • Гнедин Михаил Михайлович
  • Жабыко Владислав Николаевич
SU1573413A1
СПОСОБ МАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ ПОДОШВЫ РЕЛЬСОВ 2020
  • Марков Анатолий Аркадиевич
  • Антипов Андрей Геннадиевич
  • Мосягин Владимир Валентинович
RU2736177C1
НАМАГНИЧИВАЮЩЕЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ДЕФЕКТОСКОПИИ 2008
  • Федюкович Геннадий Иванович
RU2370761C1
Дефектоскоп для контроля протяженных ферромагнитных изделий 1978
  • Миндели Элизбар Онисимович
  • Каландадзе Владимир Андреевич
  • Стефаниди Константин Ламбрианович
SU1401365A1
Намагничивающее устройство для магнитографической дефектоскопии 1986
  • Михайлов Сергей Петрович
  • Щербинин Виталий Евгеньевич
SU1364967A1
НАМАГНИЧИВАЮЩЕЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ МАГНИТОГРАФИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ 1993
  • Михайлов С.П.
RU2086974C1

Иллюстрации к изобретению SU 1 649 411 A1

Реферат патента 1991 года Намагничивающее устройство для магнитной дефектоскопии

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества протяженных изделий из ферромагнитных материалов. Целью изобретения является повышение производительности магнитного контроля протяженных изделий за счет снижения веса и габаритов магнитопровода. Для этого магнитопро- вод 1 выполнен с возможностью свободного перемещения по токопроводу 2 с помощью втулки 3 и по контролируемому объекту с помощью закрепленных на боковых поверхностях магнитопровода колес 4. 2 з.п. ф-лы, 2 ил.

Формула изобретения SU 1 649 411 A1

1

Фиг1

Изобретение относится к неразрушающему контролю изделий магнитным методом дёбектоскопии и может быть использовано при контроле качества протяженных ферромагнитных изделий.

Целью изобретения является упрощение устройства для дефектоскопии за счет сокращения количества элементов магнитопровода до одного и выполнения его подвижным.

На фиг. 1 показано устройство, общий вид на фиг. 2 - разрез А-А на фиг. 1.

Устройство содержит магнитопровод f, устанавливаемый на токопровод 2, в магнитопровод 1 запрессована втулка 3 из немагнитного антифрикционного материала (полиуритан, тефлон и т.д.) для свободного перемещения магнито- провода 1 по токопроводу 2.

Нагнитопровод 1 снабжен колесами 4 из немагнитного материала для обеспечения перемещения магнитопровода вдоль токопровода и по контролируемо- му изделию 5 с заданным зазором 0,3- 0,5 им,

Устройство работает следующим образом.

На контролируемое изделие 5 внача- ле контролируемого участка устанавливается магнитопровод 1, который может перемещаться по поверхности контролируемого изделия 5 с помощью колес 4, выполненных из немагнитного материала. Конструкция магнитопровода 1 обеспечивает наличие воздушного зазора между полюсами магнитопровода и поверхностью контролируемого изделия, что способствует его перемещению по

поверхности изделия без приложения значительных усилий. Дцоль контролируемой поверхности укладывается токо

0

5

5

0

провод 2, один конец которого пропускается сквозь внутреннее отверстие втулки 3, закрепленной на внутренней поверхности магнитопровода 1, после чего проводник подключается к источнику питания. Намагничивание контролируемого сечения осуществляется путем плавного перемещения магнитопровода 1 по токопроводу 2 и по поверхности контролируемого изделия 5 так, чтобы контролируемое сечение располагалось симметрично относительно полюсов магнитопровода 1.

Использование предлагаемого изобретения обеспечивает повышение производительности магнитного контроля изделий большой протяженности путем уменьшения веса намагничивающего устройства, а также оптимальной ориентации его относительно контролируемого сечения .

Формула изобретения

1.Намагничивающее устройство для магнитной дефектоскопии, содержащее токопровод и охватывающий его магни- топро-вод для намагничивания участка изделия, отличающееся тем, что, с целью упрощения устройства, магнитопровод установлен с возможностью перемещения его вдоль токопровода.2.Устройство по п. 1, отличающееся тем, что магнитопровод выполнен с антифрикционным покрытием на поверхности, сопряженной с токопроводом.3.Устройство по пп. 1 и 2, отличающееся тем, что оно снабжено опорными немагнитными колесами, установленными на магнитопро-ч воде.

Фиг.1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1991 года SU1649411A1

Неразрушающий контроль металлов и изделий
Справочник./Под ред
Г.С.Самойловича
Планшайба для точной расточки лекал и выработок 1922
  • Кушников Н.В.
SU1976A1
Паровозный золотник (байпас) 1921
  • Трофимов И.О.
SU153A1

SU 1 649 411 A1

Авторы

Выборненко Сергей Иванович

Шарова Александра Михайловна

Гнедин Михаил Михайлович

Жабыко Владислав Николаевич

Даты

1991-05-15Публикация

1988-06-20Подача