Способ определения равномерности распределения легирующих элементов в сплавах Советский патент 1991 года по МПК G01N23/00 

Изобретение относится к металлургии, в частности к физическим методам определения равномерности распределения легирующих элементов, и может найти применение при создании материалов с заданными свойствами.

Цель изобретения - повышение точности определения равномерности распределения легирующих элементов ъ сплавах за счет использования дисперсионного метода анализа.

Способ определения равномерности распределения легирующих элементов в сплавах включает подготовку образцов, получение и обработку спектрограмм определяемого элемента, в котором о равномерности судят по значимости средневзвешенных дисперсий отношений интенсивностей аналитической и матричной гомологичных пар спектральных линий на -основании F-распределения.

Пример. Сплав системы Fe-B- C-Si-Mn-Cr выплавляют в вакуум-индукционной печи с разливкой в слиток и последующим затвердеванием в среде инертного газа, удаляют прибыльную и донную части, отжигают и обрабатывают верхнюю и нижнюю поверхности образца (сечения 1 и 2) на алмазном

ГС

руге до шероховатости Кл не более 0 мкм. Подвергают зачищенные поверхости образца воздействию искрового азряда от генератора, производят по с 10 обыскриваний на каждой поверхности образца при использовании железного электрода. Разлагают излучение в спектр с помощью спектрографа и регистрируют эти спектры на фотоплас- to тинку. Выбирают под спектропроекто- ром при наличии специальных таблиц гомологичные пары спектральных ли- ний. На микрофотометре измеряют плотности почернений спектральных линий 15 с последующим переводом их в интенсивности с- помощью характеристической кривой фотопластинки. Находят значения относительных (R) интенсивностей, например B/Fe и Fe/Fe, затем выбо- 20 рочные дисперсии отношений- интенсив- ностей аналитической (Si) и матричной (Si)r пар обоих сечений образца. Затем определяют средневзвешенные дисперсии отношений интенсивностей 25 аналитической V(S) и матричной (S4) пар спектральных линий и находят параметр F)ccn, который сравнивают с табличным при уровне значимости q и числе степеней свободы f и f Ј. 30

В табл. 1 представлены данные для определения равномерности распределения В, Si, Mn, Сг в сплаве и параметр F; в табл. 2 - сравнительные данные по точности определения равно- мерности распределения легирующих элементов.

Предлагаемый способ дает возможность использования методов эмиссионного спектрального и дисперсионного анализа в качестве более точного, простого и универсального способа определения равномерности распределения элементов в сплавах. Формула изобретения

Способ определения равномерности распределения легирующих элементов в сплавах, включающий выплавку, отжиг и механическую обработку образцов,- отличающийся тем, что, с целью повышения точности, после механической обработки снимают спектрограммы и определяют значения относительных интенсивностей гомологичных пар спектральных линий легирующего и основного элементов, далее определяют средневзвешенные дисперсии, относительных интенсивностей и на основании сравнения их отношения с табличными значениями F-распределения судят о равномерности распределения легирующего элемента.

Изобретение относится к металлургии, в частности к физическим методам определения равномерности распределения элементов, и может найти применение при создании материалов с заданными свойствами. Цель изобретения - повышение точности определения равномерности распределения элементов в сплавах за счет использования дисперсионного метода анализа. Способ включает выплавку, отжиг, механическую обработку и спектральный анализ образцов, причем определяют спектрограммы и значения относительных интен- сивностей пар спектральных линий легирующего и основного элементов, далее определяют средневзвешенную дисперсию относительных интенсивностей, и на основании сравнения ее с табличными значениями F-распределения судят о равномерности распределения легирующего элемента. Точность предлагаемого способа выше в 2-6 .раз. 2 табл. (Я

а |8 л и ц а I

Сплав

Si 0,40-1,0 3,4 Мп 1,0-2,0 2,3 А1 0,12-0,15 7,9 В 3,0 2,1

Таблица 1

Относительная погрешность определения, %, по способу

известному

предлагаемому

0,87 0,87 1,3

0,77