Способ измерения рабочих емкостей плоских накладных измерительных конденсаторов Советский патент 1991 года по МПК G01R27/26 

Описание патента на изобретение SU1656476A1

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения рабочей емкости плоских накладных конденсаторов.

Цель изобретения - повышение точности измерения рабочей емкости плоских накладных конденсаторов.

Способ измерения рабочих емкостей емкостных датчиков заключается в поочередном измерении емкостей конденсаторов и последующем расчете рабочих емкостей, при этом два плоских симметричных конденсатора накладываю друг на друга, изме- ряют емкость полученной системы конденсаторов, а затем рассчитывают рабочую емкость по формуле Ci + С.2 - Со

Ср

0)

где Ср - рабочая емкость каждого из плоских накладных конденсаторов (пФ);

Ci, C2 - емкости каждого из двух конденсаторов (пФ),

Со - паразитная емкость подложек двух зеркально совмещенных плоских накладных конденсаторов (пФ).

Для осуществления способа напыляют два зеркально симметричных плоских накладных конденсатора на подложку из диэлектрика. Это приводит к тому, что их паразитные емкости будут практически равны. Различия будут определяться лишь различием диэлектрических свойств подложек. Для измерения паразитных емкостей подложек необходимо устранить из измерений рабочую емкость. С этой целью два зеркально симметричных конденсатора накладывают зеркально рабочими областями друг на друга. В результате емкость полученной системы Со из двух плоских конденсаторов будет определяться только емкостями подложек. Измерив эту емкость, можно опредео ел о VI о

лить рабочую емкость конденсаторов. Для этого отдельно измеряют емкости Ci и С2 каждого из конденсаторов и вычитают из их суммы емкость подложек С0. Полученное значение емкости будет равно сумме рабочих емкостей каждого из конденсаторов. Следовательно, рабочие емкости каждого из конденсаторов будут определяться как

г Ci + С2 - Со,„.

Р2

Применение двух идентичных зеркально симметричных плоских накладных конденсаторов устраняет необходимость выполнения расчетов емкости для частично заполненного конденсатора. Благодаря этому устраняется расчетная ошибка в определении рабочей емкости. Так как для реализации способа нет необходимости в предварительном расчете емкостей, он применим для определения рабочих емкостей плоских накладных конденсаторов с любой конфигурацией электродов, когда выполнить расчеты емкости с заданной точностью невозможно.

На фиг. 1 изображены два плоских конденсатора, выполненные зеркально симметрично друг относительно друга; на фиг. 2 - та же система двух конденсаторов, зеркально совмещенных друг с другом.

Способ осуществляется следующим образом.

Методом напыления на подложки из одного диэлектрика наносят два зеркально симметричных плоских конденсатора. Измеряют емкости каждого из них Ci и С2. Располагают их симметрично друг относительно друга. Накладывают зеркально рабо- чими областями друг на друга, затем измеряют емкость полученной системы из двух конденсаторов С0. После этого определяют из результатов измерений рабочие емкости конденсаторов по формуле

г - Ci -Ь Cz - Co ьр -2

Прим е р. На две плоские керамические пластины 48 30 С1 мм были нанесены две зеркально совмещенные системы ленточных электродов. Емкости полученных накладных конденсаторов составили: Ci 2,03 пФ, С 2,12 пФ. При наложении электродов друг на друга измеренная емкость составила Со 0,78 пФ. Эта емкость является паразитной. Рабочие емкости для каждого из конденсаторов равны Cip C2p - 1.685 пФ.

Предложенный способ имеет следующие преимущества. Значительно сокращается время определения рабочей емкости, так как нет необходимости расчета частичных емкостей. Способ позволяет измерять паразитные и рабочие емкости для плоских

накладных конденсаторов с любой конфигурацией электродов с более высокой точностью, когда выполнить точные расчеты емкости невозможно. Таким образом, изобретение позволяет существенно расширить возможности определения рабочих емкостей для плоских накладных конденсаторов со сложной формой электродов и повысить точность измерения рабочей и паразитной емкостей.

Формула изобретения

Способ измерения рабочих емкостей плоских накладных измерительных конденсаторов, заключающийся в поочередном измерении емкостейнакладных

конденсаторов и последующем расчете рабочих емкостей, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, при наложении двух плоских симметричных накладных конденсаторов рабочими

областями зеркально друг на друга измеряют емкость полученной системы конденсаторов, а затем рассчитывают рабочую емкость по формуле г - Ci + С2 - Со

Р2

где Ср - рабочая емкость накладного конденсатора;

Ci, C2 - емкости каждого из конденсаторов;

Со паразитная емкость подложек двух

зеркально совмещенных плоских накладных конденсаторов.

TnZHSZjM.f-

Похожие патенты SU1656476A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ АБСОЛЮТНОЙ ВЛАЖНОСТИ МАТЕРИАЛОВ 2019
  • Ходунков Вячеслав Петрович
RU2732477C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ЕМКОСТИ ЕМКОСТНОГО ДАТЧИКА 1989
  • Астайкин А.И.
  • Помазков А.П.
SU1736257A1
Способ бесконтактного определения удельного электрического сопротивления полупроводников 1990
  • Федонин Александр Иванович
  • Рогулин Владимир Юрьевич
  • Дроздов Сергей Анатольевич
  • Финк Евгений Васильевич
SU1744736A1
Способ измерения диэлектрической проницаемости материалов 1990
  • Михайленко Андрей Алексеевич
SU1765786A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОКА В КАНАЛЕ ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПРОБОЯ ДИЭЛЕКТРИКА 2015
  • Пахотин Владимир Александрович
  • Закревский Владимир Александрович
  • Сударь Николай Тобисович
RU2589509C1
СИСТЕМА ИЗМЕРЕНИЯ УРОВНЯ ЗАПРАВКИ 2009
  • Лазарев Анатолий Викторович
  • Королев Руслан Александрович
  • Загвоздкин Андрей Яковлевич
RU2414687C1
СПОСОБ ОТБРАКОВОЧНЫХ ИСПЫТАНИЙ ПОДЛОЖКИ ИЗ ДИЭЛЕКТРИКА ИЛИ ПОЛУПРОВОДНИКА С ТОПОЛОГИЕЙ, ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ НА СТОЙКОСТЬ К ВНЕШНИМ ВОЗДЕЙСТВУЮЩИМ ФАКТОРАМ 1998
  • Борисов Ю.И.
  • Грошев А.С.
  • Юдин Б.Н.
  • Яфраков М.Ф.
RU2138830C1
Измерительный конденсатор 1976
  • Потапов Алексей Алексеевич
SU661622A1
ПЛЕНОЧНЫЙ КОНДЕНСАТОР 1993
  • Сумин П.П.
  • Погуляев В.В.
  • Головенко Ю.Н.
  • Блинов Г.А.
  • Крошкин Б.Б.
RU2046429C1
СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПЛОСКОСТНОСТИ ПОВЕРХНОСТЕЙ ТРУБОПРОВОДНОЙ АРМАТУРЫ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2005
  • Харитонов Петр Тихонович
RU2386104C2

Иллюстрации к изобретению SU 1 656 476 A1

Реферат патента 1991 года Способ измерения рабочих емкостей плоских накладных измерительных конденсаторов

Изобретение относится к контрольно- измерительной технике и может быть использовано в научно-исследовательской работе. Цель изобретения - повышение точности измерения рабочей и паразитной емкостей плоских накладных конденсаторов. Методом напыления на подложках из одного диэлектрика изготавливают два зеркально-симметричных плоских конденсатора. Измеряют емкость каждого из них Ci и С2. Затем накладывают их рабочими областями так, чтобы они были зеркально симметричными друг относительно друга, и определяют емкость полученной системы Со. После этого определяют рабочие емкости плоских накладных конденсаторов по формуле Способ позволяет повысить точность измерения рабочей и паразитной емкостей плоских накладных конденсаторов с любой конфигурацией электродов. 2 ил. СП

Формула изобретения SU 1 656 476 A1

Фиг.I

ТРГТ77К/gTTfJTTT

M 4 SS&SS

Фиг.2

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1991 года SU1656476A1

Матис И.Г
Электроемкостные преобразователи для неразрушающего контроля
Рига
Зинатне
Устройство для видения на расстоянии 1915
  • Горин Е.Е.
SU1982A1
Приспособление для уменьшения дымовой тяги паровоза 1920
  • Шелест А.Н.
SU270A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАБОЧЕЙ ЕМКОСТИ ЕМКОСТНОГО ДАТЧИКА 0
  • И. Г. Матис Институт Механики Полимеров Латвийской Сср
SU391496A1

SU 1 656 476 A1

Авторы

Джежора Александр Александрович

Даты

1991-06-15Публикация

1988-12-12Подача