СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ МАГНИТНОЙ СТРУКТУРЫ ОБРАЗЦОВ МАТЕРИАЛОВ Советский патент 1999 года по МПК G01R33/12 

Способ определения параметров магнитной структуры образцов материалов, включающий воздействие на образец насыщающим переменным магнитным полем в выбранном направлении и осуществление первого измерительного цикла, включающего намагничивание образца путем одновременного воздействия затухающим переменным и постоянным магнитными полями в выбранном направлении, измерение остаточной намагниченности образца, частичное размагничивание образца в направлении, перпендикулярном выбранному, и повторное измерение остаточной намагниченности, отличающийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей способа за счет дополнительного определения степени магнитной многоосности частиц образца в первом измерительном цикле, после повторного измерения остаточной намагниченности вновь осуществляют намагничивание образца в выбранном направлении и измерение остаточной намагниченности образца, после чего воздействуют на образец материала насыщающим переменным магнитным полем в направлении, перпендикулярном выбранному, и проводят второй измерительный цикл, а степень магнитной многоосности частиц образца и величины намагниченностей определяют из соотношений





a = h₂/h₁,
где n_мд и n_од - степень магнитной многоосности многодоменных и однодоменных частиц соответственно;
Iмдr

и Ioдr - - величины остаточных намагниченностей многодоменных и однодоменных частиц соответственно;
- значения остаточных намагниченностей, полученные в первом измерительном цикле после намагничивания образца полем h₁ в выбранном и перпендикулярном ему направлениях;
- значения остаточных намагниченностей, полученные во втором измерительном цикле после намагничивания образца полем h₁ в выбранном и перпендикулярном ему направлениях;
- значения остаточных намагниченностей, полученные в первом и втором циклах после частичного размагничивания образца полем h₂ соответственно.