Устройство для контроля качества цилиндрической поверхности Советский патент 1991 года по МПК G01B11/30 

Описание патента на изобретение SU1684594A2

Похожие патенты SU1684594A2

название год авторы номер документа
Устройство для контроля качества цилиндрической поверхности 1988
  • Гроссман Мирон Исакович
  • Бирман Вячеслав Борисович
  • Седельников Вячеслав Аркадьевич
SU1562697A1
Устройство для контроля качества цилиндрической поверхности 1988
  • Гроссман Мирон Исакович
  • Бирман Вячеслав Борисович
  • Седельников Вячеслав Аркадьевич
SU1562695A1
Устройство для контроля качества цилиндрической поверхности 1988
  • Гроссман Мирон Исакович
  • Бирман Вячеслав Борисович
  • Седельников Вячеслав Аркадьевич
SU1562694A1
Устройство для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий 1987
  • Суминов Вячеслав Михайлович
  • Гребенюк Елена Ивановна
  • Витман Александр Дмитриевич
  • Зайченкова Елена Борисовна
SU1422005A1
Система для контроля качества внутренних поверхностей 1985
  • Суминов Вячеслав Михайлович
  • Гребенюк Елена Ивановна
  • Витман Александр Дмитриевич
  • Кречман Геннадий Ричардович
SU1298546A1
Устройство для контроля качества наружной резьбы 1991
  • Гребенюк Елена Ивановна
  • Зайченкова Елена Борисовна
  • Витман Александр Дмитриевич
  • Лапина Ольга Нептуновна
  • Акулин Дмитрий Евгеньевич
SU1803735A1
Устройство для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий 1980
  • Суминов Вячеслав Михайлович
  • Гребнев Анатолий Анатолиевич
  • Гребенюк Елена Ивановна
  • Кречман Геннадий Ричардович
  • Уваров Алексей Васильевич
SU938010A1
Устройство для контроля дефектов поверхности цилиндрических деталей 1987
  • Гроссман Мирон Исакович
  • Бирман Вячеслав Борисович
  • Седельников Вячеслав Аркадьевич
SU1465699A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЛИНЕЙНЫХ РАЗМЕРОВ ИЗДЕЛИЯ, ВЫПОЛНЕННОГО С ВПАДИНАМИ И ВЫСТУПАМИ НА ПОВЕРХНОСТИ 2015
  • Леун Евгений Владимирович
RU2603516C1
РЕНТГЕНООПТИЧЕСКИЙ ЭНДОСКОП 2009
  • Маклашевский Виктор Яковлевич
  • Кеткович Андрей Анатольевич
  • Самодурова Валентина Ивановна
RU2405137C1

Иллюстрации к изобретению SU 1 684 594 A2

Реферат патента 1991 года Устройство для контроля качества цилиндрической поверхности

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для обнаружения дефектов наружных цилиндрических поверхностей, преимущественно изоляции эмалированных проводов. Цель изобретения - повышение чувствительности и достоверности контроля за счет пропорционального повышения разности между световыми потоками, отраженными от дефектной и нормальной поверхностей, приводящего к обнаружению более мелких дефектов, а также за счет увеличения вероятности обнаружения дефектов. Устройство содержит источник 1 света, первую собирающую линзу 2, световод 3, подводящий излучение, выполненный из отдельных волокон, выходные торцы которого образуют цилиндрическую поверхность, в оптическом контакте с которой установлена вторая фокусирующая линза 7, световоды 4, отводящие излучение, входные торцы волокон которых образуют конусные поверхности, в оптическом контакте с которыми установлены линзы 8. Вторая, третья и четвертая линзы выполнены в виде части тороида, причем их фокальные поверхности пересекаются по окружности и образуют зону обзора. Выходные торцы световодов 4, отводящих излучение, находятся в оптическом контакте с приемником 5 излучения, соединенным с блоком 6 обработки информации. 5 ил. сл с

Формула изобретения SU 1 684 594 A2

фиг2

&

#

фиг&

фиг.З

фие.5

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1991 года SU1684594A2

Устройство для контроля качества цилиндрической поверхности 1988
  • Гроссман Мирон Исакович
  • Бирман Вячеслав Борисович
  • Седельников Вячеслав Аркадьевич
SU1562695A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 684 594 A2

Авторы

Бирман Вячеслав Борисович

Гроссман Мирон Исакович

Седельников Вячеслав Аркадьевич

Федяй Сергей Георгиевич

Даты

1991-10-15Публикация

1989-05-05Подача