Устройство для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий Советский патент 1982 года по МПК G01B11/30 

Описание патента на изобретение SU938010A1

Изобретение относится к конт- рольно-измерительнрй технике и моJKeT найти применение в любой отрасли машиностроительной промышленности, для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий деталей различного назначения. Известно устройство для контроля йачества внутренней поверхности труб, содержащее установленные соосно лавер, коллиматор, анализатор изображения в виде дисков с радиальной и спи(альной прорезями, объектив, формиру10ЩИЙ теневые изображения дефектов, Приемник излучения и блок обработки |ротоэлектрической информации 1. Недостатками устройства являются Йизкая чувствительность и надежность контроля, поскольку дефекты, не выступающие над поверхностью, не обнасуживаются, а также не могут коитро ироваться глухие отверстия. Наиболее близким,к изобретению по «вхнимеской сущности является устройство для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий, содержащее последовательно расположенные на одной оптической оси лазер, фокусирующую линзу, световод, отклоняющий элемент и приемники излучения. Отклоняющий элемент выполнен в виде полупрозрачного плоского зеркала, установленного под углом к оптической оси, а световод имеет цилиндрическую форму с плоскими торцами t2. Однако устройство ихеет сложную систему сканирования, требующую спирального вращения контролируемой детали. В результате уменьшается производительность и снижается чувствительность: контроля за счет наличия ложных сигналов вследствие биения детали относительно датчика при вращении. Цель изобретения - повышение производительности и чувствительности контроля. Указанная цель достигается тем, что в устройстве для контроля камества поверхности цилиндрических отверстий, содержащем последовательно расположенные на одной оптической Оси лазер фокусирующую линзу, свето вод и отклонйющийпэпемент, и приемни ки излучения, отклоняющий элемент выполнен в виде аксикона и установлен ёершиной навстречу излучению лазера, а световод выполнен в виде кольцевых секций, входные торцы которых сношеныto ё каждый выходной торец соединен с соответствующим приемником излучения На фиг. 1 изображена принципиальная схема для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий; На фиг. 2 - сечение А-А на фиг. 1. Устройство содержит последователь /1О расположенные на одной оптической оси лазрр 1, фокусирующую линзу 2, световод 3 выполненный в виде кольцевых секций, входные торцы которых скошены, отклоняющий элемент Ц, выполненный в Виде аксикона и установленный вериииной навстречу излучению лазера 1, приемники 5 излучения, каж дый из которых соединен с соответстйующим выходным торцом секции светоЬода 3. Устройство работает следующим образом. Излучение от лазера 1 фокусируется линзой 2 на контролируемой поверх ности 6. На пути сфокусированного по тока расположен отклоняющий элемент Отражающая поверхность которого формируете световой .поток в виде кольца. Сфокусированного по, периметру контролируемой поверхности отверстия. Рассеянное дефектом излучение воспри нимается световодом 3, причем каждая ЙЗ его секций ,(фиг. 2) воспринимает рассеянное излучение от соответствуюfcjero ей участка поверхности 6. МалиМие скошенных торцов секций световоt a 3 позволяет воспринимать излучеНие, рассеянное дефектами в большом

телесном угле, что повышает чувствительность контроля. Выходной торец каждой из секций связан с приемнийами 5 излучение, что позволяет определять местоположение дефекта на поверхности 6. Сканирование всей поверхности сфокусированным по периметру световым кольцом обеспечивается при -относительном поступательном перемещении всего устройства и контролируемой детали. Это существенно упрощает сканирование поверхности, что повышает производительность контроля. формула изобретения Устройство для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий, содержащее последовательно расположенные на одной оптической оси лазер, фoкycиpy oщyю линзу, световод и отклоняющий элемент, и приемники излучения, отличающееся тем, что, ,с целью повышения производительности и чувствительности контроля , Отклоняющий элемент выполнен в виде аксикона и установлен вершиной навстречу излучению лазера, а световод выполнен в виде кольцевых секций, входные торцы которых скошены, а каждый выходной торец соединен с соответствующим приемником излучения. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Padovahl F.A., Williams C.S. Optical system for inspecting polished surfaces. Topic Meet ins. Opt. Microelectronic, Las Vegas, Washington, D.C., sa МА2/1 - MA2/it. 2. West R.N., Stocker W,I. Autoatic inspection of cylinder bares. Metrol. and Inspect, 1977, № 9, А. р. 9-12 (прототип).

К блоку o9fo9emiui

дютоулектричесяви

ungfofi av fiu

Похожие патенты SU938010A1

название год авторы номер документа
Устройство для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий 1987
  • Суминов Вячеслав Михайлович
  • Гребенюк Елена Ивановна
  • Витман Александр Дмитриевич
  • Зайченкова Елена Борисовна
SU1422005A1
Устройство для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий 1984
  • Абульханов Станислав Рафаелевич
  • Митряев Константин Федорович
  • Семенов Борис Петрович
  • Федоров Михаил Андреевич
  • Данилов Андрей Валентинович
SU1221492A1
Система для контроля качества внутренних поверхностей 1985
  • Суминов Вячеслав Михайлович
  • Гребенюк Елена Ивановна
  • Витман Александр Дмитриевич
  • Кречман Геннадий Ричардович
SU1298546A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ОТВЕРСТИЙ ДЕТАЛЕЙ 2003
  • Чугуй Ю.В.
  • Финогенов Л.В.
  • Завьялов П.С.
  • Никитин В.Г.
  • Саметов А.Р.
RU2245516C2
Устройство для контроля дефектов оптических деталей 1990
  • Гребнев Анатолий Анатольевич
SU1712843A1
Устройство для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий 1989
  • Шиляев Валерий Николаевич
SU1714351A1
Устройство для контроля качества наружной резьбы 1991
  • Гребенюк Елена Ивановна
  • Зайченкова Елена Борисовна
  • Витман Александр Дмитриевич
  • Лапина Ольга Нептуновна
  • Акулин Дмитрий Евгеньевич
SU1803735A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МАЛЫХ НЕМАГНИТНЫХ ВКЛЮЧЕНИЙ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2010
  • Сойфер Виктор Александрович
  • Казанский Николай Львович
  • Абульханов Станислав Рафаелевич
  • Лымарев Алексей Викторович
RU2458337C2
Устройство для контроля дефектов плоских поверхностей 1987
  • Шиляев Валерий Николаевич
  • Тюрин Станислав Александрович
  • Шмаков Владимир Викторович
SU1476358A2
Устройство для контроля шероховатости поверхности отверстий 1988
  • Абульханов Станислав Рафаелевич
  • Митряев Константин Федорович
  • Баландин Геннадий Петрович
  • Ачкасова Нина Викторовна
SU1527491A1

Иллюстрации к изобретению SU 938 010 A1

Реферат патента 1982 года Устройство для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий

Формула изобретения SU 938 010 A1

SU 938 010 A1

Авторы

Суминов Вячеслав Михайлович

Гребнев Анатолий Анатолиевич

Гребенюк Елена Ивановна

Кречман Геннадий Ричардович

Уваров Алексей Васильевич

Даты

1982-06-23Публикация

1980-12-24Подача