1
(21)4746460/25
(22)06.10.89
(46) 15.10.91. Бюл. Ns38
(71)Институт черной металлургии
(72)Э.Н.Северин (53) 543.48 (088.8)
(56) Методы спектрального анализа металлов и сплавов/Под ред. Ю.М.Буравлева, К.: Техника, 1988, с. 215.
Исаев Н.Г. Усовершенствование спектрального метода определения водорода в титановых сплавах. - Заводская лаборатория, 1960, т. 26, №5 с. 577.
(54) СПОСОБ КОЛИЧЕСТВЕННОГО ЭМИССИОННОГО СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА МЕТАЛЛА
(57) Изобретение относится к спектральному анализу и может быть применено в спектральных лабораториях промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов. Цель изобретения - повышение воспроизводимости и точности результатов анализа. При переходе от обыскривания к экспозиции аналитический промежуток уменьшают на 0,4- 0,6 первоначальной величины.
| название | год | авторы | номер документа |
|---|---|---|---|
| Способ спектрального анализа металлов и сплавов | 1981 |
|
SU987482A1 |
| Способ возбуждения эмиссионных оптических спектров | 1988 |
|
SU1670429A1 |
| СОСТАВ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СОДЕРЖАНИЯ БОРА В УГЛЕГРАФИТОВЫХ МАТЕРИАЛАХ МЕТОДОМ АТОМНО-ЭМИССИОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ | 2002 |
|
RU2224234C1 |
| Способ спектрального анализа порошкообразных проб на трудновозбудимые элементы и устройство для его осуществления | 1983 |
|
SU1161852A1 |
| СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ НАНОРАЗМЕРНОГО ТОНКОПЛЕНОЧНОГО СТАНДАРТНОГО ОБРАЗЦА ХИМИЧЕСКОГО СОСТАВА | 2011 |
|
RU2483388C1 |
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВОЗБУЖДЕНИЯ СПЕКТРА | 1991 |
|
RU2034243C1 |
| СПОСОБ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО СПЕКТРАЛЬНОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАСТВОРЕННОЙ И НЕРАСТВОРЕННОЙ СОСТАВЛЯЮЩИХ ЭЛЕМЕНТА В СТАЛИ | 2007 |
|
RU2351920C1 |
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ СПЕКТРАЛЬНЫХ ЛИНИЙ ПРИ ОПРЕДЕЛЕНИИ СОДЕРЖАНИЯ ПРИМЕСЕЙ В МЕТАЛЛАХ И СПЛАВАХ | 2022 |
|
RU2790797C1 |
| Буферная смесь для спектрального определения микроэлементов в объектах биосферы | 1982 |
|
SU1056010A1 |
| Постоянный спектральный электрод | 1978 |
|
SU857733A1 |
Изобретение относится к спектральному анализу и может быть применено в спектральных лабораториях промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.
Целью изобретения является повышение точности и воспроизводимости результатов.
Если по истечении времени обыскривания уменьшить аналитический промежуток с Н до h параллельным смещением электрода или пробы вдоль оси электрода, то при этом новое пятно обыскривания с избытком перекроется старым, причем подавляющая часть случайных выбросов за пределы нового пятна будет локализована внутри границ старого пятна, т.е. поверхности пробы, уже обработанной разрядом до стационарного состояния. В результате случайные выбросы разряда за пределы нового пятна окажутся уже неспособными вызывать случайные изменения аналитического сигнала, так что немонотонный характер кривой обыскривания в области экспозиции значительно уменьшится.
Способ осуществляют следующим образом.
Устанавливают по шаблону или оптическому изображению аналитический промежуток равным Н. Включают электрический разряд на время обыскривания То. Выключают разряд. Устанавливают промежуток h параллельным смещением пробы вдоль оси вспомогательного электрода. Включают электрический разряд на время экспозиции, установленное из требований конкретно решаемой аналитической задачи.
Пример. Способ прошел лабораторные испытания на спектрографической установке, состоящей из спектрографа кварцевого ИСП-30 и генератора конденсированной искры ИГ-3, при определении массовой доли кремния и марганца в чугуне. Емкость генератора 0,01 мкФ, индуктивность 0,01 мГн и сила тока 4 А обеспечивали устойчивый разряд с тремя
ё
О 00
&ь о
CJ
ел
цугами за полупериод. Время обыскрива-величины аналитического промежутка межния 30 с при Н - 7 мм, время экспозиции 10ду торцом вспомогательного электрода и
с при h - 4 мм.плоскостью анализируемой пробы, обыскТаким образом, предлагаемый способривание пробы и регистрацию ее эмиссионпозволяет повысить точность и воспроизво-5 кого спектра, по которому проводят анализ,
димость результатов анализа.отличающийся тем, что, с целью
Формула изобретенияповышения точности и воспроизводимости
Способ количественного эмиссионногорезультатов анализа, при переходе от обыспектральногс анализа металла, включаю-скривания к регистрации спектра аналитищий заточку на плоскость поверхности ана-10 ческий промежуток уменьшают на 0,4-0,6
лизируемой пробы металла, контрольпервоначальной величины.
