Способ магнитографического контроля Советский патент 1991 года по МПК G01N27/85 

Ё

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано для контроля качества стыковых сварных соединений из ферромагнитных материалов. Целью изобретения является повышение точности контроля за счет намагничивания изделия комбинацией постоянного и переменного с убывающей амплитудой полей, обеспечивающих получение области безги- стерезисного намагничивания контролируемого участка изделия. Намагничивают контролируемый участок и ленту комбинацией постоянного поля и переменного поля с убывающей до нуля амплитудой, затем повторно намагничивают тот же участок изделия и вторую магнитную ленту постоянным полем, большим по величине и противоположным по направлению постоянного поля первого намагничивания. Наличие дефектов определяется при совместном считывании двух лент на дефектоскоп.

Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и изделий и может быть использовано для дефектоскопии стыковых сварных соединений из ферромагнитных материалов.

Цель изобретения - повышение точности контроля за счет исключения влияния неровностей сварного шва при использовании двух магнитных лент, намагничиваемых комбинацией постоянного и переменного полей.

Способ магнитографического контроля заключается в следующем.

Контролируемый участок с магнитной лентой, уложенной на его поверхности, намагничивают комбинацией постоянного и переменного с убывающей до нуля амплитудой полей, затем намагничивают контролируемый участок и вторую магнитную ленту постоянным полем. Причем величина постоянного поля повторного намагничивания должна быть больше величины постоянного поля первого намагничивания, а направления этих полей противоположны

Наличие дефектов определяется по разностному сигналу с магнитных лент при их совместном считывании на дефектоскопе.

Намагничивание контролируемого участка комбинацией взаимодействующих постоянного и переменного полей создает область безгистерезисного намагничивания в поверхностном слое изделия. Поэтому для насыщения поверхностного слоя требуются небольшие по величине постоянные магнитные поля, поля рассеяния внутренних дефектов не записываются на ленту. При этом поля поверхностных неровностей записываются на ленту практически так же, как при оптимальных значениях намагничивающего поля. В связи с тем, что направлеО

чэ

00

VI

CJ

4

ние постоянного поля при повторном намагничивании противоположно направлению постоянного поля первого намагничивания, сигналы, обусловленные поверхностными неровностями на лентах, будут разного знака и при считывании компенсируются, а на экране дефектоскопа получается сигнал внутренних дефектов.

Пример. Запись полей на две ленты Н-4732 производилась на тест-образце сварного соединения, имеющего внутри дефекты типа пора диаметром 2 и 3 мм. Тол- щина деталей составляла 20 мм. Поверхность имела неровности, чешуйча- тость, наплывы и надрезы. Значения тока намагничивания составляли: постоянного 20 А, переменного 12 А, тока повторного намагничивания 30 А. Для считыёания использовали дефектоскоп ЦМТД-11. По разностному сигналу с обеих лент было получено изображение внутренних дефектов, совпадающее с рентгенограммой контролируемого сварного шва.

Формула изобретения

Способ магнитографического контроля, заключающийся в том, что намагничивают

контролируемый участок последовательно постоянным полем и комбинацией постоянного и переменного полей, производят запись на две ленты, а о качестве контролируемого изделия судят по разности сигналов, считанных с обеих лент, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, сначала намагничивают контролируемый участок и ленту комбинацией постоянного поля и переменного с

убывающей до нуля амплитудой, затем повторно намагничивают тот же участок и вторую магнитную ленту постоянным полем, большим по величине и противоположным по направлению постоянного поля первого

намагничивания, а о качестве контролируемого участка судят по разностному сигналу, полученному при совместном считывании двух лент.