СПОСОБ КОЛИЧЕСТВЕННОГО АНАЛИЗА ВЕЩЕСТВ Советский патент 1965 года по МПК G01N24/08 

Известен способ количественного анализа исследуемых веществ, который основан на пропорциональности амплитуды сигнала количеству ядер этих веществ в исследуемом образце. Так как амплитуда сигналов ядерного магнитного резонанса зависит от коэффициента усиления регистрирующего тракта, то производят калибровку, усиления аппаратуры или с помощью эталонного калибратора, или по эталонному образцу. Эталонный и испытуемый образцы помещают в две катушки индуктивности, находящиеся в равных условиях поляризации, связанные с помощью мостовой схемы, и регистрируют разницу напряжений обоих сигналов, находящихся в протнвофазе.

Предлагаемый способ количественного анализа веществ с одновременной регистрацией сигналов ядерного магнитного резонанса от эталонного и исследуемого образцов, помещенных в разделенную на две части катушку индуктивности контура высокочастотного генератора датчика, отличается тем, что в области расположения каждого образца постоянное поляризующее поле модулируют низкочастотными колебаниями напряжения одной

частоты, но сдвинутыми по фазе на угол -.

ров. При соответственно выбранных фазах эталонных напрялсеннй на фазовых детекторах напряжение на выходе одного из них пропорционально сигналу ядерного магнитного резонанса от эталонного образца, а на выходе другого - сигналу от исследуемого образца.

Отношение этих напрялсений, которое пропорционально количеству ядер в исследуемом образце, не зависит от коэффициента усиления всего регистрирующего тракта.

Способ удобен тем, что не требует длительной стабильности аппаратуры, так как позволяет непрерывно, в процессе измерений исследуемого вещества, контролировать коэффициент усиления.

Предмет изобретения

Способ количественного анализа веществ с одновременной регистрацией сигналов ядерного магнитного резонанса от эталонного и исследуемого образцов, отличающийся тем, что, с целью повышения точности исследований, в области расположения каждого образца поляризующее поле модулируют напряжениями одной частоты, но сдвинутыми по фазе

на угол - , а сигналы от образцов разделяют