Устройство для контроля параметров интегральных схем Советский патент 1992 года по МПК B07C5/28 B65H3/24 

15

ipue.Z

Использование: изобретение относится к измерительной технике, и может быть использовано для автоматического контроля и сортировки интегральных схем и позволяет расширить технологические возможности за счет контроля при повышенной и пониженной температуре. Сущность изобретения: устройство для контроля параметров интегральных-схем содержит магазин 1 с пеналами 2 для интегральных схем 3, приводом 4, датчиком 5 и направляющими 6 для интегральных схем 3, под ним имеется отсе- катель 7, выполненный в виде скобы 8 и заслонками 9 с приводом 10 и направляющими 11, под ним находится камера тепла, состоящая из теплоизолирующего корпуса 12,на котором укреплены направляющие 13,датчик 14 переполнения ИС в бараба не 15, термодатчик 16, барабан 15, измерительный блок 17 и блок термонагревания 18, далее имеется приспособление 19 для сортировки и приема ИС 3. 2 ил.