Устройство для контроля параметров интегральных схем Советский патент 1992 года по МПК B07C5/38 B65H3/24 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для автоматического контроля и сортировки интегральных схем.

Целью изобретения является расширение функциональных возможностей за счет контроля при повышенной температуре.

На фиг. 1 изображен общий вид устройства; на фиг. 2 - барабан для термовыдержки интегральных схем.

Устройство для контроля параметров интегральных схем содержит магазин 1 с пеналами 2 для интегральных схем 3, приводом 4, датчиком 5 и направляющими б для интегральных схем 3, полмагазином 1 находится термокамера, состоящая из теплоизолирующего корпуса 7, в котором смонтированы барабан 8 с направляющими пазами для интегральных схем 3, который сопряжен с металлическим корпусом 9, имеющим винтовую канавку, которая служит Для разделения интегральных схем 3, барабан 8 снабжен Приводом 10, измерительный блок 11, находящийся под барабаном 8, направляющие 12. термонагреватель 13 и термодатчик 14, под камерой находится приспособление 15 для сортировки и приема интегральных схем 3.

Устройство работает следующим образом.

В пеналы 2 загружаются интегральные схемы 3. Пеналы устанавливаются в ячейку магазина 1. Магазин подводит при помощи привода 4 на загрузочную позицию, которую определяет датчик 5. ячейку с заполненным пеналом. По направляющим б интегральная схема 3 подается в канал барабана 8 со стороны выводов интегральных схем и в начало винтовой канавки корпуса 9. Затем барабан перемещается на шагг подставляя под измерительную позицию следующий барабан 8. Интегральная схема

3 при последовательном перемещении успевает полностью прогреться, по винтовой линии приходит на позицию, из которой интегральная схема 3 попадает в измерительное приспособление 11, где интегральная схема 3 контролируется и отправляется в сортировочное приспособление 15. Нагрев камеры осуществляется при помощи термонагревателя 13, охлаждение - подачей жидкого азота в камеру.

Преимущество данного устройства заключается в том, что оно позволяет проверять интегральную схему при повышенной и пониженной температуре и в исполнении

не используются отсекатели. За счет этого достигается: простота исполнения, малые габариты, надежность работы и обслуживания.

Формула изобретения

Устройство для контроля параметров интегральных схем, содержащее магазин с направляющими, измерительное приспособление, средство для сортировки и приема проверенных интегральных схем, выполненное в виде набора модулей для групп контролируемых схем, каждый из которых содержит каретку с пеналами, имеющую шаговый привод, датчики положения и

заполнения пенала и сортировочную стрелку для брака и годных интегральных схем, имеющую привод поступательного движения, отличающееся тем, что, с целью расширения технологических воэможностей, между магазином и приемником проверенных интегральных схем установлена введенная в устройство камера тепла с винтовой линией на внутренней поверхности, которая снабжена барабаном с направляющими, установленными с возможностью взаимодействия с винтовой линией камеры тепла.

Л- А

Использование: изобретение относится к измерительной технике, может быть использовано для автоматического контроля и сортировки интегральных схем и позволяет расширить технологические возможности функциональных возможностей за счет контроля при повышенной и пониженной тем-CL пературе. Сущность изобретения: устройство для контроля параметров интегральных схем содержит магазин 1 с пеналами 2 для интегральных схем 3, приводом 4, датчиком 5 и направляющими 6 для интегральных схем 3, под магазином 1 находится термокамера, состоящая из теплоизолирующего корпуса 7, в котором смонтированы барабан 8 с направляющими пазами для интегральных схем 3, который сопр яжен с металлическим корпусом 9, имеющим винтовую канавку, которая служит для разделения интегральных схем 3. Барабан 8 снабжен приводом 8 имеет направляющие 12, термонагреватель, 13 и термодатчик 14, Под термокамерой находится приспособление 15 для сортировки и приема интегральных схем 3. 2 ил. сл с s| 00 о 00 ч о 15 Фиг 1

Фиг.Ј