Устройство для измерения толщины поверхностного токопроводящего слоя изделия Советский патент 1992 года по МПК G01B7/06 

Описание патента на изобретение SU1783287A1

СП

с

Похожие патенты SU1783287A1

название год авторы номер документа
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПОВЕРХНОСТНОГО ТОКОПРОВОДЯЩЕГО СЛОЯ ИЗДЕЛИЯ 1999
  • Бутенко В.И.
  • Пушкарный А.В.
RU2167392C2
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПОВЕРХНОСТНОГО ТОКОПРОВОДЯЩЕГО СЛОЯ 2008
  • Диденко Дмитрий Иванович
RU2381439C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОЛНОГО ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ УПРОЧНЕННОГО СЛОЯ ИЗДЕЛИЙ ИЗ МЕТАЛЛОВ С ПРИМЕНЕНИЕМ СИГНАЛОВ ВЫСОКОЙ ЧАСТОТЫ 2019
  • Малеронок Владимир Владимирович
  • Алифанов Александр Викторович
RU2734061C1
Устройство для определения удельного объемного электрического сопротивления полимерных материалов 1986
  • Бродский Михаил Юрьевич
  • Малевский-Малевич Андрей Сергеевич
  • Евменов Анатолий Константинович
  • Харламов Олег Владимирович
  • Блинов Александр Александрович
  • Ионова Валентина Федоровна
SU1372252A1
Способ контроля качества закладки угольных штабелей и устройство для его осуществления 1988
  • Карагодин Геннадий Михайлович
  • Аксенов Андрей Вадимович
  • Белиоглов Константин Владимирович
  • Мисилов Сергей Степанович
SU1567961A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДАВЛЕНИЯ И СПОСОБ ЕГО СБОРКИ 1999
  • Казарян А.А.
RU2161784C1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ШИПОВАННОЙ ТКАНИ 2010
  • Салмин Алексей Игоревич
RU2436649C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ УДЕЛЬНОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ РЕЖУЩИХ КЕРАМИЧЕСКИХ ПЛАСТИН 2020
  • Максаров Вячеслав Викторович
  • Халимоненко Алексей Дмитриевич
  • Горшков Илья Валерьевич
RU2729169C1
Емкостное устройство для измерения шероховатости поверхности и диаметра металлического объекта 1990
  • Иванов Владимир Александрович
  • Осипович Вячеслав Петрович
  • Зуев Валентин Никитович
  • Полев Александр Вадимович
SU1762110A1
СПОСОБ ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ ТОКОПРОВОДЯЩИХ МАТЕРИАЛОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ 2002
  • Кочаров Э.А.
  • Тараканов Ю.В.
RU2256906C2

Иллюстрации к изобретению SU 1 783 287 A1

Реферат патента 1992 года Устройство для измерения толщины поверхностного токопроводящего слоя изделия

Изобретение относится к области машиностроения, а именно к приборам и устройствам для измерения и контроля качества поверхностного токопроводящего слоя изделий. Цель изобретения - повышение точности измерения. Устройство для измерения толщины поверхностного токопроводящего слоя изделия состоит из корпуса, изготовленного из диэлектрического материала, в котором установлены под углом к поверхности корпуса два токоподво- дящих электрода и перпендикулярно ей два измерительных электрода, крышки из диэлектрического материала, прикрепляемой к корпусу винтами, клемм, пружин возврата и струбцин, прикрепляемых к корпусу при помощи винтов. 4 ил.

Формула изобретения SU 1 783 287 A1

Изобретение относится к области машиностроения, преимущественно к созданию приборов и устройств для измерения и контроля качества поверхностного слоя изделий после механообработки.

Известно устройство для контроля качества поверхностного слоя, представляющее собой ультразвукбвой дефектоскоп, содержащий синхронизатор, акустический блок, блок из п генераторов, коммутатор, последовательно соединенные сумматор, усилитель, автоматический сигнализатор дефектов, исполнительный механизм, индикатор, акустический блок из п-1 кольцевых пьезопреобразователей и соосного им центрального дискового пьезопреобразовате- ля.

Известно устройство для измерения толщины покрытий, которое может использоваться также для определения глубины поверхностного слоя. Известное устройство содержит детектор излучения, последовательно соединенные дифференциальный дискриминатор и счетчик, образующие канал рассеянного излучения, блок деления и блок сложения.

Наиболее близким техническим решением является четырехзондовое устройство для измерения толщины покрытий и глубины поверхностного токопроводящего слоя, описанное в книге Л.Р.Неймана Поверхностный эффект в ферромагнитных телах. М.. Госэнергоиздат, 1948 г.. с. 132. Известное устройство для измерения глубины поверхностного слоя состоит из корпуса, двух то- копроводящих и двух измерительных электродов, установленных в корпусе, и клемм.

VI 00

00

ю

00

VI

Данное устройство для измерения глубины поверхностного токопроводящего слоя принято автором за прототип.

Недостатком известного устройства для измерения глубины поверхностного токопроводящего слоя является его невысокая точность, обусловленная особенностями протекания электрического тока в поверхностном слое обработанных изделий между токоподающими электродами и взаимным расположением электродов в устройстве. . ,

Целью изобретения является повышение точности измерения.

Поставленная цель достигается тем, что токопроводящие электроды установлены под углом ак поверхности корпуса, расстояние I между осями измерительных электродов выбирают из соотношения

1 1,2 d + h,

где h - толщина стенки между отверстиями для пружин;

d - диаметр пружины;

L - расстояние между точками контакта токопроводящих элементов;

I - расстояние между то чками контакта измерительных электродов выбирают из соотношения L 4I, а угол а выбирают из соотношения

2 (Н + а) « arctg

где а - высота части электродов, выступающей за поверхность крышки;

b - расстояние от торца до оси токопроводящего электрода;

В - длина корпуса;

Н - суммарная высота корпуса и крышки устройства.

Наличие отличительных признаков (соотношение расстояния между токопроводя- щими измерительными электродами, принятие расстояния между измерительными электродами в зависимости от диаметра пружин и толщины стенки между отверстиями для пружин, расположение осей изме- рительных электродов под углом к измеряемой поверхности детали) обусловливает соответствие заявляемого технического решения критерию новизна.

Поскольку у заявляемого технического решения появляются новые свойства (повышается точность измерения толщины поверхностного слоя), не совпадающие со свойствами известных технических решений, можно сделать вывод о том, что заявляемое техническое решение соответствует критерию существенные отличия.

Общий вид устройства для измерения толщины поверхностного токопроводящего

слоя приведен на фиг.1; на фиг.2 - приведена принципиальная электрическая схема подключения устройства для измерения толщины поверхностного токопроводящего

слоя на изделии при его использовании; на фиг.З - схема локального электрического поля, возникающего между токопроводящими электродами в поверхностном слое изделия; на фиг.4 - тарировочный график

устройства для измерения толщины поверхностного токопроводящего слоя изделий.

Устройство для измерения толщины поверхностного токопроводящего слоя состоит (фиг.1) из корпуса 1, изготовленного из

диэлектрического материала (например оргстекла), в котором установлены под углом а два токопроводящих электрода 2 и перпендикулярно поверхности изделия два измерительных электрода 3, крышки 4 из

диэлектрического материала, прикрепляемой к корпусу винтами 5, клемм 6, пружин возврата 7 и струбцин 8, прикрепляемых к корпусу 1 при помощи винтов 9.

Подключение устройства для измерения толщины поверхностного токопроводящего слоя изделия осуществляется от источника постоянного тока, например, источника питания Б5-47, через реостат R, милливольтметр, в качестве которого может

быть использован прибор М1202, пакет переключателей RI, эталонный реостат R3 к токоподводящим электродам 1 и 4. С измерительных электродов 2 и 3 через пакетный переключатель Па напряжение подается на

потенциометр постоянного тока (на фиг.2 не показано).

Формула изобретения Устройство для измерения толщины поверхностного токопроводящего слоя изделия, содержащее диэлектрический корпус и крышку, два подпружиненных токопроводящих электрода, размещенных в корпусе, два подпружиненных измерительных электрода, установленных в корпусе перпендикулярно его поверхности, источник питания постоянного тока, подключенный к токоподводящим электродам, и измерительный прибор, соединенный с измерительными зондами, отличающееся тем, что, с

целью повышения точности измерения, то- коподводящие электроды установлены под углом а к поверхности корпуса, расстояние I между осями измерительных электродов выбирают из соотношения I 1,2 d + h/где

h - толщина стенки между отверстиями для пружин, d - диаметр пружины, расстояния L между точками контакта токоподводящих электродов и I - между точками контакта измерительных электродов выбирают из соотношения L 41, а угол а. выбирают из соотношения

™аш,

где а - высота части электродов, выступаю- щей за поверхность крышки;

b - расстояние от торца до оси токопод- водящего электрода; В - длина корпуса; Н - суммарная высота корпуса и крыш//

Фие./.

Фиг. 2

Шиг.З

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1992 года SU1783287A1

Способ ультразвукового контроля качества изделий 1987
  • Захаров Анатолий Владимирович
  • Бачин Виктор Алексеевич
  • Вопилкин Алексей Харитонович
  • Шамба Владимир Елизбарович
  • Губанов Юрий Дмитриевич
SU1471119A1
Нейман Р.Л
Поверхностный эффект в ферромагнитных телах Госэнергоиздат, 1948г., стр.132.

SU 1 783 287 A1

Авторы

Бутенко Виктор Иванович

Даты

1992-12-23Публикация

1990-12-27Подача