Изобретение относится к производству радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано в электронной технике, электротехнической промышленности и приборостроении.
Целью изобретения является повышение производительности процесса пайки за счет исправления дефектов в автоматическом режиме.
На чертеже представлена операционная блок-схема процесса сборки, пайки, контроля и исправления дефектов при изготовлении печатных плат с навесным поверхностным монтажом.
По имеющимся у авторов сведениям существенные признаки, указанные в отличительной части формулы изобретения, не обнаружены в других отраслях промышленности, что позволяет считать предлагаемое решение соответствующим критерию существенные отличия.
Способ пайки световым лучом радиоэлементов на печатные платы с контролем температуры пайки осуществляется следующим образом.
После предварительных операций по установке радиоэлементов (ЭРЭ) на печатные платы (ПП) 1 и их фиксации 2, нанесения припоя 3 и флюса 4 производится фокусиро- вание лучистого потока на паяемые детали 5, нагрев лучистым потоком 6 с последующим охлаждением 7 и исправлением дефектов 8. После исправления дефектов 8 производится печать температурных результатов пайки 9 и остановка операций 10. Операции с 1 по 10 соответствуют идеальному случаю пайки с отсутствием дефектов. В этом случае операции 8 и 9 являются формальными. В реальных условиях пайки часто возникают дефекты паяных соединений из-за нарушения теплового режима, поэтому при нагреве лучистым потоком 6 температура места спая фиксируется датчиком контроля температуры 11. Сигнал сдатчика контроля температуры 11 поступает в память компьютера 12, где формируются массивы значений температуры, соответствующие температуре пайки и отличающиеся от нее. После этого производится сопоставление практической температуры пайки с необходимой температурой для пайки 13. Затем по сформированной программе в непропаянных соединениях 14 производится определение отношения температуры пайки к фактической температуре. Получив эти данные, уве- личивают мощность светового луча пропорционально отношению температур 15 и проводят повторную .пайку 16 точек. Проведя повторную пайку с лучистым нагревом, операции 11-13 дублируются и, если фактическая температура совпадает с температурой пайки, то производится печать температурных результатов пайки 9 и остановка операций 10, Запаянная печатная плата передается на следующие этапы производства с распечаткой мест дефектов и результатов их исправления.
Предложенный способ пайки световым лучом радиоэлементов на печатные платы с контролем температуры был реализован при пайке выводов интегральных микросхем к контактным площадкам печатной платы, пайке коммутационных панелей и штырьковых разъемов на печатных платах. В качестве примера предлагается рассмотреть пайку печатной платы с двусторон0 ней неравномерной набивкой радиоэлементов с пленарными и штырьковыми выводами. Материал печатной платы - стеклотекстолит с двусторонней медной фольгировкой СФ-2, отверстия в печатной
5 плате металлизированы, условия теплоотво- да от контактных площадок различны и зависят от массы подходящего проводника дорожки ПП. Размеры печатной платы 100x200x2 мм. Для поверхностного монта0 жа использовались 14,16,18 и 24-выводные интегральные микросхемы с пленарными выводами, а также резисторы с выводами диаметром 0,8 мм. Припой марки ПОС-61 напрессовывался на облуженные выводы
5 микросхем с каждой стороны одновременно проволокой диаметром 0,5 мм. Для штырьковых элементов припой ПОС-61 закладывался в виде колец из проволоки 0,4 мм на каждый вывод. Флюсование производилось
0 флюсом ФКСп (КЭ). Оптическая система для пайки световым лучом спроектирована таким образом, что излучение источника сета ДКСШ-500 образует в фокальной плоскости два пятна нагрева. Расстояние между пят5 нами нагрева может изменяться в пределах от 0 до 35 мм. Отражатель имеет аппертур- ный угол 60° и свободный выход луча за . пределы оптической системы 70 мм. Отражатель изготовлен из сплава Д16Т и имеет
0 диаметр 140 мм. Описанная оптическая система позволяет получать максимальную полярность лучистого потока в пятне нагрева (Еам), равную 420-440 Вт/см2, а при расщеплении луча - 210-220 Вт/см2 в каждой
5 из точек. КПД оптической системы около 40%,
Пайка микросхем производилась при непрерывном перемещении печатной платы в фокальной плоскости установки для
0 пайки световым лучом и импульсном питании дуговой ксеноновой лампы. При движении от одной микросхемы к другой в лампе горит дежурная дуга малой мощности, при движении в зоне пайки горит дуга рабочей
5 мощности. Для пайки штырьковых выводов предусмотрена остановка печатной платы на время пайки, а движение от одной зоны пайки до другой осуществлялось в дежурном режиме питания лампы. Фактическая температура фиксировалась И К-датчиком и
обрабатывалась компьютером IBM PC. В компьютере формировался массив, состоящий из координат зон паек (X. Y) и соответствующих температур нагрева (Т). За температуру пайки принята температура 220-230°С. На печатной плате существует не менее 10 точек пайки с массивным теп- лоотводом, где может быть не достигнута температура пайки. Из этих точек пять зон пайки имели температуру 190°С две - 200°С и три - 205°С. В компьютере IBM PC определялось отношение температуры пайки к фактической температуре исследуемых точек (230/190 1,21; 230/200 1.15; 230/205 1,122). Пропорционально этому отношению автоматически формируется массив, состоящий из координат точек пайки с недостаточной температурой (Хд, Уд) и отношения температур пайки к фактической температуре (ТК). В зонах пайки с координатами (Хд, Уд) автоматически исправляются дефекты пайки с увеличением мощности светового луча пропорционально полученному массиву отношения температур. Дефекты исправляются повторной пайкой указанных точек. Запаянная печатная плата передается на следующие этапы производства с распечаткой мест дефектов с указанием температуры и результаты исправления.I--
й
Пайка пленарных выводов интегральных микросхем осуществлялась с производительностью не менее 400 соединений в минуту, а штырьковых выводов - не менее
5 60 соединений в минуту. Предложенный способ пайки световым лучом радиоэлемент. тов на печатные платы позволяет исключить (менее 1%) количество дефектов пайки, сравнивая с пайкой паяльником 6-7%.
10 Ф о рмул а и зо б рете ни я
Способ пайки световым лучом радиоэлементов на печатные платы с контролем температуры пайки, включающий установку радиоэлементов на печатную плату, фикса15 цию их, нанесение припоя, флюсование. нагрев до температуры пайки с одновременным измерением температуры и выявлением зон с температурой ниже температуры пайки, отличающийся тем,
20 что, с целью повышения производительности процесса пайки за счет исправления дефектов в автоматическом режиме, определяют отношение температуры пайки к фактической температуре исследуемой па- 25 яной точки с более низкой температурой, чем температура пайки, увеличивают мощность светового луча пропорционально этому отношению и проводят повторную пайку данной точки.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
СПОСОБ ПАЙКИ СВЕТОВЫМ ЛУЧОМ | 1995 |
|
RU2082570C1 |
Способ групповой пайки | 1986 |
|
SU1382606A1 |
СПОСОБ ПАЙКИ БЕЗВЫВОДНЫХ ЭЛЕКТРОРАДИОИЗДЕЛИЙ НА ПЕЧАТНУЮ ПЛАТУ | 2006 |
|
RU2311272C1 |
Способ пайки электрорадиоэлементов | 1986 |
|
SU1428534A1 |
СПОСОБ ПАЙКИ ИЗДЕЛИЙ | 1994 |
|
RU2072283C1 |
Способ пайки выводов в металлизированных отверстиях | 1982 |
|
SU1199503A1 |
ФЛЮС ДЛЯ НИЗКОТЕМПЕРАТУРНОЙ ПАЙКИ | 1990 |
|
RU2016729C1 |
Устройство для пайки микросхем с планарными выводами на печатные платы | 1990 |
|
SU1799315A3 |
Флюс для пайки легкоплавкими припоями | 1983 |
|
SU1098729A1 |
Флюс для фиксации и низкотемпературной пайки электрорадиоэлементов | 1988 |
|
SU1569235A1 |
Использование: производство радиоэлектронной аппаратуры в электронной технике, электротехнической промышленности и приборостроении. Сущность изобретения: в процессе нагрева при температуре пайки определяют отношение температуры пайки к фактической температуре исследуемой паяной точки с более низкой температурой, чем температура пайки, увеличивают мощность светового луча пропорционально этому отношению и проводят повторную пайку данной точки. 1 ил. ь Ё 00 ON СП 00 00
Опарин М.И., Пронин Н.С | |||
и Коробко Н.А | |||
Технология и оборудование световым лучом дуговых ксеноновых ламп | |||
Материалы семинара МДНТП имени Ф.Э.Дзержинского Ресурсосберегающие прогрессивные технологии в сварочном производстве для машиностроительного комплекса, 1989, с | |||
Пожарный двухцилиндровый насос | 0 |
|
SU90A1 |
Аппарат для очищения воды при помощи химических реактивов | 1917 |
|
SU2A1 |
Устранение напряжений в электронных компонентах за счет применения контролируемой лазерной пайки | |||
- /апгеи R., Traub A.C | |||
Способ восстановления хромовой кислоты, в частности для получения хромовых квасцов | 1921 |
|
SU7A1 |
Способ гальванического снятия позолоты с серебряных изделий без заметного изменения их формы | 1923 |
|
SU12A1 |
Переносная печь для варки пищи и отопления в окопах, походных помещениях и т.п. | 1921 |
|
SU3A1 |
Регистрация параметров процесса с помощью вычислительных машин | |||
- Process-monitoring (PM): rechner-gesteuerte reglstrlrung der prozeb-parameter Elektronlk, v | |||
Скоропечатный станок для печатания со стеклянных пластинок | 1922 |
|
SU35A1 |
Способ получения молочной кислоты | 1922 |
|
SU60A1 |
Очаг для массовой варки пищи, выпечки хлеба и кипячения воды | 1921 |
|
SU4A1 |
Обнаружение дефектов в местах пай- ки по тепловому излучению | |||
- Waermestrahlung verraet fehler In loetstellen | |||
VDI-Nachrlchten, №33, 1985, p | |||
Прибор для получения стереоскопических впечатлений от двух изображений различного масштаба | 1917 |
|
SU26A1 |
Авторы
Даты
1993-05-23—Публикация
1991-04-17—Подача