СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ГАЛЬВАНИЧЕСКИХПОКРЫТИЙ Советский патент 1967 года по МПК C25F3/02 G01B7/06 

Описание патента на изобретение SU204084A1

;1 Известно, что толщину гальванических покрытий определяют путем химического или электрохимического растворения капельным или струйным методо:м в таком растворителе, который яе действует на основной металл. Предложенный способ заключается в том, что проводят аяодное растворение пок рытия и снимают при этом поляризационную кривую. Такой способ прост, удобен и превосходит по точно сти существующие. Полярофамму записывают автоматическим регистрирующем полярографом. Поляропрамма имеет вид лика, высота которого пропорциональна толщине гальванического покрытия. Соотношение между высотой пика и толщкной покрытия находят ло эталонным образцам. СущнОСть нового способа заключается в получении лолярограммы анодного растворе,ния исследуемоЕго локрытия на небольшом его участке диаметром npaiMepno 0,5 мм. Такой участок покрытия выделяют при помощи специальной ячейки-датчика, представляющей собой цилиндр«ческ ий сосуд из плексигласа с конической 1выемкой, .которая заканчивается отверстием диаметром 0,5 мм. Для з алиси полярограммы испытуемый образец и ячейку помещают в зажим-сборку, состоящую иа алюминиевой токопроводящей пластины, двух шетилек с гайками-барашками и верхней лоджимной пластины с отверстием. Образец накладывают на токопроводящую пластину, соединенную с плюсом теолярографа. В ячейку наливают элект1ролит, подобранный в соответствии со свойствами покрытия, и при помощи ли/петки удаляют воздух через отверстие ячейки. Далее включают полярограф и поляризуют образец анодно в определенном интервале потенпиалов. На полученной полярограмме измеряют высоту пика. При помощи эталонных образцов рассчитывают толщину покрытия. Предмет изобретения Способ определения толщины гальванических покрытий лутем электрохимического растворения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения толщины покрытия, снимают полярограмму анодного растворения.

Похожие патенты SU204084A1

название год авторы номер документа
Электролитическая ячейка-датчик для измерения толшины металлических покрытий 1980
  • Заводчикова Татьяна Борисовна
  • Кузьмина Наталья Николаевна
  • Ярцев Михаил Григорьевич
  • Хвацков Евгений Нилович
SU890223A1
Способ полярографического анализа 1980
  • Мокроусов Геннадий Михайлович
  • Захарова Эльза Арминовна
  • Клевцова Татьяна Николаевна
  • Катаев Григорий Алексеевич
  • Волкова Валентина Николаевна
SU957090A1
Способ анализа многофазных сплавов 1981
  • Слепушкин Вячеслав Васильевич
SU989445A1
Способ количественного определения хлоридов в концентрате тетраметиламмония гидроксида 2018
  • Красников Геннадий Яковлевич
  • Ранчин Сергей Олегович
  • Варламов Денис Александрович
  • Конарев Александр Андреевич
RU2707580C1
Способ кулонометрического измерения толщины металлических покрытий объектов 1990
  • Маслий Александр Иванович
  • Медведев Александр Жанович
  • Зиядуллаев Абдукаххар Шамшиевич
  • Кензин Виктор Иванович
SU1763874A1
Электрохимический способ определения рения в присутствии элементов YI группы 1989
  • Сперанская Екатерина Федоровна
SU1684654A1
Способ определения тяжелых металлов в пищевых продуктах 1989
  • Таскина Нина Васильевна
SU1693545A1
Способ обработки поверхности электрода для вольтамперометрического анализа вод 1988
  • Каплин Анатолий Александрович
  • Свинцова Людмила Дмитриевна
  • Мордвинова Нина Михайловна
  • Клюева Татьяна Борисовна
SU1608560A1
Электролит для определения толщины марганцевых покрытий 1978
  • Заводчикова Татьяна Борисовна
  • Кузьмина Наталья Николаевна
  • Манакина Татьяна Петровна
  • Ярцев Михаил Григорьевич
SU876809A1
Способ оценки рассеивающей способности электролитов 1981
  • Слепушкин Вячеслав Васильевич
SU968723A1

Реферат патента 1967 года СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ГАЛЬВАНИЧЕСКИХПОКРЫТИЙ

Формула изобретения SU 204 084 A1

SU 204 084 A1

Даты

1967-01-01Публикация