СПОСОБ КОНТРОЛЯ КРИСТАЛЛИЗАЦИИ КОНДИТЕРСКИХМАСС Советский патент 1968 года по МПК G01N33/02 G01N21/21 G02B21/34 

Известен способ контроля кристаллизации кондитерских масс, например ирисной, в процессе производства (а также готовых изделий) путем микроскопирования исследуемого образца в световом потоке.

Для повышения точности контроля согласно предлагаемому способу микроскопирование осуществляют в проходящем через исследуемый образец поляризованном световом луче, измеряя при этом интенсивность светового потока в объективе микроскопа, величина которого прямо пропор циональна содержанию кристаллов в массе.

Предлагаемый способ заключается в следующем.

По ходу технологического процесса отбирают пробу кондитерской массы, например ирисной. Определенное количество (15-20 мг) пробы .помещают между двумя предварительно нагретыми до 100°С предметными стеклами. После этого стекло сдвигают относительно другого для получения на каждом стекле

онкого слоя (толщиной 25-50 мк) массы. Предметное стекло закрепляют на столике поляризационного микроскопа и определяют интенсивность светового потока, величина которого пропорциональна содержанию кристаллов сахарозы в массе.

По предлагаемому способу можно также определять степень кристалличности готовых кондитерских изделий.

Предмет изобретения

Способ контроля кристаллизацш кондитерских масс, например ирисной, в процессе производства путем микроскопирования исследуемого образца, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, микроскопирование осуществляют в проходящем поляризованном световом луче с измерением при этом интенсивности светового потока с последующим определением содержания кристаллов.