СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ ОБОЛОЧЕК Советский патент 1969 года по МПК G01B5/30 

Известные способы измерения деформаций оболочек путем измерения координат точек поверхностей оболочек оптическим методом позволяют определять деформации только оболочек вращения.

Предлагаемый способ отличается тем, что с помощью пластичной массы получают слепки недеформированной и деформированной поверхности оболочки и по разности результатов измерения координат точек слепков определяют деформации. Таким способом можно измерять деформации оболочек сложных конфигураций.

На фиг. 1 изображено нриспособление для получения слепка с недеформированной поверхности оболочки (вертикальный разрез); на фиг. 2 - коллектор для получения слепка с деформированной поверхности оболочки (вертикальный разрез).

Испытуему 0 оболочку / помещают в приспособление, корпус 2 которого заполняют пластичной массой 3 и закрывают крышкой 4 с помощью винтов 5. Затем приспособление разбирают и извлекают слепок педеформированной поверхности оболочки /.

Чтобы получить слепок деформированной поверхности оболочки У при заданной нагрузке, пространство над ооолочкон заполняют пластичной .массой и завинчивают крышку 4 до упора. Затем гриспособлениие иомещают в корпус 6 коллектора, в котором создают давление. Спяв давление, разбирают приспособление и извлек : от слепок деформированной поверхности оболочки /.

После этого с помощью измерительиых приборов, например микроскопа УП.М-21, измеряют координаты точек слепков педеформированной и деформированной поверхностей оболочки / и по результатам измерений определяют величину деформации в любой точке.

Предмет изобретения

Способ измерения деформаций оболочек путем измерения координат точек поверхностей оболочек оптпческпм методом, отличающийся тем, что, с целью измерения дефорлгации оболочек сложных конфигураций, получают с помощью пластичной массы слепки недеформированной и деформированной поверхностей оболочки и по разности результатов пзмереппя координат точек слепков определяют деформацпп.