УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ МАГНИТНОГО СПЕКТРА ПАРАМАГНИТНЫХ КРИСТАЛЛОВ Советский патент 1969 года по МПК G01R33/12 

Изобретение относится к устройствам для изучения свойств твердого тела. Может найти применение в квантовой электронике.

Известные устройства для измерения магнитного спектра парамагнитных кристаллов, содержащие резонатор и гониометрическую систему, обладают низкой точностью измерения углов поворота исследуемого образца изза совмещения в одном и том же механизме функций поворота образца и измерения угла поворота.

Предложенное устройство отличается от известных тем, что в зазоре электромагнита установлена сопряженная с резонансной полостью оптико-механическая система, состоящая из источника подсветки, зеркала и фокусирующих линз. Это позволяет повысить точность ориентирования исследуемого парамагнитного кристалла и непосредственно определять истинный угол поворота образца.

На чертеже представлена схема устройства.

Исследуемый кристалл 1 крепится на клейкой смазке к поршню 2 цилиндрического резонатора, вращающемуся с помощью произвольного механизма вокруг горизонтальной оси. Рядом с крышкой 3 -поршня 2 жестко укреплена оптическая трубка 4 (например, от измерителя частоты поверхности типа РВП-463). Освещенное лампочкой 5 изобралсение крыщки 3 отражается от зеркала 6 и

проецируется оптической системой трубки 4 на предметное стекло 7 окулятора 8. На крышке 3 и предметном стекле 7 нанесено по одной риске. Предметное стекло жестко соединено с угломерным устройством 9, например поворотным столом СТ-3 универсального микроскопа, погрешность которого не превышает 15. Совмещая риску на стекле 7 с риской на изображении крышки 3, спроецированном на предметное стекло, можно точно измерить фактический угол поворота крышки 3 с исследуемым кристаллом 1.

Кристалл ориентируют в горизонтальной плоскости поворотом всего устройства, жестко соединенного со вторым угломером, в качестве которого также можно использовать поворотный стол СТ-3.

Предмет изобретения

Устройство для измерения магнитного спектра парамагнитных кристаллов, содержащее резонатор и гониометрическую систему, отличающееся тем, что, с целью повышения точности ориентирования исследуемого парамагнитного кристалла и непосредственного определения истинного угла поворота образца, в зазоре электромагнита установлена оптикомеханическая система, сопряженная с резонансной полостью, состоящая из источника