СПОСОБ ЛОКАЛЬНОГО ПРИЦЕЛЬНОГО РЕНТГЕНОВСКОГО Советский патент 1970 года по МПК G01N23/207 

Данный способ исследования относится к рентгеновскому фазовому анализу микровключений в шлифах без нарушения целостности шлифов. Известен способ локального прицельного рентгеновского фаяавого анализа мякрообъектов, заключающийся в облучении выбранного микроучастка шлифа рентгеновским микропучком, коллимированным стеклянным капилляром с иопользолваНием полиого отражения рентгеновских лучей от стенок канала каоилляра. При этом шлиф вращается в его плоскости и однавременно колеблется относительно оси, лежащей в плоюкости шлифа. Рентгено-вские рефлексы фикси.уются на цилиндрической плевке, на оси цилиндра которой находится точка пересечения оси микропучка, оси колебания и оси вращения, благодаря чему выбранный ми1кроучасток не выходит из облучаемой области при шлифа во время экспозиции. Настоящий способ включает в себя съемку выбранных микрообластей шлифа, при которой образцу придают дополнительное колебание относительно третьей аси, перпендикулярной двум первым и проходящей через точку их пересечения. Это позволяет достигнуть больщей вероятности реализации отраж&ний и вывести «мертвую зону на рентгенограмйме из Экваториальной линии. Шлиф однозначно устанавливают в заранее отъюстированном держателе таким образом, что нри помещении его в камеру пересекающиеся в одной точке оси колеба:ний и ось цилиндрической кассеты лежат в плоокости шлифа. С помощью двух взаимно перпендикулярных движений шлифа в его плоскости центр находящегося под микросколоад микроучастка выводят на ось вращения дерл ателя, т. е. совмещают центр микроучастка с точкой пересечения четырех осей: оси мшсропучка рентгеновских лучей, оси вращения и двух осей колебания. Одновременно движение шлифа вокруг трех осей с различными нериода ми движений обеспечивает широкий интервал углов наклона кристаллографических плоскостей изучаемого микроучастка к оси рентгеновского нучка при строгой фиксации центра мнкроучастка в центре облучаемой области. Предмет и з о б р е т е :н и я Способ локального прицельного рентгеновского фазового анализа, заключающийся в облучении выбранного микроучастка (размером 40-100 мкм) шлифа узким рентгеновским пучком, коллимированным стеклянным капилляром, при одновременном вращении и колебании образца во время съемки, отличающийся тем, что, с целью получения на пленке бо3Лее полной дифракционной картины от фиксированного ми-кроучастка и выведения с экваториальной линии рентгенограАшы «мертвой зоны отражений в области малых углов, образцу во время экопюзиции нридают третье,5 дополнительное (жолебательное) движение, 4 ось которого пересекается с осями вращения и первого колебательного движения в одной точ-ке, лежащей в центре анализируемого включения, с периодом колебаний, отличным от периода колебаний вокрзт первой оси и от .периода вращения.