Устройство для рентгено-графического исследования монокристаллов Советский патент 1983 года по МПК G01N23/227 

Изобрететге относится к устройствам для анализа материалов с помощью дафра- гированного излучения, в частности дляисследования структуры монокристаллов, и может быть использовано для определения интегральных интенсивностей отражений рентгеновского луча исследугалым кристаллом с целью определения и уточнения структуры кристалла. Известно устройство называемое четырехкружным дифрактометром с экваториальным методом съемки и включающее источник рентгеновского излучения, установленный неподвижно на основании, держатель образца, способный вращаться вокруг своей оси и закрепленный на подвижном кольце круга, состоящего из двух коаксиальных колец, внешнее кольцо которого смонтировано на оси, совпадающей с осью вращения детектора рентгеновского излучения. Ось вращения детектора перпен дикулярна первичному рентгеновскому пуч ку и оси круга, состоящего из двух коаксиальных колец. Через точку их пересечения проходит ось держателя образца, и в точке пересечения всех осей находится образец Cl3 Однако указанное устройство не позволяет исследовЗть структуры кристаллов, подвергаемых облучению прямым лучом оптического квантового генератора (ОКГ) направленным по неизменному заданному кристаллографическому направлению, и воздействию сильного магнитного поля при температуре жидкого гелия без o6f aзования слепых областей и т.п,, так как наиболее удобное для доступа к кристаллу направление, расположенное на продолжении оси вращения держателя образца, занимает в зависимости от отражающего поло жения исследуемого кристалла любое положение от горизонтального до вертикального вследствие чего на дифрактометр не может быть установлено дополнительное оборудование, например ОКГ так, чтобы оно перемешалось синхронно с изменением положения держателя образца. Известно устройство, в котором вместо круга, состоящего из двух коаксиаль ных колец, используется вращение держателя образца вокруг дополнительной оси, наклоненной на угол к оси вращения детектора 2 , Однако да1шое устройство не позволяет исследовать сруктуры кристаллов, находящихся под электромагнитным, магнитным или силовым воздействием. Наиболее близким к предлагаемому является устройство для оентгенографичес1901 кого исследования монокристаллов, включающее горизонтальное основание, держатель образца, смонтированный на нем с возможностью поворота, средства воздействия на образец, .смонтированные на том ;жё основании, источник и детектор рентгеновских лучей, снабженные механизмами независимого отнс сительного поворота и -совместного поворота вокруг оси, лежащей в плоскости, которая проходит через образец параллельно основанию, и средствами отсчета углов поворота СЗ 3 . Недостаток известного устройства состоит в том, что в нем нельзя использ.овать средства воздействия на образец, обладающие большим весом, размерами и требующие для своей работы жесткой фиксации относительно оси вращения держателя образца, например, нельзя облучать образец прямым лучом ОКГ, включая ультрафиолетовое излучение, ось луча которого совпадает с продолжением оси. вращения держателя образца, вследствие чего нельзя обеспечить освещение светом ОКГ строго определенного участка поверхности образца и тем самым обеспечить постоянство влияния качества поверхности образца на количество света, проникающего внутрь образца. Нельзя также подводить к образцу жидкий гелий в больщих количествах за короткие промежутки времени, что необходимо для работы сверхпроводящи:х соленоидов, помещенных в жидкий гелий в непосредственной близости от исследуемого образца, при исследованиях структуры в магнитном поле и т.п. Цель Изобретения - расщирение функциональных возможностей при исследовании объектов, подвергаемых электромагнитному, магнитному и силовому воздействию в процессе испытаний. Указанная цель достигается тем, что в устройстве для рентгенографического исследования монокристаллов, включающем горизонта 1ьное основание, держатель образца, смонтированный на нем с возможностъю поворота, средства воздействия на образец, смонтированные на том же основании, источник и.детектор рентгеновских учей, снабженные механизмами независиого относительного поворота и совместого поворота вбкруг оси, лежащей в лоскости, которая проходит через образец араллельно основанию, и средствами отчета углов поворота, механизмы источника рентгеновских лучей и детекора и средства отсчета углов смонтироаны на платформе, установленной с воз

УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКОГО ИССЛЕДОВАНИЯ МОНОК)РИСТАЛЛОВ, включающее гориэой тапьное основание, держатель образца, смонтированный на нем с возможностью поворота, средства воздействия на образец, снабженные на том же основании. Источник и детектор рентгеновских лучей, снабженные механизмами независимого .относительного поворота и совместнио поворота вокруг оси, лежащей в плоскости, которая проходит через образец парап пепьно основанию, и средствами отсчета углов поворота, отличающееся тем, что с целью расширения его функ- , циональных возможностей при исследовании объектов, подвергаемых электромагнитному, магнитному; силов 1у воздействию в процессе испытаний, механизмы (Л поворота источника рентгеновских лучей и детектора и средства отсчета углов Смонтированы на платформе, установленной с возможностью поворота относительно основания вокруг оси, проходшцей через образец перпендикулярно оси совмесгаого поворота источника рентгеновских лучей И.детектора. оо со