СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ФОНА ПРИ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОМ ФЛУОРЕСЦЕНТНОМ АНАЛИЗЕ Советский патент 1971 года по МПК G01N23/223 

Изобретение относится к флуоресцентным способам реиггеноспектрального анализа веш.еств.

Известен способ измерения фона при рентгеноснектральном флуоресцентном анализе путем измерения суммарной интенсивности излучения пробы при различном напрялсении на рентгеновской трубке.

Недостатком способа является необход 1мость неоднократного измерения напряжения на трубке, что приводит к нестабильности условий измерения, существенно удлиняет время анализа и затрудняет реализацию способа.

Предлагаемый способ позволяет снизить влияние аппаратурных погрешностей на результаты измерения и улучшить порог чувствительности анализа.

Способ заключается в том, что интенсивность аналитической линии нлюс фон от пробы измеряют без фильтрации и с фильтрацией первичного излучения, а фон определяют расчетным путем из системы двух уравнений. Фпзической основой способа является различие в фильтрации эффективных длин волн возбул дающего первичного излучения и излучения фона на месте линии.

без фильтрации, и интенсивность /2 излучения с фильтрацией первичного излучения.

Измеренные такнм способом величины нредставляют собой сумму интенсивностей аналитической линии /л и фона /,),:

/, /.-.+/ф(1)

С фильтром гф с (|1ильгромЭкспериментально установлено, что

л с фильтром ,)

ф с фильтром .(о)

Подставляя выражения (2) и (3) в уравнение (1), найдем

ali - L + c

/Ф

Параметры а, b и с постоянны для заданных условий измерения (длины волны, толщины фильтра, геометрии и т. д.).

Для определения параметра а производят измерения на пробах с высоким содержанием определяемого элемента, когда величиной /ф можно пренебречь. Тогда выражения (2) и (3) преобразуются, соответственно, в

/2 а/л 3 Для определения параметров & и с производят измерения на пробах различного состава, не содержащих определяемый элемент. Строят график зависимости /ф с фильтром (/ф) и по этому графику определяют параметры b и с. Предмет изобретения ирсд .vie I из ии ре 1 ей ия Сиособ измерения фона при рентгеносиектральном флуоресцентном анализе нутем изме4рения суммарной интенсивности аналитической линии плюс фон в различных условиях облучения с последующей линейной расчетной экстраполяцией до значения собственно фона, отличающийся тем, что, с целью повыЩения чувствительности анализа, измерение суммар интенсивности нлюс фон нроизводят без фильтрации и повторно с фильтрацией,