СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВНУТРЕННИХ ДЕФЕКТОВ В ЗАГОТОВКАХ ПЛАСТМАССОВЫХ ИЗДЕЛИЙ Советский патент 1971 года по МПК G01N25/72 

Известен способ определения внутренних дефектов изделий, состоящими В просвечив ании их рентгеновскими лучами. Такой способ не позволяет контролировать дефекты в центральных слоях изделий и вызывает необходимость коррекции параметров при дефектоскопии различных составов материала изделия.

Предлагаемый способ свободен от указанных недостатков и отличается тем, что отформованную заготовку подвергают нагреву в вакууме до температуры ниже на 3-5°С температуры плавления пластификатора и по изменению состоящия ее поверхности судят о качестве заготовки.

Сущность изобретения состоит в следующем.

Полученные путем формования или литья под давлением заготовки помещают в герметичную камеру, в которой создают заданную степень вакуумирования и температуру на 3-5°С ниже температуры плавления пластификатора. В случае наличия воздуха в массе заготовки при такой обработке происходит разрушение поверхности (образование пузырей), которое фиксируется визуальпо.

Дефектные заготовки возвращаются затем на переработку.

Предмет изобретения

Способ определения внутренних дефектов в заготовках пластмассовых изделий, отличающийся тем, что, с целью повышения качества контроля, отформованную заготовку подвергают нагреву в вакууме до температуры ниже на 3-5°С температуры плавления пластификатора и по изменению состояния

поверхности судят о ее качестве.