СПОСОБ РАЗДЕЛЕНИЯ СПЕКТРОВ ФОТО- и ОЖЕ-ЭЛЕКТРОНОВ Советский патент 1971 года по МПК G01N23/00 

Описание патента на изобретение SU322704A1

Изобретение относится к методике исследобания структуры материалов по бета-спектрам.

Обычно при исследованиях электронных спектров на бетаспектрометрах фото- и ожеэлектроны образуют один спектр, где фото- и оже-линии от разных уровней атомов могут накладываться одна на другую, что вызываег затруднения при интерпретации спектров.

Предлагаемый способ позволяет, кроме получения смешанного фото- и ол е-снектра, регистрацию спектра одних оже-электронов. Вычитание из смешанного спектра оже-спектра позволяет получить чистый спектр фотоэлектронов.

Способ основан на независимости направления вылета из образца оже-электронов от направления выбрасывания фотоэлектронов, направление выбрасывания которых определяется направлением плоскости поляризации возбуждающего излучения.

Для осуществления настоящего способа бета-спектрометр содержит кристалл-поляризатор, вращающийся вместе с рентгеновской трубкой вокруг оси, перпендикулярной направлению ввода электронов в камеру спектрометра. Узел возбуждения электронов, например, в безжелезном бета-спектрометре с движением анализируемых электронов по кругу внутри торовой камеры (см. чертеж)

располагается над этой камерой. Узел состоит из рентгеновской трубки / и кристалла-поляризатора (монохроматора) 2. Внутри торовой камеры 3 находятся образец 4 и счетчик 5 электронов.

Смешанный спектр фото- и оже-электронов получается в том случа, когда возбулсдающее рентгеновское излучение из трубки в положении 1 направляется на кристалл 2 в направлении оси и от него уже поляризоваииы.м (так как угол отражения подбирается близким к 45°) на образец по оси z, а вылетающие в направлении оси у фотоэлектроны направляются по оси торовой камеры вместе с

частью оже-электронов, вылетающих в разные стороны. Спектр одних оже-электронов получается в том случае, когда возбуждающее излучение будет направлено из рентгеновской трубки на кристалл по оси у (или близкнм к

этому направлению) что на чертеже соответствует новому положению трубки и кристалла 2 (пунктир). Вследствие этого фотоэлектроны будут направлены но оси л: и не попадут в камеру бета-спектрометра, и счетчик будет регистрировать только ол.е-электроны.

Предмет изобретения

бетаспектроскопйческим методом, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений и надежности расшифровки спектров, поляризованное рентгеновское излучение от кристалла направляют на образец под таким углом плоскости поляризации к направлению входа электронов в канал бета-спектрометра, чтобы исключить попадание фотоэлектронов в него, при этом регистрируют спектр только оже-спектра из смешанного спектр а j получаемого при направлении фотоэлектронов в камеру бета-спектрометра.

Похожие патенты SU322704A1

название год авторы номер документа
УСТРОЙСТВО ДЛЯ АНАЛИЗА ЭЛЕКТРОННОЙ СТРУКТУРЫ 1971
SU308344A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ СОВЕРШЕНСТВА СТРУКТУРЫ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ СЛОЕВ 2007
  • Зельцер Игорь Аркадьевич
  • Кукушкин Сергей Александрович
  • Моос Евгений Николаевич
RU2370758C2
СПОСОБ ВОЗБУЖДЕНИЯ ЭЛЕКТРОННЫХ СПЕКТРОВ ИССЛЕДУЕМОГО ВЕЩЕСТВА 1999
  • Клюшников О.И.
RU2171464C2
Способ определения средних длин свободного пробега электронов 1989
  • Блехер Борис Эммануилович
  • Заславский Сергей Леонидович
  • Кораблев Владимир Васильевич
SU1718069A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ СОВЕРШЕНСТВА СТРУКТУРЫ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ СЛОЕВ 2007
  • Зельцер Игорь Аркадьевич
  • Кукушкин Сергей Александрович
  • Моос Евгений Николаевич
RU2370757C2
Устройство для исследования структурного совершенства тонких приповерхностных слоев монокристаллов 1983
  • Афанасьев Александр Михайлович
  • Имамов Рафик Мамед
  • Мухамеджанов Энвер Хамзяевич
  • Ле Конг Куи
  • Шилин Юрий Николаевич
  • Челенков Анатолий Васильевич
SU1173278A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЛОКАЛЬНЫХ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ НА ПОВЕРХНОСТИ ГЕТЕРОСТРУКТУР 2012
  • Дёмин Андрей Васильевич
  • Заботнов Станислав Васильевич
  • Золотаревский Юрий Михайлович
  • Иванов Вячеслав Семенович
  • Левин Геннадий Генрихович
  • Федянин Андрей Анатольевич
RU2491679C1
ДВУХФОТОННЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ МИКРОСКОП 2011
  • Мишина Елена Дмитриевна
  • Семин Сергей Владимирович
  • Федянин Андрей Анатольевич
  • Конященко Матвей Александрович
RU2472118C1
МЁССБАУЭРОВСКИЙ СПЕКТРОМЕТР С РЕГИСТРАЦИЕЙ КОНВЕРСИОННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ ПРИ СУБГЕЛИЕВЫХ ТЕМПЕРАТУРАХ 2016
  • Козин Михаил Германович
  • Ромашкина Ирина Леонидовна
RU2620771C1
Способ измерения параметров решетки монокристаллов и устройство для его реализации 1976
  • Батурин Владимир Евстафьевич
  • Имамов Рафик Мамед
  • Ковальчук Михаил Валентинович
  • Ковьев Эрнест Константинович
  • Палапис Вилнис Екабович
  • Семилетов Степан Алексеевич
  • Шилин Юрий Николаевич
SU584234A1

Иллюстрации к изобретению SU 322 704 A1

Реферат патента 1971 года СПОСОБ РАЗДЕЛЕНИЯ СПЕКТРОВ ФОТО- и ОЖЕ-ЭЛЕКТРОНОВ

Формула изобретения SU 322 704 A1

SU 322 704 A1

Даты

1971-01-01Публикация