Изобретение относится к методике исследобания структуры материалов по бета-спектрам.
Обычно при исследованиях электронных спектров на бетаспектрометрах фото- и ожеэлектроны образуют один спектр, где фото- и оже-линии от разных уровней атомов могут накладываться одна на другую, что вызываег затруднения при интерпретации спектров.
Предлагаемый способ позволяет, кроме получения смешанного фото- и ол е-снектра, регистрацию спектра одних оже-электронов. Вычитание из смешанного спектра оже-спектра позволяет получить чистый спектр фотоэлектронов.
Способ основан на независимости направления вылета из образца оже-электронов от направления выбрасывания фотоэлектронов, направление выбрасывания которых определяется направлением плоскости поляризации возбуждающего излучения.
Для осуществления настоящего способа бета-спектрометр содержит кристалл-поляризатор, вращающийся вместе с рентгеновской трубкой вокруг оси, перпендикулярной направлению ввода электронов в камеру спектрометра. Узел возбуждения электронов, например, в безжелезном бета-спектрометре с движением анализируемых электронов по кругу внутри торовой камеры (см. чертеж)
располагается над этой камерой. Узел состоит из рентгеновской трубки / и кристалла-поляризатора (монохроматора) 2. Внутри торовой камеры 3 находятся образец 4 и счетчик 5 электронов.
Смешанный спектр фото- и оже-электронов получается в том случа, когда возбулсдающее рентгеновское излучение из трубки в положении 1 направляется на кристалл 2 в направлении оси и от него уже поляризоваииы.м (так как угол отражения подбирается близким к 45°) на образец по оси z, а вылетающие в направлении оси у фотоэлектроны направляются по оси торовой камеры вместе с
частью оже-электронов, вылетающих в разные стороны. Спектр одних оже-электронов получается в том случае, когда возбуждающее излучение будет направлено из рентгеновской трубки на кристалл по оси у (или близкнм к
этому направлению) что на чертеже соответствует новому положению трубки и кристалла 2 (пунктир). Вследствие этого фотоэлектроны будут направлены но оси л: и не попадут в камеру бета-спектрометра, и счетчик будет регистрировать только ол.е-электроны.
Предмет изобретения
бетаспектроскопйческим методом, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений и надежности расшифровки спектров, поляризованное рентгеновское излучение от кристалла направляют на образец под таким углом плоскости поляризации к направлению входа электронов в канал бета-спектрометра, чтобы исключить попадание фотоэлектронов в него, при этом регистрируют спектр только оже-спектра из смешанного спектр а j получаемого при направлении фотоэлектронов в камеру бета-спектрометра.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
УСТРОЙСТВО ДЛЯ АНАЛИЗА ЭЛЕКТРОННОЙ СТРУКТУРЫ | 1971 |
|
SU308344A1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ СОВЕРШЕНСТВА СТРУКТУРЫ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ СЛОЕВ | 2007 |
|
RU2370758C2 |
СПОСОБ ВОЗБУЖДЕНИЯ ЭЛЕКТРОННЫХ СПЕКТРОВ ИССЛЕДУЕМОГО ВЕЩЕСТВА | 1999 |
|
RU2171464C2 |
Способ определения средних длин свободного пробега электронов | 1989 |
|
SU1718069A1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ СОВЕРШЕНСТВА СТРУКТУРЫ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ СЛОЕВ | 2007 |
|
RU2370757C2 |
Устройство для исследования структурного совершенства тонких приповерхностных слоев монокристаллов | 1983 |
|
SU1173278A1 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЛОКАЛЬНЫХ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ НА ПОВЕРХНОСТИ ГЕТЕРОСТРУКТУР | 2012 |
|
RU2491679C1 |
ДВУХФОТОННЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ МИКРОСКОП | 2011 |
|
RU2472118C1 |
МЁССБАУЭРОВСКИЙ СПЕКТРОМЕТР С РЕГИСТРАЦИЕЙ КОНВЕРСИОННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ ПРИ СУБГЕЛИЕВЫХ ТЕМПЕРАТУРАХ | 2016 |
|
RU2620771C1 |
Способ измерения параметров решетки монокристаллов и устройство для его реализации | 1976 |
|
SU584234A1 |
Даты
1971-01-01—Публикация