I
Изобретение относится к области автоматики и контрольно-измерительной техники и может быть применено для инфракрасного контроля электронных схем.
Известен способ для определения терморельефа электронных схем путем сканирования их поверхности, заключающийся в регистрации инфракрасного излучения в рабочем и калибровочных режимах, сравнении рабочей и калибровочных теплограмм и определении распределения температуры по поверхности объекта.
Однако недостаток этого способа заключается в том, что сравнение записанных рабочей и калибровочных теплограмм после сканирования приводит к расходу большого количества материалов для записи (бумаги) и значительному времени на все операции контроля.
Предлагаемый способ определения терморельефа отличается от известного тем, что. получаемые в процессе сканирования сигналы калибровочных теплограмм сравнивают с сигналом рабочей теплограммы, воспроизводимым с юсителя информации одновременно со сканированием, и сигналы равенства ординат ра-бочей и 1калибровочных теплограмм используют для получения изотерм либо областей с заданной градацией по температуре.
Это позволяет повысить оперативность
контроля и точность определения терморельефа электронных схем.
На фиг. 1 изображена блок-схема задания рабочего режима электрической нагрузки
электронных схем; на фиг. 2 - блок-схема .калИ|б,ровочных режимов нагрева.
Исследуемый объект / (см. фиг. 1), соединенный с источником питания 2, размещен на столе 3, который, в свою очередь, связан с
блоком управления 4. Выход сканирующего ИК-микроскопа 5 соединен со входом регистрирующего устройства 6, два других входа которого подключены к двум выходам блока управления 4 столом.
Как видно но фиг. 1, первую операцию сканирования объекта / осуществляют с помощью стола 3, управляемого блоком управления 4. Источник питания 2 обеспечивает рабочий режим нагрева объекта с распределеиием температуры Тр (X, У).
Блок управления 4 совместно со столом обеспечивают сканирование объекта по всей его поверхности.
Уровень ИК-излучения рабочего режима
нагрева объекта регистрируется устройством 6.
Одновременно в том же устройстве регистрируются текущие координаты X(t и У(0 сканирующего пятна, получаемые с помощью
блока управления 4. :3. По окончании процесса сканирования и регистрации в рабочем режиме записанную в устройстве-регистраторе 6 информацию воспроизводят и одновременно объект сканируют без регистрации, но уже в калибровочном режиме нагрева с помощью подогревательной печи 7 и блока задания 8, как .это показано на фиг. 2. Также одновременно и синхронно сопоставляют с пЬмоп1ью устройства сравнения 9 уровни ИК-излучения рабочего режима регистратора 6 и -калибровочного режима микроскопа 5 и регистрируют результат сравнения устройством 10. По окончании сканирования изменяют температуру калибровочного режима .и повторяют сканирование, воспроизведение и сравнение с регистрацией результатов сравнения подобно тому, как это было описано выше. Каждой температуре калибровочного режима соответствует на регистраторе 10 изотерма Тр (X, У), где Тр - температура нагрева подогревательной печи 7. Температура, задаваемая блоком 8, может быть зафиксирована и отмечена либо вручную оператором на изотерме, либо автоматически цветом -или знаком. В качестве регистратора 6 может быть взят магнитофон с записью по одной или нескольким дорожкам. В случае одяодорожечной записи сигнал ИК-уровня предварительно следует преобразовать по методу ЧМ-модуляции, а импульсы координат J и У замещать, так, как это сделано в телевидении (полый телевизионный сигнал с синхрострочными и синхрокадровыми импульсами). В качестве устройства сравнения 9 может быть применен дифференциальный дискриминатор уровня, либо, цифровой реверсивный сумматор. Операцию регистрирования изотермы (регистратор 10) можно осуществить, к примеру, с помощью двухкоординатного цифрового самописца, либо электроннолучевой трубки. Предмет изобретения Способ определения терморельефа электронных схем путем сканирования их поверхности, регистрации инфракрасного излучения в рабочем и калибровочных режимах и фиксации распределения температуры по поверхности, отличающийся тем, что, с целью увеличения скорости и точности контроля, получаемые в процессе сканирования сигналы калибровочпых теплограмм сравнивают с сигналом рабочей теплограммы, воспроизводимым с носителя информации одновременно со сканированием, и формируют сигналы равенства рабочей и калибровочных теплограмм в виде изотерм.
Тр
Задание режима злеигпри есхой f aгpyi fu (рабочий pewu-M нагрела
Фиг
Гр(1,1
Задание НОЛ иброВочного режима иагреВа
Авторы
Даты
1973-01-01—Публикация