СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГЛУБИНЫ Советский патент 1973 года по МПК G01N23/18 G01B15/02 

Изобретение относится к интроскопии, а именпо к использованию радиоактивных излучений для определения качества материалов и изделий, например для определения глубины залегания дефекта или неоднородности в материале, изделии. Известен способ определения глубины залегания дефекта при помощи двухкапальпого иопизационного дефектоскопа. Однако известный способ не позволяет автоматизировать процесс определения. Целью изобретения является автоматизация процесса определения глубины залегания дефекта. Для этого в двухканальном ионизационном дефектоскопе оси коллиматоров детекторов располагают под острым углом, в вершине которого помещают источник излучения, и при перемещении изделия в направлении, перпендикулярном биссектрисе острого угла, измеряют время между моментами регистрации дефекта первым и вторым детекторами излучения, по величине которого судят о глубине залегания дефекта. На чертеже приведена схема устройства, 1ФИ помощи которого можно реализовать предложенный способ. В расходящемся пучке излучепия источника 1. устанавливают два коллимированных детектора 2, 3, оси коллиматоров которых Пересекаются в точке расположения источника излучения 1 и составляют угол а. Контролируемое изделие 4 перемещают со скоростью V между источником излучения I и детекторами 2, 3 в направлении, перпендикулярном биссектрисе угла ос. Коллиматоры детекторов вырезают из потока излучения узкие пучки, и детекторы 2, 3 регистрируют прохождение (пересечение) дефектом 5 пучков излучения. Сигналы с детекторов 2, 3 подают на блок измерения 6. При различной глубине а залегания дефекта 5 при постоянной скорости V перемещения изделия 4 за время i между моментами регистрации дефекта 5 первым 2 и вторым 3 детекторами излучения изделие пройдет различные пути Ь. Глубина залегания дефекта b , а a c.ie -с. где а - глубина залегания дефекта, I) .„.. путь, пройденный изделием за время между моментами регистрации дефекта и детекторами 2 и 3, а - угол между осями коллиматоров, с - расстояние от источника излучения до изделия.