Способ определения удельной поверхности материалов Советский патент 1974 года по МПК G01N13/00 

1

Изобретение предназначено для определения тонкости номола (дисперсности) сыпучих материалов (например, строительных).

По основному авт. св. № 290202 известен способ определения удельной поверхности материалов путем высушивания и измерения диэлектрической проницаемости.

Цель изобретения - повышение точности измерений.

Это достигается тем, что предварительно высушенный материал увлажняют инертной жидкостью в количестве 15-30% от веса твердого комнонента, измеряют диэлектрические параметры, по которым судят о величипе удельной поверхности.

Способ осуществляют следуюш,им образом.

Пекоторое количество исследуемого материала высушивают при температуре 105°С и увлажняют онределепным количеством инертной полярной жидкости. Затем помеш.ают материал в межэлектродное пространство измерительного емкостного датчика, уплотняют до определенной степени и измеряют диэлектрические параметры. Предварительно зная функциональные зависимости диэлектрических нараметров от количества введенной инертной полярпой н.идкости и величины

удельной поверхности высушенного твердого комнонента при одинаковых прочих условиях по значениям диэлектрических параметров определяют искомое значение удельной поверхности.

Различие в температурах, нри которой определена функциональная связь между диэлектрическими параметрами и удельной поверхностью и измерены диэлектрические параметры (как показатель, характеризуюший удельную поверхность) оценивают посредством температурных коэффициентов диэлектрических параметров.

Предмет изобретения

Способ определения удельной поверхности материалов путем высушивания и измерения

диэлектрической проницаемости по авт. св. ДЬ 290202, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, предварительно высушенный материал увлажняют инертной жидкостью в количестве 15-30%

от веса твердого комнонента измеряют диэлектрические параметры, по которым судят о величине удельной поверхности.