получаемого диагносгичеокого теста «забора полно1го Про-вбряю1щего теста. В практике целесоОбразно сначала про варять работоспособность комбинадиоиной схемы яа основе полного оросеряющего теста, входящего в яолный диа.пностичвокий тест. Прл отсутствии неисправности (необходимость в дальнейших проверках отпада(ет. При обнаружении же факта неиспра1В1Ности для отьюкания ее вида и aiecT.a необходи1ма реализадия оставшихся «аборов теста, ее входящих -в Л1р01ве|ряю|щий, но в сумме с йнм составляющих диалностичеокий тест. В результате этого умбньш1аются расход ресурса Нровдряемой схемы и время контроля.
Целью изобретения является т0выше:ние эффективности ра:боты устройства иолучения тестов бесповторяых ко-мбинациотаных схем.
Поставленная цель достигается тем, что устройство содержит блок па1мяти, подключенный управляющим входом ко второму выходу блока управления и входо1м ко второму выхо.ду коммутатора переменных элементарных конъюнк1ций, элемент И и индикатор на боров проверяющего теста, вход которого через элемент И подключен к выходу блока памяти.
Это позволяет выделять из получаемых тестов .полные проверяющие тесты.
Схема устройства изображена «а чертеже.
Устройство содержит 6vTOK управления 1, коммутатор переменных логической функпил 2, коммутатор иераменных эл.ементарных конъюнкций 3, индикатор тестовых iHai6opoiB 4, блок памяти 5, эле;мент И 6 и индикатор наборов проверяющего теста 7.
Блок уп равления 1 первым выходов «одКЛЮЧ0П к входу К01Ммутатор а переменных логической функции 2 и управляющему входу коммутатора переменных элементарных конъюнкций 3, вход :которого подключен к выходу ком 1утатора переменных логической функции 2. Второй выход блока управления 1 подключен к управляющему входу блока памяти 5, вход iKOToporo 1соединен ico вторым выходо1м коммутатора пе ременных элементарных конъюнкций 3. Пе|р|Вый выход ко1М1мута:Тора 3 подключен к входу индикатор|а тестовых .наборов 4. Вход индикатора 7 подключен через элемент И 6 к выходу блока памяти 5.
Блок управления 1 служит для подачи напряжения источника памяти на коммутаторы 2 и 3, снятия напряжения с блока памяти 5 и представляет собой ком1мутирующие устройства для выполнения укаЗ|анных функций.
Коммутатор переманных логической функции 2 предназначен для ввода переменных логической функции 1ко«т1ро.лируемой К01мбинационпой схемы и представляет собой Hai6op коммутирующих элементов, например переключателей, во включенном состоянии которых соответствующие выходы ко ммутатора подключ ают1ся ко входу.
Коммутатор переменных элементарных конъюнкций 3 служ.ит для ввода переменных элементарных :конъю1нкций логической функции и представляет собой набор коммутирующих элементов, -например переключателей с тремя фиксироваиными устойчивыми состояниями. В нейтральном положении их первые выходы ко1ммутатора подключены к его входу,
в ОДНО1М из нключенных положений вторые: выходы подключены к его управляющему входу, а в другом В1КЛЮЧ6ННОМ положении IK управляЮ1щему входу под.ключены оба выхода коммутатор а 3.
И1НДИ1катор тестовых наборов 4 1П1редставляет собой 1набор индицирую:щих элементов, отобра.жающих в двоичном коде информацию о тестовых наборах.
Блок па|Мяти 5 служит для хранения информации о наличии 1переменных в элементарных конъюнкциях и содержит элементы , число которъ1х определяется возможностью уст1ройства.
Элемент 6 предназначен для выполнения
логической |0пера1ции И, а индикатор наборов проверяющего теста 7 сигнализирует о- получении минимального количества наборов диагнастичеокого теста, составляющих в сумме полный проверяющий тест. Индикатор 7 представляет собой, например, индицирующий элем.ент.
Устройство работает следующим образом. В исходном положении уст1ройства все коммутирующие элементы находятся в выключенном или нейт1раль НО1М .положении.
Для определения наборов ра.зрыв.а с помощью 1коммутатора переменных логической фЗнасции 2 н-аб.ирают переменные инверсной логической функции, а с помощью коммутатора перем-ениых э.леме1нтареых конъюнкций 3- переменные одной из элементарных конъюнкций логической фун«ции. С подачей напряжения с блока управления 1 на ком м таторы 2 и 3 вндиlкaтqp тестОВых наборов 4 отобразит
инфо1рмацию о со1стояни.и. переменных в данном тестовом .йаборе. Для получеиия других разрыва с помощью коммутатора переменных элементарных конъюнкций 3 вводят переменные других конъюнкций при яеизменном положении (коммутирующих элементов ко1ммутатора (переменных ло гичеакой функции 2. При поочередном вводе всех конъюнкций получают все наборы -раэръта полного диагностического теста.
При выводе переменных с помощью (коммутатора 3 .блок па1мяти 5 запоминает их. При вводе всех переменных логической функции включится индикатор наборов проверяЮ(ЩегО теста 7. Это говорит о TOIM, что все наборы разрыв а, полученные до и в момент включения индикатора, входят в (проверяющий тест.
Перед получением наборов щу.нтирования с по мощью блока упра|Вления 1 снимается ианряжение И:сточника питания с блока памяти
5, в результате чего его элементы памяти возвращаются в исходное состояние и обесточивается Ш1ди1каггор на.боров проверяЮЩегО теста. Для 01П|ределения иаборов щуштирования с
по мощью (коммутатор.а пдремевных ЛОГИЧРЛК-ОЙ
фуикции 2 «.абИрают пе,рвмен ные логической фуекции, а с помощью коМ-мутатора переменных элементарных 1ко«ыо к1ций 3-переменные одной из элемента р ных коиъюткций дизъюнктивной нормальной формы инверсной лопичеокой футкции. С подачей «а1Н1ряжения с блока управления 1 «а коммутаторы 2 и 3 индикатор тестовых на бОров 4 ото бравит ИНформадию о состояиии переменных в даннол тестовом :набо1ре. Для получения других Ha6oipOiB ШуштирОВания с помощью КОММчтатора 3 -вводят переменные -других «онъюккций при неизменном положении коад-мутирующих элементов 1КО:М1мутато ра 2. При поочередно м вводе всех коныонкций по тучают все наборы шунтирования полного диагностического теста.
При вводе переменных с П10 мощыо ко М мутатора 3 блок памяти 5 запо1минает их. При вводе всех nqpeMeHHbix иивероной логической ф такции включится индикатор гаа боров проверяющего теста 7. Это говорит о том, что все наборы шунтирования, полученные до и в MOiMeHT включения индикато|ра, входят в прове1ряющий тест.
Объединяя все полученные н:аборы раз ры-ва и щуНтирования, получают полный диа1гностический тест для данной ком1бина ционлой схемы. О1бъединяя все зафиисированные наборы разрыва и шунтирования, полученные до и в Момеят включ.ения индикатора 7, получают полный проверяющий тест, входящий в получ енн ы и д и а гн остич еский.
В отдельных частных случаях 1П|роверяющий тест Может являться и диагностическим.
Но всегда проверяющий тест будет полностью
входить -в ч ИаГНОСТИЧ6СК1 Й.
Фор м у л а п 3 о б р е т е « и я
Устройство для получения тестов бесповторных комбинационных схем, содержащее блок управления, 1КОММутатор переменных логической функции, соединенный входом с первым выходом блока управления, ,и коммутатор переменных элементарных конъюнкций, вход которого подключен к выход ком1мутатора переменных логической функции, управляющий
вход-к первому выходу блока управления, первый выход соединен со входом индикатора тестовых наборов, отличающееся тем, что, с целью по1вышения эффективности работы устройства, оно содержит блок памяти, подключенный уп1равляющим входом ко вторО1му выходу блока управления и входом ко второму выходу коммутатора переменных эл ементарных конъюн1кций, элемент И и индикатор наборов проверяющего теста., вход которого
через элемент И подключен к выходу блока памяти.
Источники информации, щринятые во внимание при экспертизе: 1. Патент США N° 3614608, 32473R, 19.10.72.
2. Описание изобретения по заявке ЛЬ 1914008/18-24 от 03.05.73, по которой вынесено решение о выдаче авторского свидетельства.
