Но вращение кассеты с фотопленкой допустимо только при кольце, имеющем форму окружности; вращение же деформированного кольца приводит к его ушкрению, так что результирующая щирина определяется разницей радиусов, проведенных к противоположным участкам кольца вдоль направления наклона . Таким образом информация о макронапряжеииях будет потеряна. Целью изобретения является повышение точности при исследовании крупнозернистых материалов. Цель достигается тем, что по предлагаемому способу фотографическую регистрацию, по крайней мере, при наклонной съемке производят с гюмощью диафрагмы, например секторной, которую последовательно располагают в двух, разнесенных на 180°, положениях, которые пересекаются плоскостью, перпендикулярной к оси наклона образца и содержащеЗ первичный пучок. Сущность изобретения поясняет чертеж. Держатель образца 1 может поворачиваться относительно оси 2. На коллиматоре первичного пучка 3 устаиовлена кассета 4 для рентгеновской пленки с секторным экраном 5 и приводом 6 вращения кассеты. Между кассетой 4 и держателем образца 1 размещен дополнительный экран 7 с секторным вырезом, который может занимать либо положение Л, либо положение В. Угол при вершине сектора не превышает 20-30. Первичный пучок падает на образец по траектории 8. Реитгеиографирование крупнозернистого образца происходит следующим образом. Держатель образца 1 поворачивают вокруг оси 2, так что нормаль к поверхности образца составляет с осью ОО камеры некоторый угол . Секторный вырез экрана 7 устанавливают в положение Л. На пленку, . размещенную в кассете 4, попадает лиЦ1ь та часть из всего конуса дифрагированных лучей, которая ограничена секторным вырезом экрана 7. При вращении экрана 5, иа котором установлена кассета 4 с фотопленкой, оба участка пленки, ограниченные двумя противоположными секторными вырезами экрана 5, будут засвечиваться дифрагированным пучком излучения, попадающим в секторный вырез экрана 7, находящийся в положении А. При этом диаметр кольца на пленке будет определяться углом дифракции лучей, прошедших через секторный вырез экрана 7 в положении А. Затем секторный вырез экрана 7 устанавливают в положение В, а экран 5 с кассетой 4 перемещают таким образом, чтобы экспонировались ранее не засвеченные участки пленки. Поскольку в формировании части конуса дифрагированных лучей, ограниченной новым положением секторного выреза экрана 7 участвуют кристаллиты, потерпевшие другую деформацию, чем кристаллиты, обусловившие дифракцию в участке конуса, открытом для экспонироваиия при первоначальном положении А секторного выреза экрана 7, то углы дифракции будут иными, чем в первом случае, а следовательно иным будет и диаметр зачерненного кольца на фотопленке. Таким образом, при использовании данного способа можно определять напряжение в заданном направлении ()«,, методом косых съемок, а вращение пленки позволяет нивелировать эффект крупиозернистости, что открывает новые возможности для исследования остаточных напряжений в крупнозернистыхмамериалах методом косых съемок. Формула изобретения Способ рентгенографического определе1тя макронапряжеиий sin У -методом jc фотографической регистрацией дифракционной картины, включающий нормальную j, наклонную съемку исследуемого образца и вращение фотопленки, причем зкспоиирование при нормальной и наклонной съемке производят на различные участки фотопленки, отличающийся тем, что, с целью повыщения точности при исследовании крупнозернистых материалов, фотографическую регистрацию, по крайней мере, при наклонной съемке производят с помощью диафрагмы, например секторной, которую последовательно располагают в двух, разнесенных на 180°, положениях, которые пересекаются плоскостью, перпендикулярной к оси наклона образца и содержащей первичный пучок. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе: 1. Уманский Я. С. Рентгенография металлоъ и полупроводников. М., «Металлургия, 1969, с. 308-324. 2. Комяк Н. И , Мясников Ю. Г. Рентгеновские методы и аппаратура для определения напряжений. Л., «Машииостроение, 1972, с. 56.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ рентгеноструктурного анализа поверхности изделий | 1989 |
|
SU1793343A1 |
Установка для скоростного рентгено-структурного анализа | 1939 |
|
SU71253A1 |
Рентгеновская камера | 1983 |
|
SU1125517A1 |
СПОСОБ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА | 1973 |
|
SU373605A1 |
Рентгеновская камера для съемки крупнозернистых материалов | 1986 |
|
SU1402872A2 |
Способ определения параметров решетки поликристаллических материалов | 1987 |
|
SU1436036A1 |
СПОСОБ РАДИАЦИОННОГО КОНТРОЛЯ СОСТОЯНИЯ ОБЪЕКТА | 2009 |
|
RU2392610C1 |
Способ определения тонких структурных изменений в растянутых полимерах | 1987 |
|
SU1413493A1 |
Рентгеновская приставка к электронному микроскопу | 1972 |
|
SU442399A1 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВНУТРЕННИХ НАПРЯЖЕНИЙ МНОГОСЛОЙНЫХ НАНОСТРУКТУРИРОВАННЫХ ПОКРЫТИЙ, ОСНОВАННЫЙ НА ИСПОЛЬЗОВАНИИ СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ | 2021 |
|
RU2772247C1 |
Авторы
Даты
1978-09-15—Публикация
1977-02-01—Подача