Способ микроспектрального анализа химического состава вещества Советский патент 1981 года по МПК G01N21/00 

Описание патента на изобретение SU635788A1

Изобретение относится к области промышленных методов аналитического контроля химического состава вещест ва и может быть использовано в производстве материалов, в машинострое нии, геологии, при обработке, резке и сварке деталей лучом оптического квантового генератора (ОКГ), при проведении спектрального анализа с высокой концентрационной чувствитель ностью практически на все элементы Известен способ микроспектрально го анализа химического состава вещества, заключающийся в плавлении, испарении и возбуждении атомов иссле дуемого вещества, воздействием на него излучения лазера и в регистрации эмиссионного спектра этого вещества Cl. Основным недостатком такого способа спектрального анализа является малая интенсивность спектральных линий, что связано с малым содержанием паров в. общем количестве продуктов световой эрозии. Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату является способ спектрального анализа химического состава вещества заключающийся в плавлении, испарении и возбуждении атомов исследуемого вещества воздействием на него потока тепловой энергии и регистрации змис сионного спектра этого вещества 2 J, В этом способе анализируемое вещество одновременно с воздействием излучения ОКГ подвергают воздействию электрического разряда, что приводит к некоторому увеличению интенсивности спектральных линий. Недостатком этого способа является недостаточно сильное увеличение интенсивностей спектральных линий. При использовании этого способа необходимо наличие двух источников потоков тепловой энергии, причем необходимо строго синхронизировать время запаздывания развития электрического разряда относительно начала действия.лазерного излучения на анализируемое вещество. Кроме того, в известном способе спектрального анализа возможно загрязнение спектра линиями материала электродов, Цель изобретения - увеличение интенсивностей излучения спектральных линий, особенно линий примесей. Это достигается 5лагодаря тому, что в исследуемом.веществе стимулируют процесс объемного испарения путем

Похожие патенты SU635788A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА ЭЛЕМЕНТНОГО СОСТАВА ВЕЩЕСТВА 2003
  • Лосев Валерий Федорович
  • Осипов Владимир Васильевич
  • Прокопьев Владимир Егорович
  • Соломонов Владимир Иванович
RU2270994C2
Способ анализа элементного состава веществ 2021
  • Темкин Вячеслав Витальевич
  • Певгов Вячеслав Геннадьевич
  • Панин Александр Михайлович
RU2756784C1
СПОСОБ АТОМНО-АБСОРБЦИОННОГО СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА ЭЛЕМЕНТНОГО СОСТАВА ВЕЩЕСТВА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1998
  • Корепанов В.И.
  • Лисицын В.М.
  • Олешко В.И.
RU2157988C2
СПОСОБ ИНТЕГРАЛЬНО-СЦИНТИЛЛЯЦИОННОГО ЭМИССИОННОГО АНАЛИЗА С ИСПАРЕНИЕМ ВЕЩЕСТВА ИЗ КРАТЕРА ЭЛЕКТРОДА ДУГОВОГО РАЗРЯДА 2008
  • Аполицкий Валентин Николаевич
RU2368890C1
СПОСОБ ИНТЕГРАЛЬНО-СЦИНТИЛЛЯЦИОННОГО ЭЛЕМЕНТНО-ФАЗОВОГО ИССЛЕДОВАНИЯ ВЕЩЕСТВА С ФРАКЦИОННЫМ ИСПАРЕНИЕМ ЕГО В ПЛАЗМУ 2011
  • Аполицкий Валентин Николаевич
RU2467311C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕМЕНТНОГО СОСТАВА КАПЕЛЬНЫХ ЖИДКОСТЕЙ 2016
  • Терашкевич Игорь Макарович
RU2655629C2
УСТРОЙСТВО ДЛЯ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА 1993
  • Бойко Юрий Владимирович
  • Задонская Наталья Викторовна
  • Лузина Татьяна Алексеевна
  • Любочко Владимир Александрович
RU2107283C1
СПОСОБ АНАЛИЗА МИКРОПРИМЕСЕЙ ВЕЩЕСТВА В ГАЗОВЫХ СМЕСЯХ 1997
  • Буряков И.А.
  • Крылов Е.В.
RU2120626C1
Способ определения элементного состава капельных жидкостей 2021
  • Терашкевич Игорь Макарович
  • Кондратенко Владимир Степанович
RU2779718C1
Способ локального спектрального определения углерода в твердых образцах 1981
  • Рябчикова Валентина Павловна
  • Рудневский Николай Константинович
  • Максимов Дмитрий Евгеньевич
SU1065744A1

Реферат патента 1981 года Способ микроспектрального анализа химического состава вещества

Формула изобретения SU 635 788 A1

SU 635 788 A1

Авторы

Агеев В.А.

Янковский А.А.

Даты

1981-10-07Публикация

1976-04-26Подача