Вакуумный квантометр Советский патент 1979 года по МПК G01J3/02 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в металлургической и машиностроительной промышленности и может быть использовано для анализа металлических образцов различного сечения.

Известно устройство для спектрографического анализа образцов твердого вещества 1.

Недостатком этого устройства является то, что исследуемый образец должен иметь сечение больше, чем отверстие разрядной камеры.

Наиболее близким по техническому решению к предлагаемому является вакуумный квантометр. содержащий разрядную камеру, расположенную под отверстием в столе с установленным вней подставным электродом, и шток, закрепляющий исследуемый образец.2}

Однако этот прибор нельзя применять для анализа катаной стали со стороны поперечного сечения (швеллер, балка, уголок, лист),, так как малые сечения этих профилей (меньше 20 мм) не перекрывают отверстие диаметром 20 мм в штоке штатива.

Целью изобретения является расширение аналитических возможностей ваа

куумного квантометра для анализа ме таллических образцов различного сечения.

Указанная цель достигается тем, что вакуумный квантометр содержит дополнительную съемную герметичную камеру, сообщающуюся с разрядной и установленную над отверстием в столе, в который вмонтирован пружинный токопровод, обеспечивающий электрический контакт для разряда между исследуемым образцом и подставным электродом .

На чертеже схематично изображен предлагаемый квантометр.

Он состоит из стола-штатива 1 с отверстием 2 диаметром 20 мм, под которым расположена разрядная камера 3, заполняемая згицитным газом (аргоном) , с помещенным в нее подставным электродом 4. Над отверстием установлена дополнительная сообщающаяся с разрядной, герметичная съемная камера 5, в крышку 6 которой вмонтирован пружинный токопровод 7, выполненный, например, в виде металлической пластины. Токопровод 7 поджимает исследуемый образец 8, который устанавливают над отверстием 2. Сечение образца меньше отверстия в столе 1, поэтому через отверстие свободно проходит защитный газ и заполняет камеру 5, Имеющийся в штативе фиксирующий шток 9 опускают до упора с крышкой камеры. При этом герметизируется камера 5 и через токопровод 7в крышке 6 камеры замыкается злектрическая цепь между штоком 9 и исследуемым образцом 8., обеспечивая при включении генератора возникновение разряда между образцом 8 и подставным электродом 4. Камера 5 выпол иена из плексигласа, а в ее крьлшку вмонтированы металлические элементы для контакта со штоком 9. Крышка 6 может быть полностью выполнена из металла. Анализ химического состава металла на предлагаемом устройстве про водят следующим образом. Исследуемый образец 8 катаной ста ли, сечение профиля которого меньше отверстия 2, так как образец вырезан со стороны поперечного сечения профиля (швеллера), укладывают над отверстием. Над образцом и не перекры тым им отверстием устанавливают допо нительную съемную камеру 5, сообщающ юся с разрядной камерой 3 и свободно заполняемой аргоном за счет неперекрытого отверстия 2. Пружинным токопроводом 7, впаянным изнутри в металлическую крышку.б дополнительной камеры 5, обеспечивают электрический контакт образца .8 со штоком 9. Опускают шток, имеющийся в штативе квантометра, на крышку б камеры 5 и, при жимая ее к столу-штативу 1, обеспечи вают герметизацию камеры и замыкание электрической цепи для протекания разряда между исследуемым образцом 8и подставным электродом 4. Включают генератор, и свет от искрового разряда подвергают спектральному анализу. Предлагаемое устройство позволяет анализировать образцы из катаной стали, сечение которых меньше, чем отверстие в столе квантометра, что обусловлено необходимостью анализа образцов, вырезанных со стороны поперечного сечения профиля. Выполнение анализов не требует перестройки штатива прибора. В одном приборе можно выполнять анализ как литой стали в обычных условиях, так и катаной. Вакуумный квантометр прост в эксплуатации и позволяет анализировать образцы катаной стали различных сече нь и . Формула изобретений Вакуумный квантометр, содержащий разрядную камеру, расположенную под отверстием в столе с установленным в ней подставным электродом, шток, закрепляющий исследуемый образец, о тлича. ющийся тем, что, с целью расширения аналитических возможностей, он содержит дополнительную съемную герметичную камеру, сообщающуюся с разрядной и установленную ,над отверстием в столе, в который вмонтирован пружинный токопройод, обеспечивающий электрический контакт для разряда между исследуемым образцом и подставньом электродом. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Патент Франции 2097376, кл. G 01 N 21/00, 1972. 2.Инструкция по эксплуатации. Установка фотоэлектрическая вакуумная ДФС-41. Ордена Ленина ленинградское опытно-механическое объединение, 1973.

. - J