Устройство для рентгеновского исследования облучаемых образцов Советский патент 1988 года по МПК G01N23/20 

Описание патента на изобретение SU663216A1

- 166 Изобретение относится к области фйзическогб металловедения, а именно к исследованию радиационных повреждений в кристаЛлиЧё,скйх материалах методами дифракции рентгеновских лучей Йзвестн:ая зейтгеновская установка для исследования Материалов при низких температурах, которая состоит из держателя образца; вакуумной или заполненной охлаждающим газом камеры с окнами дли пропускания рентгеновских лучей; сосудов, в которых хранится запас хладагента (обШно сжижёчные газы). Эта установка не приспособлена для облучения обра;зцой ионизирующими йзл чёнйяШ с п6слёду1дШйШШедЬваН1 ем возникших радиационных поррежде НИИ с пбйо1цью дифракции рентгеновских лучей без оёбгрева образца по той причине, что источники ионизирующих излучений (ра:зличного рода ускорители элём нтарнш частиц, тяжельгх ионов и ТсП.) удалены от рентгенозвской установки .и образцы после облучения необходимо транспор йройать к ней. BTIUI Связано 7с iftibJtтйёмоВразца из вакуумного объема исто,чника ионизирующих излучений, что сопровождается его нагревом и отжигой изучаемых радиационньк повреждений. Прийе Ййке ейлЪвйЙ : iaKpaHOB с Шнамй для пропускания йаШёйр ёго й&лучений и рентгеновских лучей, например из тойКого бериллий, нёйрйёи ле нонз:;-за малости пробега ионизирую-, щих частиц, которые не пробивают зти , . - - ..- . Извесгей также рёнтгёйовский диф рактометр ДЛЯ исследования ййтёрйа: лов, подвергнутых деформации и облучению При НИЗКИХ темйературах,Сбдержащий рентгеновскую трубку, гоййЬметр saKyyfiHyio камеру, детекфор рейтгеновСких лучей, крИоСтат и мйКроСКой для наблюдения за положением криостата, цно которот-о вЫйоЛненб в виде гшастины, изготовленной из мат(Врйал а, мало поглощающего рёнтгёйовские лучи, например из бериллия, и служит основаййёй для расйбл6 ёНйя исследуемого образца. :.,..-;..-НедоСтатоК д,ифраКт6мё1ра сб&тоит ; в Ш озьюжно с использования - дагя изучейия:, радиационных йбйреждений, вы:зьшаемых облучением ip6beKTa тяжель1Ми частицами. Известна установка для рентгенов сййх Исследований при низких темпера2турах, содержащая герметичный корпусоснование с закрытыми бериллиевой фольгой окнами для пропускания рент- , геновских лучей, фланец и уплотнение., съемный криостат, сообщающийся посредством хладопровода с выполненным на нем держателем образца, который помещен внутрь корпуса и окруткен тепловыми экранами. Однако при исследовании радиационных пов1 еяда;ёний установка должна быть помещена, вблизи источника ионизирую- . щёго излучения, постоянно занимая вьтускное окйо ускорителя и препятствуя исггользованию для проведенйя других работ. Целью изобретения является повышение эффективности использования йст очйиков быстрых частиц, С этой целью устройство для рент- геновскрго исследования облучаемых образцов, содержащее герметичный кЬрпус-оснбвание с закрытыми бериллиевой фольгой окнами для пропускания рентгеновских лучей, фланец и уплотнение, съемный крибстат, сообщающийся посредством хладопровода с выполненным на нем держателем образца , который помещен внутрь корпуса и окружен теплбвыгет экранами, содержит второй идентичный корпус с окном для пропускайня пучка быстрых чаСтиц, его .крисзСтат снабжен колпаком, герметично заКрываклцИМ держатель образца, а внутри каждого корпуса смонтирован механизм установки и снятия колпака. На чертеже изображено предлагаемое устройство. Устрбйство для рентгеновского Исследования облученных образцов состоит Мз :геллйёвого криостата 1 с держатепем образца 2, закрепленным на его внутреннемсосуде 3 с гелием, теплоisbix экранов 4 и 5, корпуса-основания 6с приваренным к нему фланцем 7, уплотнения 8 между фланцем 7 и фланцем 9 на криостате колпака 10 с уплотнеHHeM 11 и механизма 12 его одевания и снятия в вакууме. Окно 13 в корпусе 6 служит для пропускания пучка быстрЬ1х частиц 14 „ Точно такой же корпусоснование с фланцем, уплотняющей прокладкой и окном для пропускания рентгеновских лучей установлен на вакуумном рентгеновском дифрактомере. Внутри корпуса смонтирован механизм 12j позволякяций оцеватъ и снимать колпак 10, не йарушая вакуума в системе. Механизм 12, с помощью которого можно производить эти операции, состоит из втулки 15 и штока 16, введенных в куумное пространство через сколь;зящие уплотнения 17 и 18, первое из которых осуществляет вакуумное уплотйение между корпусом 10 и втулкой.15, а второй - втулкой 15 и штоком 16, Втулка 15 с платформой для размещения колпака служит для надевания и снятия колпака и может приводиться в Возвратно-поступательное движение вдоль оси корпуса (вверх-вниз) с помощью накидной резьбовой гайки 19, связанной с 15 корпусом 10. Шток 16 приводится в движение с помощью гайки 20, связанной со втулкой 15, и служит для управления рычажно-пружинным механизмом крепленшт колпака 10 путем нажатия на ры-2о чаги 21 вилкой 22 с пазами 23. После облучения образца пучком ускореняьйс ; частиц приводят в действие механизм одевания колпака, который, не нарушая Г. 6632 вакуума, герметично закрываетобразец вместе с держателем. Напуская йоэдух внутрь корпуса, снййаюткриостат и переносят его из йЬайцйи облучения к рентгеновскому дифрактометру, где устанавливааот на фланце корпус, из которого затем воздух, после чего, нб нарушай вакуума, снимают колпак с помощью механизма, смонтированного внутри корпуса, Предлагаемое устройство пoзвpляet облучать образцы различными видами ионизирующих излучейий низких (гелиевых) температурах и без промежу т очного oTorpesa иёсЛедойать И с помощью дифракции рентгеновских лучей. В то же время рабочее пространство непосредственно около уйкорителя по окончании цикла облзгчерия остаетсй йво боднымиможет быть использовано для проведений flpyir-HX работ,что в знаедтельной степени повышает эффективность его использования.

Похожие патенты SU663216A1

название год авторы номер документа
Криогенная система для облучения и ренгеновского исследования облученных образцов 1983
  • Захаров О.П.
SU1095786A1
Блок держателя образца, предназначенный для проведения комбинированных измерений с помощью рентгеноструктурного анализа в скользящем пучке и дополнительных физико-химических методов исследования 2016
  • Рычков Андрей Александрович
  • Графская Ксения Николаевна
  • Анохин Денис Валентинович
  • Иванов Дмитрий Анатольевич
RU2650836C1
Высокотемпературная рентгеновская камера 1989
  • Деревягин Анатолий Никитович
  • Кац Аркадий Маркусович
  • Кочерга Олег Витальевич
  • Ошкадеров Станислав Петрович
  • Петьков Валерий Васильевич
  • Приходько Сергей Васильевич
  • Телевич Роман Владимирович
SU1695198A1
КРИОСТАТ ДЛЯ СТРУКТУРНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ 1972
SU335508A1
Криостат для охлаждения детекторов 1978
  • Халин Николай Федорович
  • Хомяков Георгий Константинович
  • Страшинский Анатолий Георгиевич
  • Нечепоренко Вадим Александрович
SU763651A1
Криостат для рентгеновского дифрактометра 1978
  • Булатов А.С.
  • Долженко В.Ф.
  • Колобердян В.Е.
SU693804A1
Низкотемпературная приставка к рентге-НОВСКОМу дифРАКТОМЕТРу 1979
  • Прохватилов Анатолий Иванович
  • Прыткин Виктор Владимирович
SU842520A1
Рентгеновская приставка для длинномерных образцов 1983
  • Бабенко Валентин Иванович
  • Григорьев Станислав Михайлович
  • Утенкова Ольга Владимировна
  • Райцес Вениамин Борисович
SU1101723A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТЕПЕНИ РАЗРУШЕНИЯ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ СТРУКТУРЫ ОБРАЗЦА В ПРОЦЕССЕ ЕГО ОБЛУЧЕНИЯ УСКОРЕННЫМИ ЧАСТИЦАМИ 2021
  • Шемухин Андрей Александрович
  • Евсеев Александр Павлович
  • Воробьева Екатерина Андреевна
  • Балакшин Юрий Викторович
  • Назаров Антон Викторович
  • Миннебаев Дамир Кашифович
  • Петров Василий Львович
  • Филиппычев Сергей Аркадьевич
RU2792256C1
Криостат для рентгенографии кристаллов в магнитном поле 1984
  • Булатов А.С.
  • Долженко В.Ф.
SU1217079A1

Реферат патента 1988 года Устройство для рентгеновского исследования облучаемых образцов

УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИССЛЕДОВАНИЯ ОБЛУЧАЕМЫХ ОБРАЗЦОВ', с'одержащее герметичный корпус-основа-ние с закрытыми бериллиев'ой фольгой окнами для пропускания рентгеновских лучей, фланцем и уплотнением, съемный криостат, сообщающийся посредством хладопровода с вьтолненным на рем держателем образца, который помещен внутрь корпуса и окружен теш1овь1Ми экранами, отличающееся тем, что, с целью повышения эффективности использования источника быстрых частиц, оно содержит второй идентич- i ный корпус, с окном для'пропускания пучка быстрых частиц, kpHbcTat снабжен колп.аком, герметично закрывающим держатель образца, а внутри каждого корпуса смонтирован Механизм установки и снятия колпака в вакууме.f •^^Од hd05>&

Формула изобретения SU 663 216 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1988 года SU663216A1

Финкель В,А
Низкотемпературная рентгенография металлов, М,, "Металлургия", 1971, с.34.Авторское свидетельство СССР •№ 500495, кл
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Паспорт и техническое описание» В/О Техснабэкспорт СССР, Москва, 1968о

SU 663 216 A1

Авторы

Захаров О.П.

Даты

1988-12-07Публикация

1978-01-05Подача