Способ измерения толщины окисной пленки Советский патент 1980 года по МПК G01N1/28 G01B11/06 

Описание патента на изобретение SU723362A1

Изобретение относится к способам измерения толщины окисной пленки на поверхности проволоки и может быть использовано на металлургических и метизных заводах для определения толщины ОКИСНОЙ пленки на поверхнЪсти горячекатаннЪй или термической обработанной стальной углеродистой проволоки.

Известен способ измерения толщины окисной пленки, включающий отделение окисной пленки, изготовление металлЬграфического глифа, замер толщины окисной пленки под микроскопом 1 ,

Недостатком этого способа является большая трудоемкость и сложность сохранения окисной пленки на поверхности при подготовке шлифов для замера толщины пленки под микроскопом. Механически непрочная окисная пленка на поверхности проволоки из углеродистой стали при отрезке образца, а также при механической обработке шлифа выкрашивается, что значительно снижает выход годного при изготовлении таких шлифов.

Кроме того, в связи с неравномерной толсщной окисной пленки по

длине проволоки, для точных измерений необходимо приготовление большого числа шлифов отрезных участКОЕ проволоки.

Целью изобретения является снижение изготовления металлографического шлифа.

Это достигается тем, что в предложенном способе измерения толщины окисной пленки, включающем отделение окисной пленки от поверхности проволоки, изготовление метсшлографического 1члифа, измерение толщины

окисной пленки, перед изготовлением металлографического шлифа проводят ориентацию частиц окисной пленки в однородном магнитном поле.

При м е р. Определяют толщину

окисной пленки на поверхности горячекатанной проволоки диаметром 6,5 мм из стали марки БСтОм по ГОСТ 14085-68, отбирают окисную пленку от 3-х участков одного мотка

(массой 500 кг) проволоки знакопеременным изгибом; затем частицы окисной пленки помещают в магнитное поле с индукцией, равной 6500 гс (применяют постоянный магнит с

козрцитивной силой 470 эрстед),чтобы частицы заняли вертикальное положение. Не снимая магнитного поля, производят заливку ориентированных частиц окисной пленки самотвердеющей пластмассой АКР- и обрабатывают застывший шлиф с частицами окисной пленки последовательным шлифованием на станке модели 3881 и полированием на станке модели

3881Б. После этого замеряют толщину окисной пленки с использованием оку лярмикрометра на микроскопе типа Эпиквант при увеличении х500,

В таблице приведена сравнительная трудоемкость изготовления шлифов для измерения толщины окисной пленки,

Похожие патенты SU723362A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОСТАТОЧНЫХ НАПРЯЖЕНИЙ 1991
  • Бякова А.В.
  • Горбач В.Г.
  • Власов А.А.
  • Грушевский Я.Л.
RU2032162C1
Способ неразрушающего контроля микроструктуры металла 2022
  • Калугин Роман Николаевич
RU2780883C1
Способ количественной оценки распределения дисперсных фаз листовых алюминиевых сплавов 2018
  • Носова Екатерина Александровна
  • Коновалов Сергей Валерьевич
  • Гречников Фёдор Васильевич
  • Луконина Наталья Викторовна
  • Храмова Марина Ивановна
RU2694212C1
Способ изготовления шлифов для металло-гРАфичЕСКОгО АНАлизА 1979
  • Тарасов Анатолий Николаевич
  • Белоус Орест Александрович
  • Запрудская Валентина Николаевна
SU834433A1
Способ отбора полуфабрикатов с низким к @ с из алюминиевых сплавов 1979
  • Телешов В.В.
SU780642A1
СПОСОБ МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКОГО АНАЛИЗА 2012
  • Адамчук Вера Константиновна
  • Балиж Кирилл Сергеевич
  • Быков Виктор Александрович
  • Добротворский Александр Мстиславович
  • Мальцев Андрей Анатольевич
  • Пушко Сергей Вячеславович
  • Сеньковский Борис Владимирович
  • Ульянов Павел Геннадьевич
  • Усачев Дмитрий Юрьевич
  • Цыганов Александр Борисович
RU2522724C2
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОСТАТОЧНЫХ НАПРЯЖЕНИЙ 2005
  • Бякова Александра Викторовна
  • Мильман Юлий Викторович
  • Власов Андрей Алексеевич
  • Чугунова Светлана Ивановна
  • Гончарова Ирина Вадимовна
  • Голубенко Алексей Анатольевич
RU2310183C2
СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ ДИНАМИЧЕСКИ ДЕФОРМИРОВАННЫХ МЕТАЛЛОВ 1993
  • Атрошенко С.А.
  • Жигачева Н.И.
  • Мещеряков Ю.И.
  • Томилин М.Г.
RU2080587C1
Газочувствительный элемент кондуктометрического сенсора для обнаружения диоксида азота и способ его получения 2023
  • Низамеев Ирек Рашатович
  • Низамеева Гулия Ривалевна
  • Лебедева Эльгина Маратовна
  • Кузнецова Виктория Вячеславовна
  • Гайнуллин Радис Рушанович
  • Синяшин Олег Герольдович
RU2819574C1
Способ изготовления металлографических шлифов 1982
  • Тарасов Анатолий Николаевич
  • Голубева Елена Борисовна
SU1073604A1

Реферат патента 1980 года Способ измерения толщины окисной пленки

Формула изобретения SU 723 362 A1

Отбор окисной пленки (образцы с окисной пленкой)

Ориентировка частиц окисной пленки в

магнитном поле

Заливка ориентированных частиц окисной

пленки (образцы с окисной пленкой)

АКР-7. .

Подготовка образца и обработка на

шлифовальном станке

Полировка на полировальном станке

Замеры толщины окисной пленки на микроскопе МИМ-7 (Эпиквант)

Общее время изготовления шлифов и замеров толщины окисной пленки

Формула изобретения

Способ измерения толщины окисной пленки, включающий отделение окисной пленки от поверхности проволоки, изготовление металлографического шлифа., измерение толщины окисной пленки, отличающийс я тем, что, с целью снижения трудоемкости изготовления металло90 15

10 120

графического шлифа, перед изготовлением металлографического шлифа проводят ориентацию частиц окисной

пленки в однородном,магнитном поле.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Жук Н.П, Курс теории коррозии

и зашиты металлов, М. , Металлургия , 1976, с. 434-435.

SU 723 362 A1

Авторы

Павлов Алексей Михайлович

Фокеев Сергей Иванович

Бухтиярова Людмила Борисовна

Даты

1980-03-25Публикация

1978-05-23Подача