Устройство для измерения размерных параметров отверстий Советский патент 1980 года по МПК G01B5/12 

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к средст вам высокоточного измерения размерных параметров отверстий. Известны устройства для измерения размерных параметров отверстий, содержащие базирующую оправку, два подвижных измерительных наконечника, два измерительных рычага и дифференциальный измеритель относительного перемещения измерительных рычагов l . Эти устройства требуют размещения внутри оправки двух измерительных рычагов, что ограничивает снизу диапазон измеряемых отверстий. Практически такие устройства пригодны для измерения отверстий с диаметрами свыше 6 мм. Кроме того, измерительные рычаги таких устройств имеют недостаточную жесткость и деформируются (скручиваются) касательными реакциями измерительных наконечников при вращении контролируемого объекта. Измерительные наконечники известного устройства не могут быть выполнены самоцентрирующими. Известны также, устройства аналогичного назначения,содержащие базиру ющую оправку с одним, либо двумя неподвижными измерительными наконечникамзЛг измерительный рычаг с подвижным измерительным наконечником, а также измеритель перемещения измерительного рычага, выполненный в виде закрепленной в корпусе шкальной измерительной головки 2 . Недостатком таких устройств является низкая точность измерения вследствие деформации оправки весом контролируемого объекта и усилием рук оператора. Цель изобретения - повышение точности . Это достигается за счет того, что измеритель перемещения измерительного рычага выполнен дифференцигильным с двумя контактными наконечниками, а второй контактный наконечник измерителя взаимодействует с базирующей оправкой близ неподвижных измерительных наконечников. На чертеже схематически изображено данное устройство. Оно содержит основание 1, с которым жестко скреплена базирующая оправка 2, несущая измерительный наконечник 3, который может быть двух