Устройство для измерения геометрических параметров зеркальных оптических элементов Советский патент 1980 года по МПК G01B11/24 G01B9/21 G02B27/28 

Описание патента на изобретение SU787892A1

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике, в частности к устройствам для измерения зеркальных оптических элементов, в том числе их и радиусов кривизны и отступлений от сферичности.

По основному авт. св. № 593070, известно устройство для измерения геометрических параметров зеркальных Q оптических элементов, содержащее последовательно расположенные источник когерентного излучения и светоделитель , систему формирования опорного пучка излучения и.систему формированияпредметного пучка излучения,включающий блок освещения и сигнальный канал, состоящий из отражателя, рассеивателя, расположенного между блоком освещения и отражателем на рас- 20 стоянии от последнего,меньшее фокусного расстояния отражателя,и регист-. ратора излучения .

Недостатком известного устройства является то, что при наблюдении ин- 25 терферограммы оптического элемента виден блик отраженного от оптического элемента и нерассеянного излучения.

Этот блик мешает наблюдению интерференционной картины, создает на оп- JQ

тическом элементе некотролируемую зо-. ну (место блика), что снижает точность измерения геометрических параметров оптических элементов.

Цель изобретения - повышение точности измерения.

Поставленная цель достигается тем, что устройство снабжено поляризующим узлом, расположенным в сигнальном канале по ходу световых лучей перед регистратором излучения, и блоком вращения плоскости поляризации, установленным в системе формирования опорного пучка излучения или в блоке освещения систеквл формирования предметного пучка излучения.

На чертеже изображена принципиальная схема предлагаемого устройства.

Устройство содержит источник 1 когерентного излучения, светоделитель 2, систему 3 формирования опорнс го пучка излучения, одним из элементов которой является блок 4 вращения плоскости поляризации, систему формирования предметного пучка излучения, включающую блок 5 освещения, сигнальный канал, состоя1т;ий из отражателя 6, рассеивателя 7, регистратора 8 излучения и поляризующего узла 9, расположенного по ходу световых лучей перед регистратором 8 излучения.

Блок 4 вращения плоскости поляризации установлен в системе 3 формирования опорного пучка излучения.

Отражатель б расположен за рессеивателем 7 на расстоянии, меньшем, чем его фсэкусное расстояние.

Поверхность рассеивателя 7 полностью перекрывает контролируемую поверхность зеркального оптического элемента, устанавливаемого в процессе измерения на место отражателя 6. в качестве ejfOKa 4 вращения плоскости поляризации используются кристалли ческие пластины, магнитно-оптические устройства и другие элементы. В качестве регистратора 8 излучения используются фотопластинки, фототермопластинки и другие светочувствительные материалы.

Устройство работает следующим образом.

Предварительно регулируют блок 4 вращения плоскости поляризации так, чтобы он вращал плоскость поляризации источника 1 когерентного излучения на Эо. Поляризующий узел 9 ориентируют таким образом, чтобы через него проходило только излучение, плоскость поляризации которого повернется на относительно плоскости ..поляризации источника 1 когерентного излучения.

: После, этого на регистраторе 8 излучения получают голограмму рассеивателя 7 с расположенными за ним от ражателем 6. Затем разворичивают отражатель б вокруг центра кривизны контролируемой оптической поверхности и наблюдают через полученную голограмму локализованную на рассеивателе 7 интерференционную картину. По виду этой интерференционной картины оценивают качество контролируемого зеркального элемента методами сдвиговой интерферометрии,

Интерференционная картина на рассеивателе 7 образуется следующим образом.

При наблюдении через голограмму видна интерференционная картина, созданная двумя волнами, которые образованы той частью излучения истопника 1, которая после отражения от светоделителя 2, прохождения блока б освещенид, рассеивателя 7 без рассеяния, отражения от отражателя б и рассеянная при обратном прохождении на рассеивателе 7 попадает на регистратор 8 излучения. Одна из этих врлн распространяется непосредственно от рассеивателя 7, а другая образуется при дифракции опорного пучка излучения на голограмме.

При рассеянии на поверхности рассеивателя 7 излучение деполяризуется и, следовательно, часть рассеянного излучения наблюдается при любой ориентации поляризуюсцего узла 9. При выбранной раннее ориентации поляризующего узла 9, отраженное от отражателя б и не рассеянное на рассеивателе 7, излучение не проходит через поляризующий узел 9, и блик, отраженного излучения, не виден при наблюдении. Для того, чтобы зарегистрировать голограмму излучения с плоскостью

5 поляризации, ортогональной плоскости поляризации источника 1 когерентного излучения, блок 4 вращения плоскости поляризации отрегулирован так, что он поворачивает плоскость поляризации

0 источника 1 на 90°.

Цель изобретения достигается и в том случае, если блок 4 вращения плоскости поляризации помещен в блок. 5 освещения, а поляризующий узел 9

отрегулирован так, чтобы пропускать излучение, поляризованное в плоскости поляризации источника 1 когерентного излучения.

Использование предлагаемого изобретения позволяет уменьшить шумы и увеличить контраст получаемых интерферограмм и тем самым увеличить точность измерений. Как показывают расчеты, наибольший эффект получен при контроле оптических элементов с малыми радиусами кривизны, так как этом случае особенно велики шумы при измерениях.

Формула изобретения

Устройство для измерения геометрических параметров зеркальных оптических элементов по авт св. № 593070,. отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения, оно снабжено поляризующим узлом, расположенным в сигнальном канале по ходу световых лучей перед регистратором излучения, и блоком вращения плоскости поляризации, установленным в

системе формирования опорного пучка излучения или в блоке освещения системы формирования предметного пучка излучения.

Источники информации, 5 принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР I 593070, кл. G 01 В 11/24, G 01 В 9/021, 1976 (прототип).

Похожие патенты SU787892A1

название год авторы номер документа
Устройство для измерения геометрическихпАРАМЕТРОВ зЕРКАльНыХ ОпТичЕСКиХэлЕМЕНТОВ 1979
  • Голиков Александр Павлович
  • Гурари Марк Лазаревич
  • Прытков Сергей Игоревич
SU847026A1
Устройство для измерения геометрических параметров зеркальных оптических элементов 1983
  • Голиков Александр Павлович
  • Гурари Марк Лазаревич
  • Прытков Сергей Игоревич
SU1100497A2
ГЕЛОГРАФИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ЗЕРКАЛЬНЫХ ОПТИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ 1986
  • Голиков А.П.
  • Гурари М.Л.
  • Прытков С.И.
SU1354967A1
Устройство для измерения геометрических параметров зеркальных оптических элементов 1986
  • Голиков Александр Павлович
  • Гурари Марк Лазаревич
  • Прытков Сергей Игоревич
SU1357704A2
Устройство для измерения геометрических параметров зеркальных оптических элементов 1976
  • Голиков Александр Павлович
  • Гурари Марк Лазаревич
SU593070A1
Устройство для измерения герметических параметров зеркальных оптических элементов 1985
  • Голиков А.П.
  • Гурари М.Л.
  • Прытков С.И.
SU1342183A2
ИЗОБРАЖАЮЩИЙ МИКРОЭЛЛИПСОМЕТР 2010
  • Индукаев Константин Васильевич
  • Осипов Павел Альбертович
RU2503922C2
ФАЗОВО-ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МОДУЛЬ 2013
  • Вишняков Геннадий Николаевич
  • Сухенко Евгений Пантелеевич
  • Левин Геннадий Генрихович
  • Беляков Владимир Константинович
  • Латушко Михаил Иванович
RU2539747C1
Устройство для измерения геометрических параметров зеркальных оптических элементов 1978
  • Гурари Марк Лазаревич
  • Голиков Александр Павлович
  • Сонин Анатолий Степанович
SU777411A1
Способ измерения рельефа поверхности 1990
  • Краснер Виталий Григорьевич
  • Темнов Сергей Николаевич
  • Хомич Владислав Юрьевич
SU1755050A1

Иллюстрации к изобретению SU 787 892 A1

Реферат патента 1980 года Устройство для измерения геометрических параметров зеркальных оптических элементов

Формула изобретения SU 787 892 A1

SU 787 892 A1

Авторы

Прытков Сергей Игоревич

Голиков Александр Павлович

Даты

1980-12-15Публикация

1979-01-03Подача