СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ДЕФЕКТОГРАММ ПРИ РАДИОГРАФИЧЕСКОМ ИЛИ РЕНТГЕНОВСКОМ КОНТРОЛЕ СВАРНЫХ СОЕДИНЕНИЙ Российский патент 1995 года по МПК G01N23/02 

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества металлических изделий и может быть использовано для дефектоскопического контроля стыков стальных трубопроводов и их соединительных деталей с применением рентгеновского или гамма-излучения.

Наиболее близким является способ получения дефектограмм при контроле качества сварных соединений путем просвечивания их рентгеновским и гамма-излучением при совместном экспонировании через них радиографических галогенсеребряных пленок, находящихся в контакте с усиливающим экраном с последующей их химико-фотографической обработкой.

В известном способе для регистрации дефектов сварных соединений используется радиографическая пленка, состоящая из прозрачной подложки, на которую с обеих сторон нанесена иодобромсеребряная химически сенсибилизированная желатиновая эмульсия, и усиливающий свинцовый экран, находящийся в контакте с эмульсионным слоем за рентгеновской пленкой и преобразующий высокоэнергетическое ионизирующее излучение во вторичные электроны более низкой энергии, которые и экспонируют эмульсионные слои, образуя в них скрытое изображение. Экспонирование радиографической пленки с двухсторонними эмульсионными слоями может проводиться с любой стороны пленки, а время экспозиции определяется опытным путем в зависимости от значения оптической плотности изображений на дефектограмме, полученной после химико-фотографической обработки экспонированной радиографической пленки в серийных проявителях, например "Рентген-2".

При этом должна достигаться возможно более высокая величина радиографической чувствительности дефектограмм (передача минимальных по размеру дефектов), определяемая с помощью канавочных или проволочных эталонов чувствительности в соответствии с ГОСТ 7512-82.

Недостаток известного способа состоит в том, что в случае применения двухсторонней эмульсионной пленки на дефектограмме передаются не только дефекты сварки объекта, но и дефекты поверхности экрана, колебаний ее толщины, получается неравномерная оптическая плотность, т.е. надежность радиографического контроля существенно снижается.

Способ получения дефектограмм при радиографическом контроле сварных соединений заключается в совместном экспонировании рентгеновским или гамма-излучением через контролируемое изделие радиографической пленки и усиливающего экрана и последующей химико-фотографической обработке экспонированной пленки. Используют при этом радиографическую пленку с односторонним эмульсионным слоем и контактирующий с ним свинцовый усиливающий экран, а экспонирование осуществляют со стороны подложки пленки, причем продолжительность экспонирования устанавливают по величине оптической плотности радиограммы на участке, соответствующем гладкой стенке контролируемого изделия и достигаемый после химико-фотографической обработки экспонированной пленки значения 2,3-2,5 Б.

Сравнительные результаты проведенных испытаний показали, что предлагаемый способ получения дефектограмм при радиографическом контроле сварных соединений, заключающийся в применении радиографической пленки с одним эмульсионным слоем и контактирующим с ним усиливающим металлическим экраном, расположенными по отношению к просвечиваемому изделию и источнику облучения таким образом, что экспонирование осуществляется со стороны подложки пленки при заданных условиях выбора экспозиции обеспечивает повышение радиографической чувствительности и высокую резкость дефектограмм, что повышает надежность радиографического контроля.

Данный способ создает условия, при которых экспонирование эмульсионного слоя происходит отраженным от экрана потоком вторичных электронов, устраняется передача на дефектограмму неравномерности толщины металлического экрана и его дефектов, чем обеспечивается повышение радиографической чувствительности на 14-15%.

Числовые значения величины оптической плотности изображения объекта дефектограммы и размер минимальных дефектов, передаваемых на ней определены экспериментально и обусловлены требованиями, предъявляемыми к качеству дефектограмм.

Предлагаемый способ получения дефектограмм исключает передачу на получаемых изображениях колебания толщины используемого свинцового экрана, а также поверхностных его царапин, поскольку экспонирование эмульсионного слоя радиографической пленки осуществляется потоком вторичных электронов, отражаемых от поверхности экрана.

П р и м е р 1. Для получения дефектограмм применяют радиографическую пленку РТД-2 с односторонным эмульсионным слоем, содержащим 10-11 г/м² серебра, полученным нанесением эмульсии тип РН-2, и свинцовый экран толщиной 50 мкм. Экспонирование осуществляют гамма-излучением от источника Иридий-192, мощностью около 50 Кюpи через стальную трубу, также диаметром 1420 мм со сварным стыком и толщиной стенок 20 мм, располагая радиографическую пленку РТД-2 таким образом, что гамма-излучение вначале проходит через пленку со стороны основы и, попадая на поверхность свинцового экрана, создает поток отраженных вторичных электронов, которые и экспонируют эмульсионный слой. Продолжительность просвечивания подбирают таким образом, что оптическая плотность дефектограммы после обработки в режиме согласно примеру составляла D = =2,30-2,50. Результаты сравнительной оценки получаемых дефектограмм приведены в таблице.

П р и м е р 2. При получении дефектограмм применяют радиографическую пленку РТД-2, имеющую один эмульсионный слой, полученный нанесением эмульсии РН-2 с рН 7,0 и рВг = 2,7-2,9 при нанесении эмульсии из расчета на содержание серебра в слое 10-11 г/м² без применения оптических сенсибилизаторов. Просвечивание стального стыка сварной трубы диаметром 1420 мм и толщиной стенки 20 мм проводят с применением источника "Иридий-192". При этом пленку РТД-2 с одним эмульсионным слоем в светозащитной упаковке располагают на участке контролируемого стыка таким образом, что гамма-излучение вначале проходит через основу пленки и вызывает поток отраженных от свинцового экрана вторичных электронов, которые и экспонируют эмульсионный слой.

Экспонированную пленку РТД-2 подвергают диффузионной химико-фотографической обработке.

Экспонированную пленку контактируют с приемно-фиксирующей пленкой при нанесении между ними слоя обрабатывающей вязкой композиции.

Составы приемно-фиксирующей пленки и обрабатывающей вязкой композиции приведены ниже.

А. Изготовление приемно-фиксирующей пленки.

На серийную триацетилцеллюлозную подслоированную основу тип ОТБ-14 наносят последовательно два гидрофильных фиксирующих слоя поливом раствора желатины, содержащих тиосульфат натрия, и дополнительно адгезионного слоя.

Нижний фиксирующий слой наносят поливом раствора, содержащего в 1 л следующие ингредиенты:
Желатина высоко- вязкая, фото 115,0 г Тиосульфат натрия 50,0 г Флороглюцин 0,42 мл Уксуснокислый хром 0,4 г Глицерин 12,0 мл Этиленгликоль 4,0 мл Мочевина 7,0 Смачиватель СВ-133 3,0 мл
Раствор наносят в количестве 320-340 мл на 1,0 м² триацетатной основы и сушат при 37-40^оС.

Верхний фиксирующий слой наносят поливом на нижний фиксирующий слой раствора, содержащего в 1 л:
Желатина высоко- вязкая, фото 70,0 г Тиосульфат натрия 43,0 г Формальдегид 7,2 г Уксуснокислый хром 0,2 г Глицерин 5,0 мл Этиленгликоль 2,0 мл Мочевина 3,0 г Смачиватель СВ-133 0,8 мл
Раствор наносят в количестве 170-190 мл на 1,0 м² и сушат при 37-39^оС.

Адгезионный слой наносят на фиксирующий гидрофильный слой поливом раствора, содержащего в 1 л: Желатина высо- ковязкая, фото 0,8
Натриевая соль сопо-
лимера метилмета-
крилата и метакри-
ловой кислоты со сред-
ней молекулярной мас- сой 700-900 тыс. 0,32 мл Смачиватель СВ-133 1,08 мл Смачиватель СВ-103П 2,8 мл
Раствор наносят в количестве 70-90 мл на 1,0 м² и сушат при 36-38^оС.

Б. Изготовление высоковязкой проявляющей композиции.

Проявляющую высоковязкую композицию изготовляют на основе натриевой соли сополимера метилметакрилата и метакриловой кислоты синтезированного при молекулярном соотношении в нем мономеров 1:1 со средней моль-массой 1100-1200 тыс. при содержании в 1 кг композиции следующих ингредиентов, г:
Натриевая соль сопо-
лимера метилмета-
крилата и метакри- ловой кислоты М-11-РГ 70,0 Гидрохинон 24,8
4-Метил-1-фенил- пиразолидон-3 2,6
Золь сульфида кадмия 1,73 Натрий сернистокислый 34 Hатрий едкий 16,8
Диффузионную химико-фотографическую обработку дефектограмм на пленке РТД-2 проводят при 25^оС, нанося при контактировании экспонированной пленки с приемно-фиксирующей пленкой слой проявляющей композиции толщиной 240-260 мкм. Сконтактированные материалы выдерживают в течение 14 мин и проявленную и отфиксированную дефектограмму отделяют от слоя вязкой композиции, который остается на приемно-фиксирующей пленке, удерживаемый адгезионным слоем.

Результаты приведены в таблице.

Сущность изобретения: способ получения дефектограмм при радиографическом контроле сварных соединений заключается в том, что совместно экспонируют рентгеновским или гамма-излучением через контролируемое изделие радиографическую пленку и усиливающий экран и проводят последующую химико-фотографическую обработку экспонированной пленки. Используют радиографическую пленку с односторонним эмульсионным слоем и одним контактирующим с ним усиливающим свинцовым экраном. Экспонирование проводят со стороны подложки пленки, причем продолжительность экспонирования устанавливают по величине оптической плотности радиограмм на участке, соответствующим гладкой стенке контролируемого изделия, достигаемой после химико-фотографической обработки экспонированной пленки значения 2,3 - 2,5 Б. 1 табл.

СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ДЕФЕКТОГРАММ ПРИ РАДИОГРАФИЧЕСКОМ ИЛИ РЕНТГЕНОВСКОМ КОНТРОЛЕ СВАРНЫХ СОЕДИНЕНИЙ путем совместного экспонирования рентгеновским или γ-излучением через контролируемое изделие радиографической пленки и расположенного за ней усиливающего свинцового экрана и последующей химико-фотографической обработки экспонированной пленки, отличающийся тем, что используют радиографическую пленку с односторонним эмульсионным слоем, а экспонирование осуществляют со стороны подложки пленки.