Способ определения глубины дефекта при радиографии изделий Советский патент 1975 года по МПК G01N23/04 G01N23/18 

1

Изобретение относится к .неразрушающиМ методам контроля качества материалов и изделий и может использоваться для определения глубины дефекта при радиографии изделий.,

Известны способы определения глубины дефекта в материале или изделии, основанные на сравнении интенси&ности почернения радиографической пленки в участке, соответствующем месту расположения дефекта, с ийтенсивностью почернения радиографической пленки дефектометра тгутем визуальной оценки или фотометрии. Однако если размер дефекта составляет доли миллиметра, а неправильная его фор1ма «е позволяет использовать метод фото.мет1рирова«ия из-за неоднородной ллотностп изображения его на радиографической пленке, иримеиение известных способов становится затруднительным, а иногда невозможным.

Целью Изобретения является иовыше-ниеобъективиости и точности определе.ния глубины дефекта, получение возможности измерения дефекта, имеющего неправильную форМу и малый размер (манее 1 мм).

Для этого по предлагаемому способу радио-графирование производят многократно .с последовательно уменьшаюш,Имися экспозициями до Исчезно.ве1Ния изображения ,на радиографической Пленке либо дефекта, либо каиавки дефектоМетра.

В результате подбирается такая экспозиция, когда вследствие нелинейного характера области недодержек характеристической кривой коэффициент контрастности изображения либо канавок дефектометра, либо дефекта на рентгенограмме равен нулю и изображение либо канавки дефектометра, либо дефекта (в зависимости от их величины в направлении пучка) .апивается-с фоном (исчезает).

Таким образом, если на выбранной рентгеиограмме сохранилось только изображение канавоК дефектометра, можно заключить, что размер дефекта в направлении пучка меньше глубины канавки дефекто-метра, « наоборот. В частном случае, ири равенстве размеров дефекта и канавок дефектометра исчезают оба изображения.

Определение размера дефекта в направлении иучаса, например, в металле тонкостенного цилиндра производится следующим образом.

На дефектный участок -цилиндра со стороны, противоположной источнику излучения, устанавливают кассету с рентгеновской пленкой.

Внутрь цилиндра рядом с дефек ньш участ-. ком укладывают свинцовую пластину толщиной около 2 мм, а сверху кассету с рентгеновской пленкой и дефбктометр, представляющий металлическую пластинку толщиной, равной толщине материала просвечиваемого участка, с нанесевной на лей прямоугольной ка:на1вкой с определенной глубиной. Внутрь цилиндра под дефектным участком и дефектометром устанавливают источник излучения. После этого (производят серию операций просвеЧивания, каждый-раз с другими .кассетами. Первая экспозиция выбирается в два раза меньшей, -чем экспозиция 1стандартного режима просвечивания. Затем экопозиции .выбираются в два раза меньше последующих. Количество просвечиваний, как правило, не превышает раз.

Экспонированяые пленки должны обязательно ПОДве(ргаться одновременной обработке

(проявление, .фиксирование, промьгвка, сушка).

П,ре.дмет изобретения

Способ определения глубины дефекта .при радиографии изделий, основанный на совместНОЛ1 радиографироваяии изделия и дефектометра, с 1последую|щим сравнением плотности почернения изображения дефекта и канаво.к дефектометра на радиографической пленке, отличаюш;ийся тем, что, с целью повышения точности определения глубины дефектов малого размера и неправильной .фор,мы, радиограф ирование производят М(ногократ1но с последовательно уменьшающимися экспозициями до исчезновения изображ.ения на радиографической пленке либо дефекта, либо канайки дефектометра.