Способ рентгеновской интерферометрии Советский патент 1981 года по МПК G01N23/20 

Описание патента на изобретение SU866461A1

Изобретение относится к физике рентгеновских лучей, а более конкрет но к рентгеновской интерферометрии, которая может применяться для исследования структурного совершенства мо нокристашлических материалов. Известен способ рентгеновской интерферометрии, заключаняцийся в том, что рентгеновский пучсж направляют на многоблочный монокристаллический интерферометр, состоящий.из централь ного монокристалла, на который падает первичный пучок, н четьфех монокристаллов, расположенных по углам квадрата, причем отражающие плоскости всех монокристаллов параллельны 1. Наиболее близким техническим реще нием к предлагаемому является способ рентгеновской интерферометрии, з ключающийся в том, что пучок рентгеневского излучения направляют под углом Вульфа-Врегга на трехблочный ивуерферометр, на выходе которого регистрируют интерференционную картину 2. Однако известные способы не позволяют исследовать угловую когерентность излучения рентгеновского источника, так как в известных способах первичный пучок выходит из источника под одним и тем же углом и, претерпевая многоволновое рассея-г ние на первом блоке, расцгтляется на два пучка, которые после прохождения разных путей, налагаются друг на друга на задней поверхности интерферометра, т.е. интерференционная картина получается между частями одного и того же единственного пучка, выходящего из источника под одним и тем же утлом. Цель изобретения заключается в расширении функциональных возможностей за счет обеспечения исследования угловой когерентности излучения рентгеновского источника. 3 Поставленная цель достигается тем, что в способе рентгеновской интерферометрии, заключающемся в том, что пучок рентгеновского излучения направ ляют под углом Вульфа-Брегга на . трехблочный интерферометр, на выходе которого регистрируют интерференционную картину, из расходящегося пучка источника с помощью двухщелевого экрана выделяют два пучка и перемещением экрана задают угол между выделе ньтми пучками при сохранении равенства расстояний между источником и первым блоком интерферометра и между последним и третьим блоком интерферометр На чертеже приведена схема устройства для реализаций способа. Расстояния между первым блоком CJ интерферометра и источником Б, а такж между первым d и третьим с сблоками интерферометра равны. Также равны рас стояния между первым Q и вторым В и вторым В и третьим С блоками трехблоч ного интерферометра. Ход лучей в интерферометре имеет следукмций вид. При помощи экрана Э, непрозрачного для рентгеновских лучей и имеющего две щели, от источника О выделяют два пучка ОА и ОВ, составляющих друг относительно друга угол 20, где , 9 угол Вульфа-Брегга, причем угол между пучкгми задают расстоянием между экр ном Э и источником О. Пучки ОА и ОВ падают на первый блок О интерферометра под углами отражения по Лауэ, где каждый из них расщепляется на два пучка ОА на АС и AD, а ОВ на БЕ и BF. Достигнув второго блока d интерферометра, каждый из вновь полученных пучков АС и АО, ЕЕ и BF также ра щепляется на два, и в результате получается восемь пучков: СК, CL, DL, ОМ, ЕМ, EN, FN, FP, Так как расстояния между тремя блоками интерферометра оданаковые, т на третьем блоке С в точке L пучки CL и DL,a в точке N пучки EN и FN 1еложатся друг на друга, т.е. получаются две интерференционные картины от двух условных интерферометров АСЮАи BENFB. В то же время, так как первый бло d интерферометра находится точно в середине расстояния между источником и третьим блоком С, то пучки DM и ЕМ наложатся друг на друга в точке М, т.е. получается третья интерференционная картина от условного интерфе рометра ОАМВО. В первых двух условных интерферометрах интерфёренционньт картины соответственно в точках L и N не -зависят от величины угла 20, так как независимо от в пучки АС и BE всегда когерентны соответственно с пучками АО и BF. Между тем, в точке М интерференционная картина получится только в том случае, если пучки ОА и ОВ когерентны друг относительно друга. Таким образом, интерференционная . картина от условного; интерферометра ОАМВО свидетельствует о когег рентности пучков ОА и ОВ. Изобретение позволяет уточнить представления о пространственном распределении интенсивности одного акта испускания характеристического рентгеновского излучения, что в свою очередь дает возможность однозначной интерпретации рентгеновских интерференционных картин. При этом, однозначная интерпретация рентгенодифракционгалх изображений дефектов в кристаллах позволяет точно определить вид, месторасположение и плотность распределения дефектов в монокристаллах. Формула изобретения Способ рентгеновской интерферометрии, заключающийся в том, что пучок рентгеновского излучения направляют под углом Вульфа-Брегга на трехблочный интерферометр, на выходе которого регистрируют интерференционную картину, отличающийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей за счет обеспечения исследования угловой когерентности излучения рентгеновского источника, из расходящегося пучка источника с псмощью двухщелевого экрана выделяют два пучка и перемещением экрана задают угол между выделенными пучками при сохранении равенства расстояний между источником и первым блоком интерферометра и между первым и третьим блоком интерферометра. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1,Bezirganyan. А Three-Wave, Method for the Measuremeht of the Length of the Wave-Train of X-Kay Radiation. Physfca Status 5оПП(а), 40, k. 77, 1977. 2.Иверонова В.И., Рввкевич Г.П., Теория рассеяния рентгеновских лучей. М., Изд. МГУ, 1978, с. 262265 (прототип).

Похожие патенты SU866461A1

название год авторы номер документа
Способ определения однородности изгиба по высоте монокристаллических пластин 1980
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Папоян Аргам Аристакесович
SU935758A1
Способ исследования многоволно-ВОгО РАССЕяНия РЕНТгЕНОВСКиХ лучЕйНА МОНОКРиСТАллЕ 1979
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Габриелян Рубен Цолакович
SU811122A1
Способ получения линейно поляризованного рентгеновского излучения 1983
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Аветисян Гаяне Гарушевна
SU1100641A1
Способ определения тонких структурных изменений в растянутых полимерах 1987
  • Мартиросян Аида Айказовна
  • Багдасарян Рубен Исраелович
  • Безирганян Петрос Акопович
SU1413493A1
Рентгеноинтерферометрический способ исследования дилатационных несовершенств монокристаллов 1989
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Безирганян Сирануш Еноковна
  • Абоян Арсен Оганесович
  • Хзарджян Андраник Александрович
SU1679313A1
Способ дифракционной микрорентгено-гРАфии МОНОКРиСТАллОВ 1978
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Дрмеян Генрик Рубенович
SU817552A2
Способ исследования структурного совершенства монокристаллов 1980
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Кочарян Армен Карленович
SU957077A1
Рентгеноинтерферометрический способ определения искажений атомной решетки монокристалла 1983
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Асланян Вардан Григорьевич
SU1117503A1
Рентгеновский интерферометр 1978
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Дрмеян Генрик Рубенович
  • Эйрамджян Фердинанд Оганесович
SU720350A1
Рентгенографический способ исследования структурного совершенства монокристаллов (его варианты) 1983
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Заргарян Ерджаник Григорьевич
  • Асланян Вардан Григорьевич
SU1133520A1

Иллюстрации к изобретению SU 866 461 A1

Реферат патента 1981 года Способ рентгеновской интерферометрии

Формула изобретения SU 866 461 A1

SU 866 461 A1

Авторы

Безирганян Петрос Акопович

Безирганян Акоп Петросович

Даты

1981-09-23Публикация

1979-11-20Подача