Изобретение относится к физике рентгеновских лучей, а более конкрет но к рентгеновской интерферометрии, которая может применяться для исследования структурного совершенства мо нокристашлических материалов. Известен способ рентгеновской интерферометрии, заключаняцийся в том, что рентгеновский пучсж направляют на многоблочный монокристаллический интерферометр, состоящий.из централь ного монокристалла, на который падает первичный пучок, н четьфех монокристаллов, расположенных по углам квадрата, причем отражающие плоскости всех монокристаллов параллельны 1. Наиболее близким техническим реще нием к предлагаемому является способ рентгеновской интерферометрии, з ключающийся в том, что пучок рентгеневского излучения направляют под углом Вульфа-Врегга на трехблочный ивуерферометр, на выходе которого регистрируют интерференционную картину 2. Однако известные способы не позволяют исследовать угловую когерентность излучения рентгеновского источника, так как в известных способах первичный пучок выходит из источника под одним и тем же углом и, претерпевая многоволновое рассея-г ние на первом блоке, расцгтляется на два пучка, которые после прохождения разных путей, налагаются друг на друга на задней поверхности интерферометра, т.е. интерференционная картина получается между частями одного и того же единственного пучка, выходящего из источника под одним и тем же утлом. Цель изобретения заключается в расширении функциональных возможностей за счет обеспечения исследования угловой когерентности излучения рентгеновского источника. 3 Поставленная цель достигается тем, что в способе рентгеновской интерферометрии, заключающемся в том, что пучок рентгеновского излучения направ ляют под углом Вульфа-Брегга на . трехблочный интерферометр, на выходе которого регистрируют интерференционную картину, из расходящегося пучка источника с помощью двухщелевого экрана выделяют два пучка и перемещением экрана задают угол между выделе ньтми пучками при сохранении равенства расстояний между источником и первым блоком интерферометра и между последним и третьим блоком интерферометр На чертеже приведена схема устройства для реализаций способа. Расстояния между первым блоком CJ интерферометра и источником Б, а такж между первым d и третьим с сблоками интерферометра равны. Также равны рас стояния между первым Q и вторым В и вторым В и третьим С блоками трехблоч ного интерферометра. Ход лучей в интерферометре имеет следукмций вид. При помощи экрана Э, непрозрачного для рентгеновских лучей и имеющего две щели, от источника О выделяют два пучка ОА и ОВ, составляющих друг относительно друга угол 20, где , 9 угол Вульфа-Брегга, причем угол между пучкгми задают расстоянием между экр ном Э и источником О. Пучки ОА и ОВ падают на первый блок О интерферометра под углами отражения по Лауэ, где каждый из них расщепляется на два пучка ОА на АС и AD, а ОВ на БЕ и BF. Достигнув второго блока d интерферометра, каждый из вновь полученных пучков АС и АО, ЕЕ и BF также ра щепляется на два, и в результате получается восемь пучков: СК, CL, DL, ОМ, ЕМ, EN, FN, FP, Так как расстояния между тремя блоками интерферометра оданаковые, т на третьем блоке С в точке L пучки CL и DL,a в точке N пучки EN и FN 1еложатся друг на друга, т.е. получаются две интерференционные картины от двух условных интерферометров АСЮАи BENFB. В то же время, так как первый бло d интерферометра находится точно в середине расстояния между источником и третьим блоком С, то пучки DM и ЕМ наложатся друг на друга в точке М, т.е. получается третья интерференционная картина от условного интерфе рометра ОАМВО. В первых двух условных интерферометрах интерфёренционньт картины соответственно в точках L и N не -зависят от величины угла 20, так как независимо от в пучки АС и BE всегда когерентны соответственно с пучками АО и BF. Между тем, в точке М интерференционная картина получится только в том случае, если пучки ОА и ОВ когерентны друг относительно друга. Таким образом, интерференционная . картина от условного; интерферометра ОАМВО свидетельствует о когег рентности пучков ОА и ОВ. Изобретение позволяет уточнить представления о пространственном распределении интенсивности одного акта испускания характеристического рентгеновского излучения, что в свою очередь дает возможность однозначной интерпретации рентгеновских интерференционных картин. При этом, однозначная интерпретация рентгенодифракционгалх изображений дефектов в кристаллах позволяет точно определить вид, месторасположение и плотность распределения дефектов в монокристаллах. Формула изобретения Способ рентгеновской интерферометрии, заключающийся в том, что пучок рентгеновского излучения направляют под углом Вульфа-Брегга на трехблочный интерферометр, на выходе которого регистрируют интерференционную картину, отличающийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей за счет обеспечения исследования угловой когерентности излучения рентгеновского источника, из расходящегося пучка источника с псмощью двухщелевого экрана выделяют два пучка и перемещением экрана задают угол между выделенными пучками при сохранении равенства расстояний между источником и первым блоком интерферометра и между первым и третьим блоком интерферометра. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1,Bezirganyan. А Three-Wave, Method for the Measuremeht of the Length of the Wave-Train of X-Kay Radiation. Physfca Status 5оПП(а), 40, k. 77, 1977. 2.Иверонова В.И., Рввкевич Г.П., Теория рассеяния рентгеновских лучей. М., Изд. МГУ, 1978, с. 262265 (прототип).
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ определения однородности изгиба по высоте монокристаллических пластин | 1980 |
|
SU935758A1 |
Способ исследования многоволно-ВОгО РАССЕяНия РЕНТгЕНОВСКиХ лучЕйНА МОНОКРиСТАллЕ | 1979 |
|
SU811122A1 |
Способ получения линейно поляризованного рентгеновского излучения | 1983 |
|
SU1100641A1 |
Способ определения тонких структурных изменений в растянутых полимерах | 1987 |
|
SU1413493A1 |
Рентгеноинтерферометрический способ исследования дилатационных несовершенств монокристаллов | 1989 |
|
SU1679313A1 |
Способ дифракционной микрорентгено-гРАфии МОНОКРиСТАллОВ | 1978 |
|
SU817552A2 |
Способ исследования структурного совершенства монокристаллов | 1980 |
|
SU957077A1 |
Рентгеноинтерферометрический способ определения искажений атомной решетки монокристалла | 1983 |
|
SU1117503A1 |
Рентгеновский интерферометр | 1978 |
|
SU720350A1 |
Рентгенографический способ исследования структурного совершенства монокристаллов (его варианты) | 1983 |
|
SU1133520A1 |
Авторы
Даты
1981-09-23—Публикация
1979-11-20—Подача