Способ контроля глубины закалки поверхности образцов из легированных сталей Советский патент 1981 года по МПК G01N27/90 

(54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ГЛУБИНЫ ЗАКАЛКИ ПОВЕРХНОСТИ ОБРАЗЦОВ ИЗ ЛЕГИРОВАННЫХ СТАЛЕЙ

Изобретение относится к неразрушaIoвдe 4y контролю и может быть исполь зованодля контроля поверхностного упрочнения легированных сталей после химико-термической обработки. Известен электромагнитный способ контроля глубины упрочненного слоя и его Твердости по Мс1гнитным парамет рам изделий из легированных сталей Недостатком известного способа является невозможность контроля с его помощью узкого класса сталей. Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является известный способ контроля глубины закалки поверхности образцов из легированных сталей, заключающийся в том, что образец намагничивают переменным магнитным полем и измеряют амплитуду и фазу гармоник ЭДС втори ного сигнала, по которым судят о контролируемом параметре ,2}. Недостатком известного способа я ляется низкая точность контроля Образцов из сталей, прошедших сложную химико-термическую обработку. Цель изобретения - повышение точ ности контроля. Поставленная цель достигается те что измеряют амплитуду и фазу гармо ник ЭДС на двух близких частотах,находят разности амплитуд и фаз соответствующих гармоник, по которым oni деляют глубину закалки поверхности образцов. На фиг. 1 приведены зависимости относительных значений амплитуды f и фазы Ч первой гармоники ЭДС от частоты для образцов с различной глубиной j закалки; на фиг. 2 - блок-схема устройства, реализующего способ контроля. Значения о и Yofсоответствуют образцу с наибольшей глубиной OQ 7 . С уменьшением глубины упрочненного слоя крутизна зависимостей 6у (f) и , 414 (f) увеличивается. Для образцов с одинаковой глубиной .g и V.f могут отличаться, но имеют одинаковый наклон. Аналогичные зависимости наблюдаются и для третьей гармоники. Таким образом, величина производной/dCf/tJf/ и } для образцов с большей глубиной упрочненного слоя меньше, чем для образцов с меньшей глубиной. При этом положение образца в катушке не оказывает влияния на результат измерения. Непосредственного измерения производных можно избежать, если восполь