Способ дефектоскопии магнитных изделий Советский патент 1981 года по МПК G01N29/04 

Изобретение относится к неразруНШ щему контролю и может быть использова но для выявления дефектов в изделиях из магнитных материалов. ИзвеЬтен способ дефектоскопии магнитных изделий, заключающийся в регистрации статических магнитных полей рассеяйия от дефектов 1. Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является способ дефектоскопии магнитных изделий, основанный на модуляции статических магнитных полей рассеяния ультразвуке. Он заключается в том, что изделие намагничивают, возбуждают ультразвуковые колебания и регистрируют электромагнитные поля рассеяния от дефектов Г2}. Недостатком данных способов является невозможность выявления внутренних дефектов. Цель изобретения - расширение функциональных возможностей. Указанная цель достигается тем, что возбуждают ультразвуковые колебания с вектором поляризации нормальньм к поверхности изделия над дефектной зоной, а регистрацию электромагнитного поля рассеяния ведут при напряженности поля подмагнинивания, соответствукмцей максимуму магнитоупругой связи. На фиг. 1 представлен вариант реализации данного способа с помощью поверхностной волны; на фиг. 2 - то же, с помощью зигзагообразно распространяющейся объемной поперечной волны. I На схемах реализации способа (фиг. 1 и 2) показаны контролируемое изде.лйе 1, преобразователь 2 для излучения ультразвуковых колебаний в контролируемом изделии, возбуждающий генератор 3, усилитель 4 для усиле;ния регистрируемых приемником 5 элек:тр.омагнитных полей и индикатор 6. Способ заключается в-следующем. При намагничивании контролируемых изделий на гранях внутренних дефектоб формируются эффективные вторичные зарацы, которые, в свою очередь, формируют вторичные магнитные колебания, излучаемые преобразователем, распространяясь в контролируемом изделии, производят акустическую модуляцию по верхностных вторичных зарядов, об/словлеиную магнитострикцией и приводящую к возникновению ЭJ Ieктpoм$гиитньк полей рассеяния, которые регистрируются приемником, усиливаются усилителем и поступают на индикатор. Такая акустическая модуляция обеспечивается ультразвуковыми колебаниям с определенной поляризацией, при кото рой вектор поляризации нормален к поверхности изделия над дефектной 3OHoi т.е. в ультразвуковой волне содержится нормальная к поверхности изделия компонента смещения. С другой стороны коэффициент магни тоупругой связи, определяющий эффективность акустической модуляции магнитных зарядов, экстремально зависит от величины напряженности магнитного поля, ч1о обуславливает необходимости регистрации электромагнитных полей рассеяния при напряженности поля подмагничивания, соответствующей максимуму магнитоупругой связи. На фиг, 1 показано выявление внутреннего дефекта с помощью поверхностной волны, в которой вектор смещения имеет как касательную, так и нормальную компоненту, с помощью которой осуществляется модуляция вторичных магнитных зарядов. На фиг. 2 показано выявление дефек та с помощью зигзагообразно распростра няющейся объемной поперечной волны. Угол ввода данной волны в изделие выбран таким образом, чтобы у вектора смещения была значительная нормаль ная к поверхности изделия компонента, При данном варианте контроля расстояния между излучателем 2 и приемнике 5 фиксировано, и электромагнитные поля рассеяния дефекта регистрируются в тот момент, когда дефектная зона в процессе перемещения изделия относительно преобразователей оказьшается под приемником 5. Формула изобретения Способ дефектоскопии магнитных изделий, заключсшяцийся в тем, что изделие намагничивают, возбуждают ультразвуковые колебания и регистрируют электромагнитные поля рассеяния от дефектов, отличающийся тем, что, с целью расширения :функциональных возможностей, возбуждают ультразвуковые колебания с векторсш поляризации нормальным к поверхности изделия нгщ ; дефектной зоной, а регистрацию электромагнитного поля рассеяния ведут при напряженности поля подмагничивания, соответствующей максимуму магнито-упругой связи. Источники информации,, принятые во внимание пви экспертизе 1.Зацепин Н.Н., Щербинин В.Е. Дефектоскопия, 1966, № 5, с. 59-65. 2.Патент Франции 2., кл. G01N 29/00,,, 1971.